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- [发明专利]高温反偏试验电路的保护电路-CN201811249924.X在审
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梁维群;董志意;高夫强;赵善麒
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江苏宏微科技股份有限公司
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2018-10-25
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2020-05-05
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G05F1/573
- 本发明提供了一种高温反偏试验电路的保护电路,试验电路包括设备电源、限流电阻、保险丝和试验二极管,保护电路包括:电流信号采集单元,电流信号采集单元与试验电路相连,电流信号采集单元用于采集电流值;恒流保护电路;控制电路,控制电路分别与试验电路、电流信号采集单元和恒流保护电路相连,控制电路根据在试验二极管处于失效状态时电流信号采集单元所采集的电流值,控制恒流保护电路与试验电路接通,以进行恒流保护。本发明能够实现对高温反偏试验电路的有效保护,本发明的保护电路结构简单、设计方便、易用性强、成本较低,并且该保护电路具有自恢复能力,在将失效器件更换后即能够运行,维护简单。
- 高温试验电路保护
- [发明专利]一种快速估算器件高温工作时结温的方法-CN201710432208.4有效
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梁维群
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常州银河电器有限公司
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2017-06-09
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2019-07-19
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G01R31/26
- 本发明公开了一种快速估算器件高温工作时结温的方法,包括以下步骤:步骤S1,将器件放置在某一环境温度T1中足够时间,以使器件芯片温度与环境温度相同,此时测出器件漏电流IRT1;步骤S2,将器件放置在高温环境中持续工作足够时间,所述高温环境的温度范围为75℃至150℃,待状态稳定后,即漏电流稳定后,测出此时的漏电流IRT2,此时芯片的温度T2即是结温TJ;步骤S3,根据公式IRT2=IR(T1)*{2^[(T2‑T1)/10]},可推出TJ=T2=a*10+T1,其中a=log2IRT2‑log2IRT1;本发明提拱一种快速估算器件高温工作时结温的方法,它能快速估算出器件结温,并有利于找出器件高温漏电的规律。
- 一种快速估算器件高温工作时结温方法
- [实用新型]快速检测老化治具中电路通断的装置-CN201621316162.7有效
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梁维群
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常州银河世纪微电子股份有限公司
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2016-12-02
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2017-09-05
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G01R31/02
- 本实用新型公开了一种快速检测老化治具中电路通断的装置,包括夹板以及设置在夹板上的多个检测电路,所述夹板具有夹头,用于夹在待检测老化治具的两侧,所述夹头为导电夹头,并且与检测电路电连接,所述检测电路包括发光二极管与电源构成的通路,通路的两端与待检测老化治具中待试验器件电路共同形成电路回路。将本实用新型的导电夹头夹在待检测老化治具上,使待试验器件组成的电路与检测电路电连接,构成完整的电路回路,根据检测电路的发明二极管的发光与否即可直观的判断出待试验器件组成的电路的通断情况;本实用新型可同时检测多组电路的通断情况,极大地提高了工作效率,且检测结果直观,判断准确,简单易用。
- 快速检测老化治具中电路装置
- [实用新型]多功能测试座-CN201620355330.7有效
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梁维群
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常州银河世纪微电子有限公司
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2016-04-25
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2016-10-12
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G01R31/26
- 本实用新型公开了一种多功能测试座,包括PCB板,所述PCB板上固定有多个用于焊接待测试器件的焊盘,每个焊盘的阴阳两极均与两组开关电连接,同一极的相邻的开关之间或连接或断开。本实用新型在每个焊盘的阴阳两极均与两组开关电连接,通过调节相邻开关的连接状态使不同器件之间任意组成串联或并联状态,能够分别单独测试器件的电性参数,还能测试在不同串并联状态下的器件的电性参数,测试过程简单方便,极大地降低了器件试验的难度。
- 多功能测试
- [实用新型]分立器件老化测试用工装-CN201520563239.X有效
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梁维群
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常州银河世纪微电子有限公司
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2015-07-30
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2015-12-09
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G01R31/00
- 本实用新型涉及一种分立器件老化测试用工装,包括底座和盖体,所述底座内腔的底部设有第一、二下导电片和工件凹槽;第一、二导电插针分别插在底座相应的插针槽内;第一下导电片有2个,且分别设在工件凹槽的两侧,第一、二下导电片分别与导电插针的一端固定连接,导电插针的另一端伸出插针槽外;所述内壁上分别设有两个上导电片,且两个上导电片分别位于开槽的两侧,盖体盖合在底座上后,两个上导电片分别与对应的第二下导电片相抵接;底座的两外侧端部分别固定有夹持板,且夹持板的底端与底座扣接,而其上端通过其所设的卡槽与盖体扣合,从而令底座与盖体扣合接成工艺整体。本实用新型不仅便于进行老化测试,而且测试效率高,以及降低误测率。
- 分立器件老化测试用工
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