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[发明专利]实时测量Mueller矩阵光谱的方法-CN201910899485.5有效
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2019-09-23 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了实时测量Mueller矩阵光谱的系统，包括沿入射光线的入射方向依次设有光源、光纤、准直系统、起偏器、第一延迟器、第二延迟器、样品台、第三延迟器、Wollaston棱镜、光谱仪组。本发明还公开了实时测量Mueller矩阵光谱的方法，对光谱仪获取的光谱强度进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原被测样品表面出射的Stokes矢量S，对S中的四个Stokes参数进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原出16个Mueller矩阵元素的光谱。本发明避免了通道串扰，测量准确性高，可操作性强。
实时测量 mueller 矩阵光谱方法

[发明专利]一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法-CN201910899494.4有效
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2019-09-23 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开了一种Mueller矩阵光谱的测量系统，包括沿入射光线的入射方向依次设有光源、光纤、准直系统、旋转起偏器、第一延迟器、样品台、第二延迟器、Wollaston棱镜、光谱仪组。本发明还公开了一种Mueller矩阵光谱的测量方法，将全部16个Mueller矩阵元素光谱加载致三个不同的光谱通道，每个通道由包含了三个不同子通道，每个子通道的光谱强度均为穆勒矩阵元素光谱的线性叠加，通过旋转改变起偏器的透光轴至两个正交的方向，结合通道滤波与傅里叶变换可通过光谱仪获取的四个光谱强度复原出16个Mueller矩阵元素的光谱。本发明测量速率快，可操作性强。
一种 mueller 矩阵光谱测量系统及其测量方法

[发明专利]超表面偏振调控的消色差方法-CN202111436261.4在审
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种超表面偏振调控的消色差方法，在单一的衬底上制备超表面结构，通过金属纳米结构的电磁波吸收效应实现长波红外谱段的四个线偏振本征模透过率的有效调控。与现有基于偏振态相位调控的超表面相比，其可以对整个长波红外波段的每个波长的偏振态进行透过率调控，克服了相位调控存在色差的缺点；与现有基于偏振态透过率调控的超表面相比，其可对全部四个线偏振本征模进行调控；其线宽较大，可采用低成本的工艺设备进行制作。此外，连接衬底的双层结构单元可以进一步提高透过率。
表面偏振调控色差方法

[发明专利]Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法-CN202111444964.1在审
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2021-11-30 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明Mueller矩阵图像的获取系统及获取方法，公开了包括依次设置形成光学系统的光源S、准直镜CL、起偏器P、样品V、超表面M、成像镜L、探测器D；超表面M具体结构为：在单晶硅片上表面沉积金属膜，以单晶硅片中心为坐标原点，划分为四个象限，对每个象限的金属膜表面采用光刻工艺按照偏振吸收角度开设印刻单元，每个印刻单元内刻蚀金属纳米线和硅纳米线；成像镜L包括四个凸透镜，每个凸透镜的光轴正对每个象限的中心；本发明中采用超表面作为检偏臂，不存在运动部件，与现有装置相比，在分析目标表面出射光的偏振态时不需要进行旋转，可通过单次曝光得到偏振态的变化，探测时间更快。
mueller 矩阵图像获取系统方法

[发明专利]一种Mueller矩阵光谱的测量系统及方法-CN201910522725.X有效
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2019-06-17 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开的一种Mueller矩阵光谱的测量系统及其测量方法，包括以下步骤：步骤1，打开电源，电源发出的光线通过光纤到达准直系统、起偏器、第一延迟器、第二延迟器、样品台、波片、检偏器、光谱仪；步骤2再改变波片的快轴方位角三次；步骤3，得到光谱仪获取的光强信号I(σ)；步骤4，根据波片的快轴方位角θ1、θ2、θ3、θ4，测量对应的光谱强度，然后分别除以Sin,0(σ)/4、接着进行傅里叶逆变换，得到被测样品对应的四个呈通道化分布的干涉强度；步骤5，选择所需干涉强度做傅里叶变换可得被测样品全部16个穆勒矩阵元素光谱。本发明测量系统，结构简单，降低出读次数，减少测量时间，大幅提高测量样品Mueller矩阵光谱的速度。
一种 mueller 矩阵光谱测量系统方法

