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[发明专利]半导体激光装置-CN202280018268.0在审
发明人：栗根悠介;松滨诚;塚谷康辅;新名広大;井户琢也 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2022-02-21 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H01S5/022 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体激光装置。抑制在半导体激光装置的封装件内的杂散光的产生，而且尽可能地抑制输出的激光的强度在每个半导体激光装置中的个体差。半导体激光装置用于光学分析，其包括：封装件，在内部收容半导体激光元件；以及光反射减少部件，设置在所述封装件的内部，抑制从所述半导体激光元件发出的光的反射，所述光反射减少部件粘合于所述封装件的内表面。
半导体激光装置

[发明专利]排气稀释装置、排气稀释方法及排气分析系统-CN202310354155.4在审
发明人：荣谷聪;竹内肇;高松利成 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N1/38 文献下载
摘要：本发明提供排气稀释装置、排气稀释方法以及排气分析系统，使混合促进部相对于排气稀释装置的稀释通道的更换变得容易，利用稀释用气体对排气进行稀释的排气稀释装置(10)具备：稀释通道(11)，排气以及稀释用气体被导入该稀释通道(11)；混合促进部(12)，设置在稀释通道(11)的内部，促进排气与稀释用气体的混合；开口部(13)，用于更换混合促进部(12)；以及开闭机构(14)，对开口部(13)进行开闭，在通过开闭机构(14)使开口部(13)开放了的状态下能够更换混合促进部(12)。
排气稀释装置方法分析系统

[发明专利]道路行驶测试评价方法、车辆测试系统以及道路行驶测试评价用程序-CN202280012869.0在审
发明人：菲利普·罗伯茨;田畑邦夫;史蒂文·威兰;亚伦·海德利 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2022-02-03 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01M17/007 文献下载
摘要：本发明通过前置加载道路行驶测试的评价，实现汽车开发的高效化，具备：虚拟评价步骤，使用对行驶环境进行了模型化的行驶环境模型、对驾驶方式进行了模型化的驾驶方式模型、以及对所述实际车辆进行了模型化的车辆模型，模拟道路行驶测试；台上测试评价步骤，通过组合实际车辆的一部分或全部、车辆模型的一部分或全部、行驶环境模型的一部分或全部和驾驶方式模型的一部分或全部，对实际车辆的一部分或全部进行台上测试，模拟道路行驶测试；以及道路行驶测试评价步骤，在实际的行驶环境下，对实际车辆实施道路行驶测试。
道路行驶测试评价方法车辆系统以及程序

[发明专利]辨别方法、辨别装置以及记录介质-CN201880078199.6有效
发明人：奥野义人;入仓大祐;赤路佐希子;三宅司郎 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提供辨别方法、学习方法、辨别装置以及存储介质，能够基于从细胞得到的拉曼光谱，与以往相比更准确地辨别细胞的种类。在辨别试样中包含的细胞的种类的方法中，从一个未辨别的细胞取得一个拉曼光谱，计算表示所述未辨别的细胞的拉曼光谱与多个主成分的光谱一致的程度的多个一致度，所述多个主成分的光谱通过由从种类明确的多个细胞的每一个逐个得到的拉曼光谱构成的多个拉曼光谱的主成分分析而得到，基于通过使用有监督学习的学习模型将与通过所述主成分分析得到的所述种类明确的多个细胞的每一个对应的多个主成分得分按种类分类的结果，对所述多个一致度进行分类，由此辨别所述未辨别的细胞的种类。
辨别方法装置以及记录介质

[发明专利]半导体激光器、驱动控制装置和半导体激光器的控制方法-CN201880073493.8有效
发明人：寺门知二;松滨诚;涩谷享司 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-09-14 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H01S5/062 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体激光器，包括核心层和一对覆盖层，所述核心层具有活性层以及与该活性层光学结合的衍射光栅层，所述一对覆盖层以夹着该核心层的方式配置，在所述半导体激光器中沿着所述核心层形成有导波通道，所述半导体激光器包括：平坦层，沿着导波通道与所述衍射光栅层连续设置；以及温度调节结构，用于将所述平坦层的温度调节为与所述衍射光栅层不同的温度。
半导体激光器驱动控制装置方法

