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[发明专利]放射线摄像装置及控制方法、放射线摄像系统及存储介质-CN201910541977.7有效
发明人： 横山启吾;渡边实;藤吉健太郎 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2019-06-21 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开一种放射线摄像装置及控制方法、放射线摄像系统及存储介质。提供了一种放射线摄像装置，包括：摄像单元，被配置为生成放射线图像；检测器，被配置为检测放射线以便监视入射剂量；处理器，包括放大器，并被配置为执行从所述摄像单元和所述检测器中读出信号、并基于读出信号而输出信号的处理；以及控制器，被配置为控制所述处理器。所述控制器促使所述处理器在放射线照射之前在第一电力消耗模式下操作并执行重置操作，以及根据指示放射线照射开始的开始信息，促使所述处理器在电力消耗高于所述第一电力消耗模式的第二电力消耗模式下操作，并促使所述处理器基于从所述检测器读出的信号开始输出用于监视入射剂量的信号。
放射线摄像装置控制方法系统存储介质

[发明专利]放射线成像装置、放射线成像装置的控制方法、控制装置、以及放射线成像系统-CN201880029958.X有效
发明人：佐藤翔;渡边实;横山启吾;藤吉健太郎;川锅润 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2018-03-14 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种在可以执行AEC的放射线成像装置中合适地确定照射结束定时方面有利的技术。放射线成像装置包括控制单元和被配置为检测放射线的传感器，其中，控制单元在放射线照射开始之后基于来自传感器的传感器信号产生指示放射线照射强度的稳定度的评估值，并且控制单元响应于评估值满足预定的条件而输出指示放射线照射强度已稳定的信号。
放射线成像装置控制方法以及系统

[发明专利]放射线成像系统-CN201710548778.X有效
发明人：和山弘;渡边实;横山启吾;泽田觉;古本和哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2017-07-07 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及放射线成像系统。放射线成像系统包括像素阵列、扫描像素阵列的行的扫描电路和从像素阵列读取信号的读出电路。各像素包含生成与放射线对应的电信号的转换器和与转换器连接的晶体管。读出电路经由所述晶体管从转换器读取信号。系统执行图像捕获模式和调整所述晶体管的阈值电压的调整模式。在调整模式中，扫描电路向所述晶体管的栅极供给与图像捕获模式中的关断电压不同的关断电压。扫描电路在图像捕获模式中以至少一个行为单位扫描行，并且在调整模式中以至少两个行为单位扫描行。
放射线成像系统

[发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统-CN201680028597.8有效
发明人：渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘;古本和哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2016-03-31 - 公布日： 2020-07-03 - 主分类号： H04N5/32 文献下载
摘要：提供一种放射线成像装置。该装置包括被布置在图像感测区域中的像素、被配置为获得放射线照射信息的第一和第二检测元件、来自所述第一检测元件的信号要被输出到的第一信号线和来自所述第二检测元件的信号要被输出到的第二信号线、以及被配置为处理从所述第一和第二检测元件输出的信号的信号处理电路。所述第一和第二信号线被布置在所述图像感测区域中或被布置为与所述图像感测区域相邻，所述第一检测元件具有比所述第二检测元件大的、用于检测放射线的区域。所述信号处理电路基于来自所述第一和第二信号线的信号产生放射线照射信息。
放射线成像装置系统

[发明专利]放射线摄像设备、系统和该设备的控制方法-CN201510906326.5有效
发明人：川锅润;渡边实;横山启吾;大藤将人;藤吉健太郎;和山弘;古本和哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2015-12-09 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： H01L27/144 文献下载
摘要：一种放射线摄像设备、系统和该设备的控制方法。所述设备包括：检测像素，其包括转换元件和开关元件；包括不同转换元件和不同开关元件的不同像素；信号线，其共通连接至多个所述开关元件；驱动单元，其被配置成驱动所述不同开关元件和所述开关元件；以及控制单元，其被配置成控制所述驱动单元，其中，所述控制单元控制所述驱动单元，从而使得在向至少一个开关元件施加接通状态电压或者断开状态电压的情况下，向不同于所述至少一个开关元件的开关元件，施加相对所述接通状态电压或者所述断开状态电压极性相反的电压，或者向所述不同开关元件施加相对所述接通状态电压或者所述断开状态电压极性相反的电压。
放射线摄像设备系统控制方法

