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[发明专利]基于偏振复用的大视场成像装置及方法-CN202010024391.6有效
发明人：李建欣;尹智瑶;郭仁慧;宗毅;段明亮;钱佳敏;宋萍萍;毕书贤 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G02B27/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于偏振复用的大视场成像装置及方法，装置包括覆盖目标视场的N个光通道，以及接收所有光通道出射光的同轴依次设置的成像物镜和偏振相机，所有光通道的出射光均为线偏振光。方法包括：来自目标的不同方向的光束分别入射至N个光通道，产生N束线偏振光；N束线偏振光同时入射至成像物镜，成像至偏振相机形成偏振复用的视场目标信息；从偏振复用的视场目标信息中采集N束线偏振光的强度，之后通过偏振解复用处理方法解算出N个光通道中线偏振光的强度。本发明通过多组平面反射镜与偏振相机相结合的形式进行目标偏振成像，能够实现超大视场角成像与目标信息采集，具有结构紧凑、复杂度低、成像视场角大、成像质量好等优点。
基于偏振视场成像装置方法

[发明专利]基于非均匀采样校正的抗振动白光干涉测量方法-CN202011298694.3有效
发明人：李建欣;毕书贤;段明亮;宗毅;王佳欣 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-11-18 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01B9/02015 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于非均匀采样校正的抗振动白光干涉测量方法，所述方法包括以下步骤：采集待测件的白光干涉图序列和准单色光干涉图序列；对准单色光干涉图进行基于频域峰值亚像素定位的振动倾斜平面计算，并利用这些倾斜平面计算白光干涉图中每个像素位置的非均匀移相采样间隔；利用非均匀傅里叶变换校正白光干涉信号；对校正后的白光干涉信号进行调制度峰值位置的提取，以此恢复被测件表面的形貌分布。本发明采用双通道的白光干涉系统分别获取单色光干涉图序列以及白光干涉图序列，利用单色光干涉图序列来解算出振动影响下的采样间隔误差，以此来校正畸变的白光干涉信号，复原出被测件表面的形貌分布，该方法成本较低且测量精度高。
基于均匀采样校正振动白光干涉测量方法

[发明专利]采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置及方法-CN202010024370.4在审
发明人：李建欣;王佳欣;毕书贤;钱佳敏;王宇博;刘杰 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置及方法，装置包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、反射式相位延迟片阵列、剪切干涉组件、后置成像物镜和面阵探测器；入射光经前置成像物镜成像在光阑上，之后经准直物镜入射至反射式相位延迟片阵列，该阵列改变准直光束的相位延迟量并将各束光反射到不同方向，所有反射光均依次通过剪切干涉组件和后置成像物镜后在面阵探测器上发生干涉，形成空间分离的若干处于不同偏振状态的光谱干涉图像。方法基于上述装置实现高光谱偏振成像。本发明采用反射式相位延迟片阵列结构，一次推扫过程即可获得目标的高光谱全偏振信息，整体装置结构简单，光通量高，成像质量好。
采用反射相位延迟阵列光谱偏振成像装置方法

[发明专利]基于偏振复用的瞬态多光谱成像装置及方法-CN202010024369.1在审
发明人：李建欣;毕书贤;王佳欣;钱佳敏;尹智瑶;宗毅;段明亮;王宇博 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-01-10 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于偏振复用的瞬态多光谱成像装置及方法，装置包括沿光轴方向依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、退偏器、偏振片阵列、滤光片阵列、后置成像物镜和偏振相机；偏振片阵列包括M个偏振片，滤光片阵列包括N个滤光片，M、N均为正整数；光阑位于前置成像物镜的成像面，偏振相机的靶面位于后置成像物镜的成像面，准直物镜的前焦面与前置成像物镜的成像面重合。方法基于上述装置实现瞬态多光谱成像。本发明能同时获取探测目标的多个谱段的光谱信息，且采用偏振片阵列、滤光片阵列与偏振相机相组合的方式，能够实现光谱谱段的定制，可扩展性强，整体成像装置结构简单，容易实现。
基于偏振瞬态光谱成像装置方法