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[发明专利]FPGA内部DSP模块的测试方法-CN201811510144.6有效
发明人：刘伟;项宗杰;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明的FPGA内部DSP模块的测试方法包括：针对测试项目，PC机生成后缀为coe的数据文件并加载到FPGA内部的RAM中；所述后缀为coe的数据文件伪随机数和伪随机数对应的结果；在PC机上完成测试程序编写；测试程序下载至FPGA，由测试程序对FPGA进行配置；从RAM中读取伪随机数作为FPGA内部DSP模块的输入；比对DSP模块的输出与RAM中的伪随机数对应的结果，获得测试结果。本发明的FPGA内部DSP模块的测试方法利用FPGA内部的RAM存放和读取所需要的伪随机数来实现DSP功能全覆盖测试。
fpga 内部 dsp 模块测试方法

[发明专利]K系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法-CN201811518304.1有效
发明人：王立恒;项宗杰;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2018-12-12 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明提供K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，包括：定位FPGA内部所有CLB模块的具体位置；对CLB模块阵列进行左右对等分，每等分中同行CLB模块并行，同列CLB模块串行进行配置，实现CLB资源的全覆盖；对配置的CLB模块阵列进行内建自测试，通过实际输出的数据与预期数据的比较，判断CLB模块阵列是否存在缺陷，若某个CLB模块出现问题，根据输出信号与时钟的对应关系，定位CLB模块出错的具体位置。本发明提供的K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，实现了所有CLB模块的定位，不用计算“空洞”阵列具体位置，优化了配置程序，实现了最优化的配置次数，配置程序具有通用性，减少了程序重复编写的时间。
系列 fpga 内部 clb 模块定位通用性配置测试方法

[发明专利]一种横向元器件制样研磨方法-CN201811509557.2有效
发明人：廉鹏飞;刘相全;孔泽斌;罗宇华;杨亮亮;刘伟鑫;楼建设;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：一种横向元器件制样研磨的方法，该方法步骤如下：步骤一、根据元器件的高度首先确定样品高度，并在制样前于模具内侧标记第一高度，以及第二高度，确保元器件位于样品高度上的中心；步骤二、按要求配置环氧树脂，并将环氧树脂加至模具内的第一高度处；步骤三、待环氧树脂固化后，将元器件横向置于其表面的正中心处；步骤四、再次将环氧树脂加至第二高度，此时元器件位于样品高度上的中心；步骤五、固化后完成制样，新方法与传统制样方法相比，样品体积会有效减小；步骤六、粗磨；步骤七、精磨：使用细砂纸进行精磨，直至形貌达到最佳观测效果；步骤八、抛光：用抛光液及相匹配的抛光布抛光，直至形貌达到最佳观测效果。
一种横向元器件研磨方法

[发明专利]高隔离度微波不等分功分器的设计方法-CN201711223117.6有效
发明人：杜林;孔泽斌;徐导进;戴利剑;宋翔;狄陆 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： H01P5/16 文献下载
摘要：本发明提供了一种微波不等分功率分配器的设计方法。当工作频率升高，微带线的物理长度变小，高隔离度不等分功分器利用传统方式难以实现。本发明利用低温共烧陶瓷工艺将微波电路和隔离电阻一次烧成，功分器由T型枝节、隔离电阻、弯折的360°电压传递微带线、阻抗变换微带线和测试端口组成。本发明通过增加电长度为360°传输线解决了功分器和电阻的连接问题和隔离问题，与现有的电长度为270°的微带功分器技术方案相比较，电路尺寸减小且减少了插入损耗；与现有的不附加隔离电阻的技术方案相比较，本发明设计的微波/毫米波不等分功分器提供了较高的隔离度。
隔离微波等分功分器设计方法

