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- [发明专利]单晶空心叶片的测厚方法-CN202310802846.6在审
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喻健;石佳;骆宇时;李嘉荣;谭俊龙
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中国航发北京航空材料研究院
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2023-07-03
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2023-10-27
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G01B17/02
- 本发明公开了一种单晶空心叶片的测厚方法，包括以下步骤：制作[001]、[012]、[011]、[112]、[122]、[111]、[123]晶向的单晶试样；使用[001]晶向的单晶试样对超声设备做基准修正；对[012]、[011]、[112]、[122]、[111]、[123]晶向的单晶试样进行超声测厚，并将[001]、[012]、[011]、[112]、[122]、[111]、[123]晶向的单晶试样实际厚度与测试厚度比值作为初始修正系数；外推单晶空心叶片全取向范围内不同晶向的修正系数图谱；测试单晶空心叶片上待测点的晶向并记录晶向数值，在修正系数图谱中确定待测点晶向的修正系数；对单晶空心叶片上的待测点进行超声测厚，将测试厚度与确定的修正系数相乘，即得待测点修正后的测试厚度。本发明对单晶空心叶片壁厚的测量精度高达99％，尤其对于厚度较厚的位置，测量误差更低。
- 空心叶片方法
- [发明专利]单晶空心工作叶片的测厚方法-CN202310807072.6在审
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喻健;石佳;骆宇时;李嘉荣;谭俊龙
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中国航发北京航空材料研究院
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2023-07-03
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2023-09-29
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G01B17/02
- 本发明公开了一种单晶空心工作叶片的测厚方法，包括以下步骤：制作纵向平行[001]晶向、横向偏离[100]晶向0°、10°、20°、30°、45°偏离角度的单晶试样；使用偏离角度为0°的单晶试样对超声设备做基准修正；将偏离角度为0°、10°、20°、30°、45°的单晶试样的实际厚度与测试厚度比值作为初始修正系数；通过初始修正系数外推单晶空心工作叶片0‑45°范围内不同偏离角度的修正系数图谱；测试单晶空心工作叶片的二次取向并记录数值，通过二次取向计算待测点的修正系数角度，并在修正系数图谱中确定待测点偏离角度的对应修正系数；将待测点的测试厚度与修正系数相乘，即得待测点修正后的测试厚度。本发明解决了因超声测厚取向导致测量误差偏大的问题。
- 空心工作叶片方法
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