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[发明专利]USB数据引脚阻抗检测-CN201480082118.1有效
发明人：史富强;姚建明;黄维海;李勇;约翰·威廉·凯斯特森 -专利权人：戴乐格半导体公司;戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2014-09-23 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01R31/06 文献下载
摘要：一种用于确定通信接口的数据引脚处的阻抗的装置。在一个实施方式中，该装置包括：被配置成选择性地向数据引脚注入测试电流的电流源。该装置还包括感测电路，用于感测与在没有注入测试电流的数据引脚处的电压对应的第一测试电压以及与在被注入测试电流的数据引脚处的其他电压对应的第二测试电压。感测电路基于第一测试电压和第二测试电压来确定数据引脚处的阻抗。
usb 数据引脚阻抗检测

[发明专利]生成脉冲宽度调制信号的系统和方法-CN201310272232.8有效
发明人：王煜文;王乃龙;邓广来 -专利权人： 戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2013-06-28 - 公布日： 2017-09-05 - 主分类号： H03K7/08 文献下载
摘要：本发明提出了一种用于生成脉冲宽度调制PWM信号的系统和方法，其中所述PWM信号包括多个PWM脉冲窗口，每个PWM脉冲窗口包括一个或多个PWM脉冲，所述系统包括PWM脉冲窗口确定器，确定每个PWM脉冲窗口的位置；PWM脉冲周期确定器，确定每个PWM脉冲窗口中的PWM脉冲的周期；PWM脉冲占空比确定器，确定所述周期下的PWM脉冲的占空比；以及PWM脉冲数目确定器，确定每个PWM脉冲窗口中的PWM脉冲的数目。根据本发明，可以使PWM信号处于低电平一段比较长的时间，例如使PWM信号在比PWM脉冲周期要长的多的一段时间处于低电平，并且之后，恢复PWM脉冲，从而例如通过精心设计用于每个LED的PWM信号，可以降低每个LED打开时间上的重叠。
生成脉冲宽度调制信号系统方法

[发明专利]LED驱动器控制器、LED驱动器及LED驱动方法-CN201310288587.6有效
发明人：孔令新;王乃龙 -专利权人： 戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2013-07-10 - 公布日： 2017-08-15 - 主分类号： H05B37/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种LED驱动器控制器、LED驱动器及LED驱动方法，该LED驱动器控制器可以包括控制逻辑模块、第一数模转换器、多个反馈回路以及多个分压电阻，能够解决相关技术中通过漏极电压检测LED串短路过程中的扩大芯片面积、增加芯片成本的问题。
led 驱动器控制器驱动方法

[发明专利]检测LED串中LED短路或LED串之间匹配性的方法和系统-CN201310086406.1有效
发明人：王乃龙;阳冠欧;王煜文 -专利权人： 戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2013-03-18 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明公开了检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法和系统，其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端，另一端分别连接到相应的开关。根据本发明，首先获得在电源输出端输出第一电压时，各个LED串的第一电流。然后计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异。接下来将所述差异与一个比较阈值进行比较。最后将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。根据本发明，能降低控制芯片管脚的数目以及面积。
检测 led 短路之间匹配方法系统

[发明专利]用于DC/DC变换器的PWM信号发生器及对应DC/DC变换器-CN201210523596.4有效
发明人：牛旭花;赵孝刚 -专利权人： 戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2012-12-06 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： H02M3/07 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于DC/DC变换器的PWM信号发生器以及相应的DC/DC变换器。该PWM信号发生器包括一个斜波电压发生器和一个比较器。该斜波电压发生器用于生成一个斜波电压，包括恒流源；电容器单元，其第一端连接于所述恒流源的输出端，其第二端可操作为与所述DC/DC变换器中的功率开关所在的电流支路中的电压检测点连接；斜坡开关，与所述电容器单元并联。该比较器的第一输入端与电容器单元的第一端连接，其第二输入端与一个误差信号连接，其输出端可操作以输出脉冲宽度调制信号，用于对功率开关和斜坡开关分别进行控制。本发明的实施例能够实现对检测电压与斜坡电压的直接相加。
用于 dc 变换器 pwm 信号发生器对应

[发明专利]用于芯片的测试控制电路以及相应的方法-CN201210528275.3有效
发明人：王乃龙;阳冠欧 -专利权人： 戴泺格集成电路（天津）有限公司
申请日： 2012-12-05 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G05B19/04 文献下载
摘要：本发明涉及用于芯片的测试控制电路以及相应的方法。例如，本发明的实施例提供一种用于芯片的测试控制电路，测试控制电路被包含在芯片中，并且包括：第一端子，连接至芯片的电源端子；第二端子，连接至芯片中用于测试芯片的电特性的测试电路；以及控制模块，操作以基于经由第一端子接收的芯片的电源电压而产生至少一个测试控制信号，并且经由第二端子向测试电路输出测试控制信号以控制测试电路的操作。还公开了包含该测试控制电路的芯片和相应的方法。
用于芯片测试控制电路以及相应方法