[发明专利]放射线摄像设备和放射线检测系统-CN201510494663.8有效
发明人： 横山启吾;渡边实;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2015-08-12 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种放射线摄像设备和放射线检测系统。所述放射线摄像设备包括：传感器部，其包括：像素阵列，用于获取与放射线相对应的图像信号；以及多个检测元件，其配置在所述像素阵列内，并且用于检测所述放射线；以及读出电路，用于从所述传感器部读出所述图像信号，其中，所述读出电路包括信号处理电路，所述信号处理电路用于进行以下操作：在判断放射线照射的有无的情况下，对来自所述多个检测元件的信号进行合成和处理，以及在判断放射线剂量的情况下，针对各检测元件对信号进行处理、或者对来自所述多个检测元件中的数量比所述多个检测元件的数量少的检测元件的信号进行合成和处理。
放射线摄像设备检测系统

[发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统-CN201510214273.0有效
发明人：藤吉健太郎;渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及放射线成像装置和放射线成像系统。一种像素包括检测放射线的转换元件，以及该元件和信号线之间的开关。读出单元读出信号线上的信号。读出单元包括重置信号线的电势的重置单元。在其期间读出单元读出信号线上的信号的时间段包括第一时间段，在其期间信号线被重置，并且读出在开关不导通的状态下该信号线上的信号，以及第二时间段，在其期间信号线被重置，并且读出由于所述开关导通而产生的信号线上的信号。处理单元计算第二时间段和第一时间段中读出的信号之间的差。
放射线成像装置系统

[发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统-CN201510214405.X有效
发明人：藤吉健太郎;渡辺実;横山启吾;大藤将人;川锅润;和山弘;古本和哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及放射线成像装置和放射线成像系统。放射线成像装置具有：多个像素，包括用于获得放射线图像的多个成像像素和用于检测放射线的检测像素；多条列信号线；以及检测信号线，对应于检测像素。每个成像像素包括：第一转换元件，被配置为将放射线转换成电信号；以及第一开关，被布置在第一转换元件与所述多条列信号线当中的相应的列信号线之间。检测像素包括：第二转换元件，被配置为将放射线转换成电信号；以及第二开关，被布置在第二转换元件和检测信号线之间。
转换元件像素放射线成像装置列信号线放射线成像系统检测放射线转换成像像素检测信号放射线图像第一开关放射线配置

[发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统-CN201610212513.8有效
发明人：渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘;古本和哉 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2016-04-07 - 公布日： 2017-10-31 - 主分类号： H05G1/28 文献下载
摘要：公开了放射线成像装置和放射线成像系统。放射线成像装置包括第一控制线，电连接到成像开关元件的控制电极；第二控制线，电连接到检测开关元件的控制电极；信号线，电连接到检测开关元件的主电极；电容线，与第一控制线和第二控制线不同，被布置成与信号线电容性耦合；驱动单元，电连接到第二控制线和电容线并且被配置为向检测开关元件和电容线施加电压；及控制单元，被配置为控制驱动单元在接通状态电压或关断状态电压被施加到检测开关元件的情况下向电容线施加具有与该电压的极性相反的极性的电压。
放射线成像装置系统

[发明专利]检测装置和检测系统-CN201410204548.8有效
发明人：渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2014-05-15 - 公布日： 2017-09-12 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及检测装置和检测系统。检测装置包括允许可见光穿过的基板；包含从与基板相邻的侧起依次布置的像素电极、杂质半导体层和半导体层并被配置为将放射线或光转换成电荷的转换元件；和被配置为经基板向转换元件发射可见光的光源。像素电极包含允许可见光穿过的金属层。
检测装置系统

