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[发明专利]光学测定装置以及水质分析系统-CN202180033072.4在审
发明人：小林一星;坂本启伍;原康平;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场先进技术
申请日： 2021-04-13 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：实现小型化，并且在采用基于各国的水质基准的浊度测定方式的同时也高精度地测定色度和浊度。通过测定由液体样品散射的散射光来测定液体样品的浊度的光学测定装置包括：样品池，其收纳液体样品；透过光测定用光源，其对样品池内的液体样品照射透过光测定用的光；散射光测定用光源，其对样品池内的液体样品照射散射光测定用的光；光检测器，其检测透过光测定的光的透过光以及散射光测定用的光的散射光；以及反射镜，其将透过光测定用的光在样品池内进行反射而朝向光检测器，散射光测定用光源以朝向反射后的光路并与该反射后的光路以预定的角度相交的方式射出散射光测定用的光，所述反射后光路为被反射镜反射而朝向光检测器的透过光测定用的光的光路。
光学测定装置以及水质分析系统

[发明专利]吸收光谱仪-CN201611059127.6有效
发明人： 有本公彦;斧田拓也;中原达也 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2016-11-24 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明提供一种吸收光谱仪(1)，为了减小每次参比测定时检测到的光的光量的变动，从构成参比池的全部透光部件的入射面和射出面中选择的至少一个面相对于在光路上行进的光的光轴倾斜。
吸收光谱仪

[发明专利]半导体激光装置以及分析装置-CN202010139281.4在审
发明人：松滨诚;粟根悠介;有本公彦;伊关博臣;桝田真太郎 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2020-03-03 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： H01S5/024 文献下载
摘要：本发明提供半导体激光装置以及分析装置。一种半导体激光装置，用于光学分析，能够减小检测半导体激光元件的温度的温度检测元件的测定误差，高精度地进行半导体激光元件的温度控制，其中，具备：半导体激光元件(2)；温度检测元件(3)，检测半导体激光元件(2)的温度；输出端子(T1、T2)，将温度检测元件3的输出向外部输出；布线(L1、L2)，将温度检测元件(2)与输出端子(T1、T2)电连接；以及热容量增大部(7)，夹设在温度检测元件(3)与输出端子(T1、T2)之间，与布线(L1、L2)的至少一部分接触而增大布线(L1、L2)的热容量。
半导体激光装置以及分析

[发明专利]生物体样品分析装置-CN201880034492.2在审
发明人：中川和哉;中山秀喜;有本公彦;中井阳子 -专利权人：株式会社堀场先进技术
申请日： 2018-07-17 - 公布日： 2020-01-10 - 主分类号： G01N21/76 文献下载
摘要：本发明的生物体物质分析装置(100)合理实现分析效率和分析精度这两方的提高，对由样品中的来源于生物体物质的光进行分析，具备：支架(3)，其保持容纳样品的多个容器(2)；光检测器(4)，其固定于预定位置；支架驱动机构(5)，其使支架(3)移动，将被支架(3)保持的各容器(2)依次定位于光检测器(4)的检测位置(X
光检测器支架生物体物质检测位置导向光检测器支架驱动机构分析效率分析装置预定位置遮光机构光导向分析容纳移动

[发明专利]参比电极-CN201580028852.4有效
发明人：宫村和宏;中井阳子;森良弘;驹田世志人;有本公彦;辻冈唯二;世古朋子;箕轮大辉 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2015-06-19 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01N27/401 文献下载
摘要：本发明的参比电极即使在检测液体中混有气泡时，在液体联络部中也能够维持内部液体与检测液体的导通，进行检测液体的电位检测，所述参比电极包括第二主体(42)和内部电极(R)，所述第二主体具备：收容第二内部液体(15)的第二内部液体室(36)；以使所述第二内部液体(15)与作为检测对象的检测液体(9)接触的方式配置于第二内部液体室(36)的液体联络部(40)，所述内部电极配置于第二内部液体室(36)内，液体联络部(40)包括由多孔质或纤维状的部件形成的导通用部件(41)、和与导通用部件(41)邻接的开口(45)。
参比电极

[发明专利]气体浓度测量装置-CN201710428284.8在审
发明人： 有本公彦;横山一成;世古朋子;土坂祐太郎;北木大介;古川泰生 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2018-01-09 - 主分类号： G01N21/359 文献下载
摘要：本发明提供一种气体浓度测量装置，能够在光纤中不容易产生温度变化，尽管结构简单却不浪费多余的能量，并且不容易因周围环境的空气进入测量光的光路而对测量精度产生影响，所述气体浓度测量装置包括第一密封件(5)，在所述气体池(1)的所述射入面(14)和第一端面(25)之间设置成包围射出口(24)的周围，所述第一端面(25)形成在所述光射出单元(2)的所述射出口(24)的周围；以及第二密封件(6)，在所述气体池(1)的所述射出面(15)和第二端面(35)之间设置成包围射入口(34)的周围，所述第二端面(35)形成在所述受光单元(3)的所述射入口(34)的周围。
气体浓度测量装置

[发明专利]光学分析装置-CN201110432455.7有效
发明人：横山一成;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2011-12-21 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种光学分析装置，通过降低腐蚀性气体对焦点位置修正用的基准修正构件的影响，在降低光学分析装置的测量误差的同时，解决伴随更换基准修正构件所产生的各种问题。本发明的光学分析装置包括基准修正构件(6)，该基准修正构件(6)能在位于聚光光学系统(3)和检测光学系统(4)之间的光路(L)上的基准位置(R)、以及从该基准位置(R)退避开的退避位置(S)之间移动，使在基准位置(R)上通过的光的焦点位置与通过位于测量位置(P)上的测量单元(5)的光的焦点位置基本相同，基准修正构件(6)的在基准位置(R)上与光路(L)相交的外表面部分(6A)，由对腐蚀性气体具有耐腐蚀性的材料构成。
光学分析装置

[发明专利]光学测量用池-CN201110148022.9无效
发明人：横山一成;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2011-06-01 - 公布日： 2012-02-15 - 主分类号： G01N21/05 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量用池，在降低制造成本的同时，可以改变池长度，并且可以将垫片可靠地定位在希望的位置。流动池具有夹持流道的一对光学窗，流动池包括：池主体，设置有容纳凹部以及与容纳凹部连通的液体导入部和液体导出部；一对透光部件，容纳在容纳凹部中，形成一对光学窗；垫片，确定一对透光部件彼此的相对面之间的距离；以及按压机构，将透光部件和垫片朝向容纳凹部的底面按压，并形成流道，在一对透光部件彼此的相对面的至少一方上，设置有形状与垫片对应的定位凹部，垫片嵌入定位凹部而被大体定位。
光学测量

[发明专利]荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具-CN201010502167.X无效
发明人：岸田真由子;驹谷慎太郎;大泽澄人;黑住拓司;后藤智;金马崇;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2010-09-28 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具。试样室收容有液体燃料等试样，并且用X射线透射片密封，在内部压力上升的情况下，在作为窗口部的X射线透射片膨胀之前，试样杯端面变形，使得试样室内的容积增大。通过把膜状材料折叠形成试样杯端面，在试样室内的压力上升的情况下，试样杯端面向试样室外侧扩展，试样室内的容积增大。因容积增大可以缓解压力的上升，从而可以防止X射线透射片的膨胀。
荧光射线分析试样组装用具

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