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[实用新型]一种采用卡接方式组装的分立器件测试座-CN202320345229.3有效
发明人：何可人;衡军 -专利权人： 擎湾科技（无锡）有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片老化测试设备技术领域，具体为一种采用卡接方式组装的分立器件测试座，包括测试座外壳体，所述测试座外壳体内部的底部位置处填塞有内塞板，所述测试座外壳体顶部位置处的表面开设有三组插入方孔，所述测试座外壳体的内部设置有三组金属簧片部件，所述金属簧片部件的内部包括有金属簧片底端和夹持簧片，所述测试座外壳体与内塞板通过内塞卡接机构连接，所述内塞卡接机构由卡接部件和卡孔组成。本实用新型不仅组装便捷方便，整体效果牢固稳定，而且无两侧固定孔的设计，使测试座整体长度缩小，使用时更为节省PCB空间，而且可使封装器件的金属引脚可以完全浸没插入且无外露部分，可使封装器件安装后稳定不易抖动摇晃。
一种采用方式组装分立器件测试

[实用新型]一种四引脚封装器件老化测试座-CN202320337082.3有效
发明人：衡军;何可人 -专利权人： 擎湾科技（无锡）有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及测试座技术领域，具体为一种四引脚封装器件老化测试座，包括测试座壳体，所述测试座壳体顶部位置处的表面开设有三组插入方孔，所述测试座壳体内部的底部位置处填塞有内塞板，所述内塞板外侧的表面与测试座壳体的内壁紧密贴合，所述测试座壳体与内塞板之间通过装配卡接机构相连接，所述装配卡接机构的内部包括有内塞式卡接组件和卡孔，所述测试座壳体的内部设置有簧片夹持机构，所述簧片夹持机构由金属簧片组件、紧压弹簧和连接块构成。本实用新型不仅提高了测试座使用时引脚接触的稳定性，使测试座生产组装便捷方便，节省空间且安装稳定，而且提高了绝缘安全性能，提高了测试座和整个老化板的绝缘耐压极限。
一种引脚封装器件老化测试

[发明专利]一种微秒级脉冲正向浪涌电流测试系统-CN202310569779.8在审
发明人：黄晓鸣;衡军 -专利权人： 擎湾科技（无锡）有限公司
申请日： 2023-05-19 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种微秒级脉冲正向浪涌电流测试系统，包括器件夹具；器件测试单元，用于对元器件的进行反向漏电流检测和正向导通压降检测；脉冲单元，用于获取瞬间电流并输送给待测试的元器件；供电单元，用于对脉冲单元进行供电；以及控制单元，用于控制器件测试单元、脉冲单元和供电单元的启停以及参数修改。本发明使用较为简单的测试电路可产生10us以下的短脉冲大电流，用于模拟测试二极管的极限正向浪涌电流；改装置产生的短脉冲大电流的上升沿和下降沿均可控制接近于1us左右，2us以下；在测试后，设备可对被测器件进行反向漏电流检测与正向导通压降检测，便于快速判断器件的状态结果，预判断功能提高了测试过程的安全性且便捷方便。
一种微秒脉冲正向浪涌电流测试系统