专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]散射辅助超定位显微术方法及相关装置-CN201980019390.8有效
  • 马可·莱奥尼蒂;朱塞佩·安东尼奥奇;雷诺·塞卡雷利 - 生命科学突破性技术进步有限责任公司;意大利技术学院基金会
  • 2019-03-26 - 2023-03-31 - G01N21/64
  • 一种荧光显微术方法,包括以下步骤:A.用相干激发光束(5)照射包括一个或多个荧光发射体的散射样品,相干激发光束的波前具有第一初始配置C1以激发散射样品中包括的一个或多个荧光发射体;B.通过像素成像单元(45)采集与散射样品的背景图像对应的第一初始图像F1,F1=FB,从而获得散斑颗粒图像;C.选择坐标为[xN,yN]的M个目标像素PN,所述M个目标像素属于第一初始图像F1的具有至少一个荧光发射体的荧光信号的区域,其中N=1、…、M,M个目标像素PN中的每个目标像素均具有第一初始强度IPN1;D.针对M个目标像素PN中的每个目标像素,优化波前的第一初始配置,以便减小第一初始图像F1的散斑颗粒尺寸,并且获得散射样品的具有荧光信号的局部最大值IPN最大的最终图像F最终(IPN最大),所述局部最大值对应于目标像素PN的最大强度;E.针对M个目标像素PN中的每个目标像素,从在步骤D获得的最终图像F最终(IPN最大)中减去在步骤B获得的背景的第一初始图像FB,针对M个目标像素PN中的每个目标像素,获得仅具有从位于强度为IPN散斑的像素[XN,ZN]处的散斑颗粒而来的荧光信号的图像F散斑(PN);F.针对M个目标像素PN中的每个目标像素,用具有自由中心坐标的高斯函数对在步骤E中获得的图像F散斑(PN)进行拟合,从而获得xy平面中的坐标(XN,ZN)和强度IN;G.针对M个目标像素PN中的每个目标像素,生成包含高斯分布的图像FN,所述高斯分布以在步骤F中获得的坐标(XN,ZN)为中心并且具有强度IN、并且具有等于散射样品的平均散斑颗粒尺寸S的束腰;H.针对M个目标像素PN中的每个目标像素,通过对在步骤G获得的M个图像FN求和来生成样品的最终图像。
  • 散射辅助定位显微方法相关装置
  • [发明专利]用于基底无损穿透的系统-CN201480050390.1有效
  • A·萨德吉;B·马佐莱 - 意大利技术学院基金会
  • 2014-07-01 - 2017-11-17 - E21B43/10
  • 系统(10,100,200)包括挖掘组件(11),其依次包括支承体(12),具有界定封闭路径的周边边缘(16);分布设备(18),相对于所述周边边缘(16)横向突出,在所述支承体(12)上以导向方式可移动,并且用于朝向所述周边边缘(16)的外侧横向分布一定数量的可硬化或可固化材料,以使得能够放置界定围绕所述挖掘组件(11)的管状结构(T)的所述可硬化或可固化材料的多个轴向叠加环形层;和发动机装置(20),用于在所述支承体(12)上移动所述分布设备(18)。
  • 用于基底无损穿透系统

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