[发明专利]制动粉尘测定装置、制动粉尘测定方法和制动粉尘测定用程序-CN202180083646.9在审
发明人：大槻喜则;乔尔·丹泽;德米特罗·卢加维 -专利权人： 株式会社堀场制作所;堀场欧洲公司
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： F16D65/00 文献下载
摘要：本发明提供一种制动粉尘测定装置、制动粉尘测定方法和制动粉尘测定用程序。即使在使主流量变动的情况下，为了能够高精度地测定制动粉尘量等，制动粉尘测定装置(100)测定从制动器(Z)产生的制动粉尘，其包括：主流道(L2)，供包含制动粉尘的样本气体流动；采样流道(L3)，与设定在主流道(L2)的采样点(X)连接，采集样本气体的一部分；以及流量控制机构，控制作为采样流道(L3)的流量的采样流量，使得采样流量成为与作为主流道的流量的主流量成比例的流量。
制动粉尘测定装置方法程序

[发明专利]分析装置和分析方法-CN201811122846.7有效
发明人：涩谷享司;福城显辅;太田敏雄;西村克美 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-09-26 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明提供一种分析装置(100)，对导入样品的测量腔(1)照射脉冲振荡的光，分析所述样品中所含有的测量对象成分，所述分析装置不缩短脉冲宽度就能够抑制波长分辨率降低，所述分析装置具备：脉冲振荡的多个光源(2)；光检测器(3)，检测由所述光源(2)射出并通过所述测量腔(1)的光；信号分离部(6)，从由所述光检测器(3)得到的光强度信号中分离出与所述光源的脉冲振荡的一部分对应的信号。
分析装置方法

[发明专利]检查装置、信息处理方法和程序-CN202180082157.1在审
发明人：松田泰典;藤冈祐次 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N35/00 文献下载
摘要：本发明提供检查装置、信息处理方法和程序。样本检查装置包括：至少一个光源，能在不同位置点亮；光源控制部，控制至少一个光源的点亮；旋转机构，使芯片(6)旋转；摄像部，按照点亮的光源的各个不同位置以不同时机拍摄利用旋转机构引起的旋转而定位于照明区域的芯片(6)，取得多个单独图像(K1～K12)，所述照明区域利用至少一个光源的点亮而被照明；图像生成部，根据多个单独图像(K1～K12)生成解析用图像；以及信息取得部，根据解析用图像取得与检查物或收容容器的状态相关的对象物信息。使用多个单独图像之间的同一位置的像素的亮度值，计算出解析用图像的各像素的亮度值。
检查装置信息处理方法程序

[发明专利]气体分析装置及气体分析方法-CN202180080365.8在审
发明人：坂口有平;南雅和;渋谷享司;高桥基延 -专利权人：株式会社堀场STEC;株式会社堀场制作所
申请日： 2021-11-22 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本发明能够高精度地测定半导体制造工艺所用的材料气体或因半导体制造工艺所产生的副生成气体所含的卤化物的浓度或分压，气体分析装置对半导体制造工艺所用的材料气体或因半导体制造工艺而产生的副生成气体所含的卤化物的浓度或分压进行分析，并具备：气体池，其导入有材料气体或副生成气体；激光光源，其向气体池照射经波长调制的激光；光检测器，其检测透过气体池的激光；以及信号处理部，其使用由光检测器的输出信号所得的光吸收信号来计算出卤化物的浓度或分压，气体池减压至比大气压小的预定的压力，激光光源在包含卤化物的光吸收信号的特征部在内的波长调制范围对所述激光进行波长调制。
气体分析装置方法

[发明专利]半导体激光元件、半导体激光装置及其制造方法和气体分析装置-CN202180081506.8在审
发明人：松滨诚;寺门知二;粟根悠介 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：一种半导体激光元件、半导体激光装置及其制造方法和气体分析装置。分布反馈式的半导体激光元件(3)在波导路(3L)上形成有衍射光栅(3M)，稳定地输出单模的光且增大光的强度。波导路(3L)包括：衍射光栅部(301)，形成有衍射光栅(3M)；以及平坦部(302)，具有未形成有衍射光栅(301)且宽度比衍射光栅部(301)宽的区域。平坦部(302)具有连接部(303)，连接部(303)具有随着朝向与衍射光栅部(301)的连接部位而宽度连续变化的区域，在平坦部(302)的与连接部(303)相反侧的端面设置有高反射膜(HR)，在衍射光栅部(301)的与连接部(303)相反侧的端面设置有低反射膜(AR)。
半导体激光元件装置及其制造方法气体分析