[发明专利]基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法-CN201910549729.7有效
发明人： 权乃承 -专利权人：西安理工大学
申请日： 2019-06-24 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：本发明公开的基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置，包括光源，光源后按照光线入射顺序依次设置有光线、准直系统、起偏器、波片、样品台、高阶相位延迟器、Wollaston棱镜和接收单元；准直系统包括按照入射光线依次设置的第一透镜和第二透镜；接收单元包括光谱仪a和光谱仪b，光谱仪a和光谱仪b分别处于Wollaston棱镜的出射光方向。本发明的测量方法与时间调制型相比，测量时间降低至少4倍；与强度调制型相比，通道数量由37个降低为3个，通道间隔增大了37/3倍，复原Muellr矩阵光谱的分辨率提高了37/3倍的同时大幅降低通道串扰产生的概率，有很好的实用价值。
基于四次测量 mueller 矩阵光谱装置测量方法

[发明专利]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法-CN201710348763.9有效
发明人：张淳民;权乃承;穆廷魁 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2017-05-17 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01J3/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法，该系统沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统、第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器；入射光经前置望远系统准直后变为平行光，平行光依次通过第一延迟器、第二延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、第三延迟器、检偏器和成像镜，最终在CCD探测器上获取到两幅三通道干涉图。本发明能够解决序列测量方法时间及空间失配的问题，能够实时测量快速变化的目标，同时能够克服通道光谱技术中，复原强度光谱存在误差及光谱分辨率严重降低的缺点。
强度光谱第二延迟器第一延迟器高分辨率探测系统线偏振光成像镜检偏器偏光镜平行光延迟器图像前置望远系统光谱分辨率快速变化入射光线实时测量通道光谱望远系统序列测量干涉图入射光三通道主光轴失配准直复原

[发明专利]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置和方法-CN201710349650.0有效
发明人：张淳民;权乃承;穆廷魁 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2017-05-17 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01J3/447 文献下载
摘要：本发明公开了一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测装置及方法，该装置沿入射光线的主光轴从左到右依次设有望远系统、消色差四分之一波片、延迟器、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、延迟器、检偏器、成像镜及CCD探测器。所述望远系统由第一透镜、视场光阑和第二透镜组成；所述视场光阑设置于第一透镜和第二透镜之间的主光轴上。本发明可以通过单次测量获取与仪器光谱分辨率一致的强度光谱与全部的线偏振光谱信息，较传统通道光谱偏振技术使复原的强度光谱与线偏振光谱均不受串扰的影响，复原结果更加精确并且光谱分辨率了提高3‑7倍。
图像高分辨率强度光谱偏振探测装置方法

[发明专利]一种宽场、消色差横向剪切双折射分束器-CN201610012963.2有效
发明人：张淳民;权乃承;穆廷魁 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2016-01-08 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G02B27/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种宽场、消色差横向剪切双折射分束器，该分束器由六块单轴晶体平板沿入射光传播方向依次拼接组成，前置两块厚度相等的平板由YVO4制作，光轴分别位于xz平面与yz平面，光轴均与z轴成90°夹角；中间两块平板厚度相等的平板由α‑BBO制成，光轴分别位于xz与yz轴平面，光轴均与xz轴正向、yz轴正向成45°夹角；最后两块厚度相等的平板由YVO4制成，光轴分别位于xz与yz平面，光轴均与xz轴正向(或负向)、yz轴正向(或负向)成45°夹角。探测波段处于0.4μm～1μm的可见、近红外谱段，中心波长位于0.7μm；三组平板的单板厚度分别为2.4mm、6.7mm和1.4mm，此时获取直条纹的视场角可以达到25°，同时光程差与剪切量的色散也得到了有效的抑制。
光轴正向厚度相等分束器横向剪切双折射消色差负向宽场传播方向单轴晶体红外谱段探测波段中心波长光程差剪切量入射光视场角直条纹轴平面单板前置色散拼接制作

[发明专利]一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置及方法-CN201610012672.3有效
发明人：张淳民;权乃承;穆廷魁 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2016-01-08 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置及方法，沿入射光的传播方向，以主光轴从左到右设有前置望远系统，消色差的波片、相位延迟器、偏振片阵列、消色差的半波片、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、相位延迟器、分析器LA、成像镜组和面阵列CCD。本发明通过在CCD上下两个分区分别获取两对双通道互补的干涉图，四幅干涉图相加获取目标图像；通过干涉图相减获取纯干涉条纹；纯干涉条纹相加减保留单通道的干涉条纹，通过傅里叶变换便可获取目标的传统强度光谱与线偏振光谱信息。在复原光谱的过程了避免了光程差维的通道滤波，并且同时从硬件上抑制了背景噪声。
一种图像光谱偏振一体化获取装置方法

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