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[实用新型]全光场偏振像差检测装置-CN201220130320.5有效
发明人： 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-03-31 - 公布日： 2013-01-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种全光场偏振像差检测装置，该装置包括：全偏振态发生器、全偏振态分析器及信号处理和控制系统。本实用新型具有结构简单、共光轴且稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。
全光场偏振检测装置

[实用新型]光束斯托克斯参量测量装置-CN201220244241.7有效
发明人：汤飞龙;李中梁;王向朝;步扬;曹绍谦 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-05-28 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：一种光束斯托克斯参量测量装置，该偏振测量装置由分光棱镜组、相位延迟器阵列、检偏器、光电探测器阵列以及信号处理系统组成，光电探测器阵列各单元与相位延迟器阵列各单元一一对应。本实用新型可以对光束斯托克斯参量实时测量，减小了相位延迟器件的相位延迟量误差、快轴方向误差和检偏器的透光轴方向误差、消光比误差对光束偏振态测量精度的影响。
光束斯托参量测量装置

[发明专利]光束斯托克斯参量测量装置及测量方法-CN201210169524.4无效
发明人：汤飞龙;李中梁;王向朝;步扬;曹绍谦 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-05-28 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：一种光束斯托克斯参量测量装置及测量方法，该偏振测量装置由分光棱镜组、相位延迟器阵列、检偏器、光电探测器阵列以及信号处理系统组成，光电探测器阵列各单元与相位延迟器阵列各单元一一对应。该测量方法为：采用相位延迟器阵列代替旋转相位延迟器，并根据所述待测光的偏振方向，调整检偏器透光轴方向与所述待测光束的偏振方向平行及垂直，分别再进行待测光束的偏振参量测量，根据光电探测器阵列探测到的光强信号进行数据处理，实现光束斯托克斯参量的实时高精度测量。本发明可对光束斯托克斯参量实时测量，减小了相位延迟器件的相位延迟量误差、快轴方向误差、检偏器的透光轴方向误差和消光比误差对光束偏振态测量精度的影响。
光束斯托参量测量装置测量方法

[实用新型]全光场全斯托克斯参量检测装置-CN201220022714.9有效
发明人： 曹绍谦;步鹏;步扬;王向朝;汤飞龙;李中梁 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-01-18 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：一种全光场全斯托克斯参量检测装置，该装置包括：补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括：改变偏控电压，得到电光延迟为2π的光强矩阵；改变偏控电压，得到电光延迟为π/2的光强矩阵；对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本实用新型具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。
全光场全斯托参量检测装置

[发明专利]全光场偏振像差检测装置及检测方法-CN201210091180.X有效
发明人： 曹绍谦;步扬;步鹏;王向朝;张敏;汤飞龙;李中梁 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-03-31 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种全光场偏振像差检测装置及检测方法。该装置包括：全偏振态发生器PSG、全偏振态分析器PSA及信号处理和控制系统。该检测方法包括：改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第一次测量；改变法拉第旋转器上加载偏控电压的大小，进行第二、三、四次测量；根据算法对四次测量结果进行处理。本发明具有装置结构简单、共光轴且稳定、测量无需机械转动、算法简单、高空间分辨率且测量速度较快的特点。
全光场偏振检测装置方法

[发明专利]全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法-CN201210015266.4有效
发明人： 曹绍谦;步鹏;步扬;王向朝;汤飞龙;李中梁 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-01-18 - 公布日： 2012-07-04 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法，该装置包括：补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括：改变偏控电压，得到电光延迟为2π的光强矩阵；改变偏控电压，得到电光延迟为π/2的光强矩阵；对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本发明具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。
全光场全斯托参量检测装置方法