[发明专利]表面特性检查装置和记录介质-CN201880073482.X有效
发明人：长冈英一 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-12-14 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01N21/57 文献下载
摘要：本发明提供表面特性检查装置，使检测检测对象的表面特性时的检测设备的定位变得容易，所述表面特性检查装置包括：检测设备，向检测对象照射光并检测来自检测对象的反射光；处理部，通过处理来自检测设备的数据来计算表面特性；引导信息生成部，生成与相对于检测对象的检测设备的距离和/或姿势相关的信息；以及通知部，通知由引导信息生成部生成的与距离和/或姿势相关的信息。
表面特性检查装置记录介质

[发明专利]血液标本的判断方法、用于其的判断装置以及计算机程序-CN202180073668.7在审
发明人：梅村创;齐藤宪祐 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2021-11-12 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N33/72 文献下载
摘要：根据血液标本的Hb值、MCV值、CRP值排除来源于炎症性贫血的被检查者的血液标本，根据除此以外的血液标本(A1)的血清铁蛋白值，判断该血液标本(A1)是来源于缺铁性贫血的被检查者的血液标本还是来源于地中海贫血的被检查者的血液标本(A2)。
血液标本判断方法用于装置以及计算机程序

[发明专利]半导体激光装置及其驱动方法、气体分析装置和存储介质-CN201880065242.5有效
发明人：粟根悠介;西村克美;渋谷享司 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： H01S5/0687 文献下载
摘要：本发明提供半导体激光装置、半导体激光装置的驱动方法和驱动程序。本发明能够抑制半导体激光元件的振荡波数受到周围温度影响而变动，该半导体激光装置包括：半导体激光元件(2)；调温部(32)，对半导体激光元件(2)进行温度调节；温度传感器(4)，检测调温部(32)的温度；以及温度控制装置(5)，控制向调温部(32)供给的供给信号，以使温度传感器(4)的检测温度成为规定的目标温度，温度控制装置(5)根据向调温部(32)供给的供给信号来改变调温部(32)的目标温度。
半导体激光装置及其驱动方法气体分析存储介质

[发明专利]排气分析装置、排气分析系统和程序存储介质-CN201811129230.2有效
发明人：大槻喜则 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-09-26 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01N1/22 文献下载
摘要：本发明提供排气分析装置、排气分析系统、程序存储介质及校正方法。为了提供如下的排气分析装置，即，无需使通过过滤器的稀释排气的流量较大变化，例如当行驶模式切换时追随性良好地变更通过过滤器的稀释排气中的排气的流量，能够反映加权，能够高精度地进行PM的测量，而具备：捕集部，捕集从原始排气分流一部分后的取样排气中的颗粒状物质或者取样排气被稀释气体稀释后的稀释排气中的颗粒状物质；以及分流比控制机构，根据按照规定法规设定的车辆的行驶模式，变更原始排气的整体流量与取样排气的分流流量的比即分流比。
排气分析装置系统程序存储介质

[发明专利]粒子分析装置-CN201810980447.8有效
发明人：小云胜敏 -专利权人： 株式会社堀场制作所
申请日： 2018-08-27 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明提供粒子分析装置，首先在抽吸测量室(10)内的试样液(Y1)的注射器装置(20)的圆筒内，形成具有预先规定的容积(V2)的负压(压力(P2))的内部空间(S1)，接着通过使所述负压施加到测量室内来抽吸试样液(Y1)，在测量用流道(11)中进行粒子(X1)的测量。控制装置根据通过所述测量得到的测量信号计算粒子分析值(A)。所述粒子分析值(A)是在压力(P2)的抽吸力下得到的值，控制装置还根据对所述内部空间(S1)预先确定的标准压力(Ps)，修正所述粒子分析值(A)。
粒子分析装置

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