[发明专利]一种FPGA内部DCM、PLL的内建自测方法-CN201810895725.X有效
发明人：项宗杰;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2018-08-08 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明提供FPGA内部DCM、PLL的内建自测方法，包括：利用DCM或PLL包含多个在相位上为同步的输出时钟信号为前提，分别用第一计数器counter1和第二计数器counter2对第一输出时钟信号CLK_OUT1和第二输出时钟信号CLK_OUT2进行计数；对第一计数器counter1和第二计数器counter2进行比较，在较慢(即频率较低)的输出时钟信号的上升沿，较快计数器的数值为较慢计数器的数值的n倍，n为快时钟与慢时钟的频率之商，若不是，则DCM或PLL功能不正常。本发明实现了FPGA内建自测，且对于可在线改变DCM或PLL输出时钟频率的FPGA，能够在以预设的步进自动对DCM、PLL输出频率的范围进行扫描，仅需一个FPGA配置文件(或烧写文件)即可实现。
一种 fpga 内部 dcm pll 自测方法

[发明专利]毫米波3D同轴传输线设计制造方法-CN201711201252.0有效
发明人：杜林;孔泽斌;徐导进;戴利剑;狄陆;宋翔 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： H01P11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于LTCC技术的毫米波3D同轴传输线设计制造方法，LTCC技术是一种多层布线、立体互连技术，可实现100层的陶瓷基片烧结。本发明采用在毫米波频段内低损耗的Ferro A6M陶瓷材料作为基片，在单层基片上利用激光工艺加工准直度和形貌均良好的通孔，利用激光对准技术将多个通孔进行高精度对准，利用圆形保护焊盘将多个填充了金属浆料单层的通孔互连，叠加成所需要的高度的长通孔；利用环形保护焊盘将外围的长通孔互连，两者围绕成网状结构充当外导体，从而构建3D结构的毫米波同轴传输线。仿真结果显示，新型高可靠性同轴传输线可工作至300 GHz。
毫米波同轴传输线设计制造方法

[发明专利]一种基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法-CN201510906007.4有效
发明人：许伟达;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2015-12-09 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明公开了基于FLEX测试模数转换器RHF1201的方法包括：根据产品说明，RHF1201各引脚分别连接激励信号源，包括电源、基准信号、控制信号和数字信号；采用FLEX测试系统，通过选择不同性能的激励信号测试不同的参数。
一种基于 flex 测试转换器 rhf1201 方法

[实用新型]FPGA结温测试的校准装置-CN201921931514.3有效
发明人：项宗杰;王立恒;王兰来;王昆黍;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置，其特征在于，包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA，和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器；以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元，所述第一数字处理单元显示所述温度AD转换器输出的表征温度的数字信号；以及第一电源组和第二电源组，其中，第一电源组为FPGA模块供电，所述第二电源组为该校准装置的其他元件供电；当测试时，电源组A停止对FPGA供电，电源组B持续供电。
fpga 测试校准装置

[实用新型]FPGA功能测试装置-CN201921931515.8有效
发明人：项宗杰;胡小海;楼建设;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，上位机中存储的测试程序经接口芯片配置至待测FPGA，FPGA的测试结果经接口芯片回传至上位机。
fpga 功能测试装置

[发明专利]FPGA结温测试的校准装置及方法-CN201911081428.2在审
发明人：项宗杰;王立恒;王兰来;王昆黍;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种FPGA结温测试的校准装置，其特征在于，包括设置在高低温箱内的待结温测试的FPGA，和与FPGA的结温测试管脚连接的温度AD转换器；以及设置在高低温箱外的第一数字处理单元，所述第一数字处理单元用于解析并显示所述温度AD转换器输出的表征温度的数字信号；以及第一电源组和第二电源组，其中，第一电源组为FPGA模块供电，所述第二电源组为该校准装置的其他元件供电；当测试时，电源组A停止对FPGA供电，电源组B持续供电。
fpga 测试校准装置方法

[发明专利]FPGA功能测试方法及装置-CN201911081430.X在审
发明人：项宗杰;胡小海;楼建设;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2019-11-07 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，上位机运行有上位机软件，用于配置FPGA，显示自测试结果；上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序；FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，用于接收由上位机传送的自测试程序，并将自测试程序配置至待测FPGA上，开启测试，并将FPGA的测试结果回传至上位机软件。
fpga 功能测试方法装置

