专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]卡氏光学组件装调方法-CN201710447501.8有效
  • 朱绍纯;坎金艳;李晓哲;徐松;马天义 - 上海航天控制技术研究所
  • 2017-06-14 - 2019-11-22 - G02B7/182
  • 本发明涉及一种卡氏光学组件装调方法,所述卡氏光学组件包含待装调的主反射镜和次反射镜;所述装调方法包含:提供一个次反射镜组件,其中具有不同倾角的多个次反射镜;选择次反射镜组件中的任意一个次反射镜,与主反射镜进行匹配;使主反射镜与次反射镜的母线对准,判断使用当前的次反射镜时,探测到的卡氏光学组件的扫描圆的直径是否符合设定阈值:如果扫描圆的直径不符合设定阈值,则从次反射镜组件中选择另一个次反射镜,来与主反射镜进行匹配,并重新进行母线对准及对扫描圆直径的阈值判断;直到选出扫描圆的直径符合设定阈值的次反射镜。本发明操作简便,在保证卡氏光学组件成像符合要求的前提下,提高批量装调的精度。
  • 光学组件方法
  • [发明专利]基于红外成像的光学组件调试方法及工具-CN201710271665.X有效
  • 朱绍纯;坎金艳;李晓哲;徐松;马天义 - 上海航天控制技术研究所
  • 2017-04-24 - 2019-05-03 - G02B27/62
  • 本发明涉及一种基于红外成像的光学组件调试方法及工具,通过对倾斜球面次反射镜倾角的测试和装调,降低了次反射镜元件对倾角的加工及校正难度。通过对平凸透镜偏心的测试和装调,使平凸透镜的偏心得到了校正和控制,排除了由于胶层厚度不均等因素导致的偏心不可控问题。对主反射镜光轴垂直度控制时,通过工装的溢胶槽、合理给定定位配合公差等方式,使主反射镜粘接位置准确、倾角得到保证。在对非球面主反射镜面型的检测时,通过合理设计补偿镜安装和固定工装,简化了其安装难度,提高了安装稳定性;对主反射镜的可靠固定,消除了普通三爪卡槽装夹应力对被测件面型的影响;主反射镜测量过程中姿态调整技巧提高了测量效率。
  • 基于红外成像光学组件调试方法工具
  • [发明专利]一种对抗激光致盲的红外光学系统及其方法-CN201610238533.2有效
  • 朱绍纯;宋敏敏;胡亮;龙华宝 - 上海航天控制技术研究所
  • 2016-04-18 - 2017-08-29 - F41H13/00
  • 本发明公开了一种对抗激光致盲的红外光学系统及其方法,其包含整流罩,红外目标透过该整流罩照射到后方;中波成像探测单元,位于所述整流罩的出光侧,用于接收并探测从整流罩一侧过来的红外目标;中波激光四象限探测单元,位于所述整流罩的出光侧,用于接收并探测从整流罩一侧过来的红外目标;所述的中波成像探测单元与中波激光四象限探测单元采用共口径设计共用一个整流罩,当红外目标辐射强度小于一定阈值时,中波成像探测单元工作,当红外目标辐射强度达到一定阈值时,中波成像探测单元关闭,中波激光四象限探测单元工作。其优点是空间尺寸小,在保证光学系统光圈数的情况下,有效保护红外探测系统免受激光武器的威胁。
  • 一种对抗激光红外光学系统及其方法
  • [实用新型]红外成像光学调试装置-CN201520995886.8有效
  • 唐智勇;周泾松;李晓哲;朱绍纯;于锦江;贾克;卢嘉;项家骏 - 长春理工大学;上海航天控制技术研究所
  • 2015-12-04 - 2016-11-30 - G01J5/00
  • 红外成像光学调试装置属于红外光学成像领域,该装置包括:红外光源、自准直机构、离轴抛物面平行光管和探测器机构;光源发出光,通过自准直机构准直后,由离轴抛物面平行光管反射,进入被测机构;探测器机构通过调整探测器的位置来确定被测机构的焦距并采集焦面图像信息;离轴抛物面平行光管、被测物和探测器机构同光轴。本实用新型通过自准直机构和离轴抛物面平行光管,使测试光严格沿着光轴传播,减少甚至消除误差,缩短装置的尺寸;探测器机构微动调焦确定被测物的成像焦面,并确定焦距,精确给出装配的尺寸。整个装置装配简单,费用低廉,可以广泛应用在红外成像光学系统中。
  • 红外成像光学调试装置

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