专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果4个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]光波测距仪-CN201510336412.7有效
  • 永野繁宪;田中康司;吉野健一郎 - 株式会社拓普康
  • 2015-06-16 - 2019-03-29 - G01S17/08
  • 提供一种光波测距仪,即使是非常大的光量的反射光,也能够在恰当地应对的同时高精度地测量距测量对象物的距离。提供一种光波测距仪(10),其向测量对象物(11)照射测量光(Pm),并由受光元件(23)接收由测量对象物(11)所反射的测量光(Pr),并根据测量光至测量对象物(11)的往返时间来测量距测量对象物(11)的距离。其包括:受光光学系(19),接收由测量对象物(11)所反射的测量光并集光;传播光路部(21),向受光元件(23)传播由受光光学系(19)所集光的测量光,传播光路部由渐变型多模光纤(26)与突变型多模光纤(27)组合而构成。
  • 光波测距仪
  • [发明专利]卡片真伪识别装置-CN02800840.5无效
  • 堀信男;永野繁宪 - 株式会社拓普康
  • 2002-02-18 - 2003-12-03 - B42D15/10
  • 一种卡片真伪识别装置,包括:对于设置在卡片(1)上所定位置的全息图(2),将测定光束(P)从所定的方向朝全息图(2)投影的测定光投影系统(23);对基于由全息图(2)反射的测定光束(P)的反射衍射光(R1)、(R2)、(R3)受光的受光元件(24b);使测定光束(P)对于全息图(2)的照射位置变化,以在受光元件(24b)的光量分布特性对应的受光信号平均化的平均装置(25);将平均化装置(25)的输出与容许值比较,识别卡片的真伪的识别装置(26)。
  • 卡片真伪识别装置
  • [发明专利]卡片真伪识别装置-CN02800839.1无效
  • 堀信男;永野繁宪;外山浩之 - 株式会社拓普康
  • 2002-02-18 - 2003-12-03 - B42D15/10
  • 一种对于对应卡片(1)的种类、设置所定全息图的卡片(1)的真伪,根据该全息图进行识别用的卡片真伪识别装置,所述装置包括:将测定光投影到全息图上用的测定光投影系统(半导体激光器(25a),视准透镜(25b));对测定光(P)在全息图上反射的反射衍光受光用的区域传感器(28);依据区域传感器(28)输出的信号,分别进行各种全息图对应的运算,以进行卡片(1)的真伪识别的多种识别运算手段(30~32);对多种识别运算手段(30~32)中任何一装置进行选择的选择手段(切换开关(24),切换电路(29))。
  • 卡片真伪识别装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top