“河村尚志”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果8个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]校准系统和校准方法-CN201910333808.4有效
发明人： 河村尚志;布施匡章 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2019-04-24 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：提供一种校准系统和校准方法，其即使在相对于从被测量天线的多个天线元件发送的无线信号的波长而言天线元件间的间隔窄的情况下，也能够测量被测量天线的电磁波辐射面中的无线信号的振幅和相位。该校准系统具有：天线控制单元(16)，其从被测量天线(100)所具有的多个天线元件之中选择并激励一组天线元件后，选择并激励与一组天线元件不同的一组天线元件；以及探针天线(12)，其在每次切换通过天线控制单元(16)选择的一组天线元件时，在被测量天线(100)的近场区域的规定的测量平面P内设定的多个测量位置处，接收从一组天线元件发送的无线信号。
校准系统方法

[发明专利]天线测量系统以及天线测量方法-CN201811508841.8有效
发明人： 河村尚志;山本绫;待鸟诚范 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2021-03-02 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供一种对由与RF电路成为一体的被测天线发送的无线信号的电磁波，能够精度良好地测量在被测天线的近场区域的测量平面内相邻的测量位置上的相位差的天线测量系统以及天线测量方法。构成为测量平面上的第1探针天线(12c1)与第2探针天线(12l)的中心间的距离相比测量平面上的第1探针天线(12c1)与第3探针天线(12r)的中心间的距离长在水平方向上相邻的2个测量位置的间隔d1，测量平面上的第4探针天线(12c2)与第5探针天线(12t)的中心间的距离相比测量平面上的第4探针天线(12c2)与第6探针天线(12b)的中心间的距离长在垂直方向上相邻的2个测量位置的间隔d2。
天线测量系统以及测量方法

[发明专利]天线测量系统以及天线测量方法-CN201710343101.2有效
发明人：桧谷绫;河村尚志;待鸟诚范 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2017-05-16 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供无需对从与RF电路成为一体的被测天线发射的无线信号的电磁波供给来自被测天线的基准信号，就能够在近场测量相位和振幅的天线测量系统以及天线测量方法。本发明的天线测量系统具备：多个探针天线(12)，在配置于被测天线(100)的近场区域的测量平面(P)内的多个测量位置接收无线信号；探针扫描构件(13)，维持多个探针天线(12)的相对位置的同时，使各探针天线(12)向多个测量位置移动；振幅相位差测量部(16)，每当各探针天线(12)移动到测量位置时，测量无线信号间的相位差，并且测量无线信号的振幅；以及相位计算部(18)，由通过振幅相位差测量部(16)测量的相位差计算各测量位置上的无线信号的相位。
天线测量系统以及测量方法

[发明专利]Massive-MIMO天线测量装置及其指向性测量方法-CN201710060810.X有效
发明人： 河村尚志 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2017-01-25 - 公布日： 2019-05-28 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：提供Massive‑MIMO天线测量装置及其指向性测量方法。波束方向检测构件(33)以被测天线(1)的电磁波辐射面(1a)朝向正对测量平面(P)的基准方向的状态使探针天线(12)进行大致扫描，根据其接收信号检测被测天线(1)辐射的波束的方向。天线方向变更构件(34)变更被测天线(1)的方向，以使检测的波束的方向朝向测量平面(P)中央。在该状态下，临时指向性计算构件(35)使探针天线(1)对测量平面整体进行精密扫描，根据其接收信号，求出被测天线(1)的临时指向性。指向性校正构件(36)被测对求出的临时指向性进行相当于被测天线(1)方向的角度的变更量的校正，求出被测天线(1)朝向基准方向时的远场指向性。
massive mimo 天线测量装置及其指向测量方法