[发明专利]应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法-CN201611026987.X有效
发明人：刘伟;徐导进;许伟达;潘潇雨 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天探维传媒科技有限公司
申请日： 2016-11-17 - 公布日： 2020-02-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法，使用差分放大器THS4503及其外围电路，将MicroFLEX产生的单端数字信号转换为AD6645所需要差分数字信号，步骤如下：步骤一：根据ATE产生单端数字信号的幅度范围和带宽，确定所需要的差分放大器的增益和带宽；步骤二：反馈电阻和增益电阻阻值的计算，如果信号源有阻抗，还要进行阻抗匹配；步骤三：根据差分放大器的工作原理进行外围电路设计；步骤四：通过MicroFLEX的IG‑XL软件编程来产生和控制信号。
应用于 ate 测试输入输出时钟驱动方法

[发明专利]基于FLEX的高速运算放大器测试电路-CN201310293454.8有效
发明人：许伟达;徐导进;陶帅 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2013-07-12 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的基于FLEX的高速运算放大器测试电路，在高速运算放大器的反向输入端与测试系统MicroFLEX的运放环反向输入端之间并联继电器支路；高速运算放大器的同向输入端分别通过继电器支路与测试系统的运放环同向输入端、视频信号同向输出端、中频信号同向输出端连接，运放环反向输入端和同向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连；高速运算放大器的同向输入端串联继电器支路后接地；高速运算放大器的反向输入端与高速运算放大器的输出端之间并联多个继电器支路；高速运算放大器的输出端与地之间并联多个负载支路；高速运算放大器的输出端分别通过继电器支路与测试系统的中频信号同向测量端、视频信号同向测量端、运放环输出端连接。
基于 flex 高速运算放大器测试电路

[发明专利]CMOS图像传感器光谱响应空间辐射损伤的测试设备及其方法-CN201711223104.9在审
发明人：汪波;刘伟鑫;李珍;戴利剑;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种CMOS图像传感器光谱响应空间辐射损伤的测试设备及其方法：利用溴钨灯等卤素灯光源发出光，经过积分球无数次反射后输出均匀光，均匀光通过滤波轮上不同的滤光片变成不同波长的单色光，调整放置在三维样品调整台上的待测CMOS图像传感器，使不同波长的单色光照射在光敏面上，根据所采集的图像信息得出CMOS图像传感器的光谱响应，再将CMOS图像传感器受高能粒子辐照后，再进行一次测试，得到器件的光谱响应辐射损伤。本发明能够对CMOS图像传感器光谱响应的辐射损伤进行定量的分析评价，为星用CMOS图像传感器的选型、抗辐射加固设计以及器件受辐照后光响应性能退化的机理研究提供检测手段。
光谱响应损伤测试设备空间辐射均匀光波长高能粒子辐照单色光照射光响应性能卤素灯光源辐照机理研究图像信息样品调整辐射单色光积分球抗辐射滤波轮滤光片溴钨灯光敏选型反射三维退化采集测试输出检测分析

[发明专利]用于CMOS图像传感器单粒子效应检测的设备及检测方法-CN201711226250.7在审
发明人：汪波;刘伟鑫;李珍;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子效应检测的设备及检测方法，本发明采用脉冲激光单粒子微束试验，可以准确定位到不同功能模块。根据器件版图工艺结构，对CMOS图像传感器不同子电路逐点扫描，实时监测、记录、识别器件不同区域发生单粒子效应时图像异常表现形式，获得单粒子效应异常图像特征库，建立CMOS图像传感器单粒子效应表征技术；本发明实现了在线实时识别不同的CMOS图像传感器单粒子效应，可在线实时检测CMOS图像传感器的单粒子瞬态、单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子锁定；本发明可实现图像实时无损传输，解决图像在传输过程中诸如噪声干扰、卡屏等问题。
单粒子效应单粒子单粒子效应检测在线实时检测图像单粒子翻转单粒子锁定表现形式表征技术传输过程工艺结构功能中断脉冲激光器件版图实时监测实时识别图像异常无损传输异常图像噪声干扰逐点扫描准确定位特征库子电路检测瞬态微束记录试验

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