专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体元件及半导体装置-CN202180057395.7在审
  • 柳田秀彰;水本尚吾;安藤裕之;松原佑典 - 株式会社FLOSFIA
  • 2021-08-10 - 2023-05-12 - H01L23/48
  • 本发明提供一种对功率器件特别有用且顺向特性得到改善的半导体元件及半导体装置。一种半导体元件及具备该半导体元件的半导体装置,所述半导体元件为具备包含结晶性氧化物半导体(例如,α‑Ga2O3等)作为主成分的半导体层、层叠于该半导体层上的电极层以及直接或隔着其他层而层叠于该电极层上的导电性基板的层叠结构体,所述导电性基板至少含有选自元素周期表第11族金属中的第一金属以及线性热膨胀系数与所述第一金属的线性热膨胀系数不同的第二金属。
  • 半导体元件装置
  • [发明专利]半导体装置-CN202080052697.0在审
  • 冲川满;樋口安史;松原佑典 - 株式会社FLOSFIA
  • 2020-05-22 - 2022-03-18 - H01L29/06
  • 提供一种特别对于功率器件有用的、抑制了漏电流的低损耗的半导体装置。一种半导体装置,包含:半导体层;介电膜,形成在所述半导体层上,且具有开口部,在距离所述开口部至少0.25μm以上的范围而形成;和电极层,在从所述开口部的内部直至所述介电膜的一部分或全部之上而形成,其中,从所述开口部到0.25μm以上的距离的所述介电膜的膜厚小于50nm,所述介电膜的相对介电常数在5以下。
  • 半导体装置

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