[发明专利]用于测定辐射功率的方法、辐射功率的测定用耦合器以及用于测定辐射功率的装置-CN200980116649.7无效
发明人：手代木扶;桧谷绫;河村尚志;佐久间彻 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2009-05-08 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：使被测物(1)的电波的辐射中心与在将椭圆以通过其两个焦点的轴线为中心旋转而得到的椭圆球状中由金属的壁面(11)所包围的封闭空间(12)的一个焦点(F1)的附近位置一致，使从被测物(1)辐射的电波在壁面反射而集中在配置于另一个焦点(F2)的位置的接收天线(15)，从而根据接收天线(15)的输出信号而测定被测物(1)的辐射功率的测定方法中，使被测物(1)和接收天线(15)中的至少一个沿着通过两个焦点的轴线移动，将接收天线(15)的输出信号功率设为最大，并将其作为第1测定值来存储，使代替被测物(1)而设置的基准天线(160)和接收天线(15)与上述同样地移动，从而利用在接收天线(15)的输出信号功率成为最大时得到的测定值和校正数据计算被测物(1)的总辐射功率。
用于测定辐射功率方法耦合器以及装置

[发明专利]发射功率测定方法、发射功率测定用耦合器以及发射功率测定装置-CN200880106814.6无效
发明人：手代木扶;桧谷绫;河村尚志;佐久间彻 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2008-09-25 - 公布日： 2010-08-11 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明的发射功率测定方法包括：准备具有封闭空间的椭圆镜的步骤，该封闭空间由将椭圆以通过其两个焦点的轴线为中心旋转规定角度所获得的椭圆球状构成的金属壁面包围而成；在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的一个焦点的位置上配置可发射电波的被测定物，以使该电波的发射中心与所述一个焦点的位置大致一致的步骤；在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的另一个焦点的位置上配置接收天线的步骤；以及在所述椭圆镜的封闭空间内，从配置在所述一个焦点的位置的所述被测定物发射电波，并且将从被测定物发射的电波通过所述壁面反射之后由配置在所述另一个焦点的位置的所述接收天线接收，并根据来自该接收天线的输出信号，在该接收天线的测定端上测定从所述被测定物发射的电波的总发射功率的步骤。
发射功率测定方法耦合器以及装置

[发明专利]线性极化天线及采用其的雷达设备-CN200580046718.3无效
发明人：手代木扶;桧古绫;河村尚志 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2005-11-14 - 公布日： 2008-01-09 - 主分类号： H01Q9/46 文献下载
摘要：一种直线极化天线，包括介电衬底，覆盖在介电衬底一个表面上的接地板导体，形成在介电衬底相对侧面上的直线极化型天线元件，多个金属柱，其第一端连接于接地板导体并且沿其厚度方向穿透介电衬底，第二端延伸到介电衬底相对表面，以预定间隔设置从而包围天线元件，由此形成腔，导电框架形导体，其具有，例如三角形部分，其排列从而沿天线元件方向延伸预定距离，并且沿着介电衬底相对侧上的排列方向短路连接金属柱的第二端。直线极化天线可以通过腔和框架形导体抑制表面波的产生，使得天线发射特性为期望的。另外，通过利用腔的谐振现象，天线增益的频率特性可以具有RR无线电发射抑制波段中的尖锐缺口。这有效地降低了与EESS和射电天文工作的无线电干扰。
线性极化天线采用雷达设备

[发明专利]介质漏波天线-CN200680000589.9无效
发明人：手代木扶;桧谷绫;河村尚志 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2006-07-20 - 公布日： 2007-07-25 - 主分类号： H01Q13/28 文献下载
摘要：提供满足辐射部分的介质镜像波导的传输特性和激励部分的微带线的传输特性，效率较高的介质漏波天线，该介质基板作成具有下层部分和在该下层部分上连接的边层部分。在该下层部分作为介质基板的一个表面的下表面，形成接地导体。该接地导体形成在与介质基板厚度方向垂直的方向上，传播电磁辐射的介质镜像波导。在介质基板的上层部分的上表面形成以在介质基板的相反表面侧预先确定的间隔互相平行的泄漏用的多个金属带。在介质基板的下层部分和上层部分之间形成波导金属带和分支装置，该波导金属带形成其本身和接地导体之间的微带线，并且形成激励部分的该分支装置分支在与介质基板中泄漏用的多个金属带垂直的方向上，在该微带线中传输的电磁辐射。
介质天线

1
共 8 条