[发明专利]辐射检测装置和辐射检测系统-CN201510068263.0有效
发明人：大藤将人;渡边实;横山启吾;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2015-02-10 - 公布日： 2017-09-01 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及辐射检测装置和辐射检测系统。辐射检测装置包括转换元件，包含针对各像素分割的第一电极、半导体层和第二电极；切换元件，与第一电极电连接；以及第一绝缘层，分离相邻像素的转换元件。半导体层位于第一电极与第二电极之间。半导体层的外周位于第一电极的外周和第二电极的外周的外面。半导体层包括第一杂质半导体层、第二杂质半导体层和位于第一杂质半导体层与第二杂质半导体层之间的本征半导体层。限定该装置的参数，以将接通切换元件之后10μs的残留电荷设定为不高于2％。
辐射检测装置系统

[发明专利]检测装置和检测系统-CN201310465678.2有效
发明人：渡边实;望月千织;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2013-10-09 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： H04N5/32 文献下载
摘要：公开了检测装置和检测系统。一种在基板上形成的检测装置，包括以矩阵布置的多个像素，和与像素电连接的信号线。每个像素包括把放射线或者光转换成电荷的感测元件，输出基于电荷的量的电信号的放大薄膜晶体管，保持由放大薄膜晶体管输出的电信号的电容器，和把保持在电容器中的电信号传送给信号线的传输薄膜晶体管。
检测装置系统

[发明专利]检测设备、检测系统和用于生产检测设备的方法-CN201310460126.2有效
发明人：藤吉健太郎;渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2013-09-30 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及检测设备、检测系统和用于生产检测设备的方法。一种检测设备包括多个转换元件、层间绝缘层和覆盖层。多个转换元件中的每一个都包括电连接到多个开关元件中的一个对应开关元件的电极和设置在所述电极上的半导体层。层间绝缘层被设置为覆盖多个开关元件并由有机材料构成，并且具有包括第一区域和位于第一区域之外的第二区域的表面。电极被设置在第一区域中的层间绝缘层的表面上。覆盖层被设置在第二区域中的层间绝缘层的表面上并由无机材料构成。
检测设备系统用于生产方法

[发明专利]成像装置、成像系统和控制该装置的方法-CN200980162677.2有效
发明人： 横山启吾;远藤忠夫;龟岛登志男;八木朋之;竹中克郎;佐藤翔 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2009-12-01 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：提供了一种能够减小在获取的图像中可能出现并受照射区域影响的层次差别而不执行复杂的图像处理以防止图像质量的显著下降的成像装置。成像装置100包括：检测器104，其中以矩阵布置多个像素并执行图像捕获操作；偏置光源115；以及控制检测器104和偏置光源115的操作的控制单元106。图像捕获操作包括第一图像捕获操作和第二图像捕获操作，在第一图像捕获操作中，在与多个像素的一部分对应的扫描区域A中扫描检测器以输出扫描区域A中的图像数据，在第二图像捕获操作中，在大于扫描区域A的扫描区域B中扫描检测器以输出扫描区域B中的图像数据。控制单元106控制偏置光源115，以使得偏置光源115根据从照射场A到照射场B的切换，在第一图像捕获操作和第二图像捕获操作之间的时间段期间，在基于与第一图像捕获操作中的积累时间的积分量有关的信息的控制信号的基础上发射偏置光。
成像装置系统控制方法

[发明专利]检测装置、其制造方法和放射线检测系统-CN201410232324.8在审
发明人：川锅润;渡边实;横山启吾;大藤将人;藤吉健太郎;和山弘 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2014-05-29 - 公布日： 2014-12-17 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明涉及检测装置、其制造方法和放射线检测系统。提供了包含像素的检测装置的制造方法。该方法包括：在基板之上形成有机绝缘层，所述基板之上形成有开关元件；在有机绝缘层之上形成对于各个像素分割的像素电极；在有机绝缘层的未覆盖有像素电极的部分之上形成无机材料部分；形成覆盖所述多个像素电极和无机材料部分的无机绝缘膜；形成覆盖无机绝缘膜的半导体膜；以及通过使用无机材料部分与无机绝缘膜的叠层结构作为蚀刻阻止体进行蚀刻，对于各个像素分割半导体膜。
检测装置制造方法放射线系统

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