专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]辉光放电质谱法测定高纯铟中的痕量杂质元素-CN201210564537.1无效
  • 刘红;李爱嫦 - 北京有色金属研究总院
  • 2012-12-21 - 2014-06-25 - G01N27/68
  • 一种稀有金属中痕量杂质的测定方法,特别涉及一种高纯铟中痕量杂质的测定方法,其步骤为:(1)将样品切割成片状,先用甲苯清洗样品表面上的油污,再用超纯水清洗,用50%(体积浓度)硝酸腐蚀8min,用超纯水反复冲洗后,放入甲醇中保存,分析前取出在红外灯下烘干即可。(2)把样品放入样品夹中,推入离子源腔内,待真空度达到2.2~2.4mbar,调节放电电压和放电电流分别为0.9~1.2kV、40~45mA,溅射约30~40min,一般以容易引入污染的Na、Fe和Ca的信号稳定为准,以消除样品制备过程中可能产生的沾污。(3)调节放电电压为0.9~1.2kV,放电电流为40~45mA,进行高压放电,收集待测元素离子信号,根据辉光放电质谱仪定量分析原理,求出待测杂质元素的浓度。本方法简单易操作,且干扰少、流程短,能很好的满足高纯铟中痕量杂质测定的要求。
  • 辉光放电质谱法测定高纯中的痕量杂质元素

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