专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]多路触电点开关柜无线测温电路-CN202321178349.5有效
  • 黄得兵;彭志高 - 广东虎柏机电有限公司
  • 2023-05-16 - 2023-10-24 - G01K13/00
  • 本实用新型涉及无线测温技术领域,公开了一种安全性较高且可靠性较好的多路触电点开关柜无线测温电路,具备:至少一个温度检测电路(101),用于获取被检测对象工作时的温度信号;第一无线收发电路(102),用于接收温度信号,并对输入的温度信号进行调制处理;第二无线收发电路(20),用于接收经调制后的温度信号,并对输入的温度信号进行放大及解调处理;主控制器(MCU),其信号输入端与第二无线收发电路(20)的信号输出端连接,用于接收经解调后的温度信号,以获得相应被检测对象的温度信息。
  • 触电开关柜无线测温电路
  • [实用新型]芯片散热器及计算机-CN202321011772.6有效
  • 马利强;彭志高 - 东莞市神速五金电子有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-09-08 - G06F1/20
  • 本实用新型公开了一种芯片散热器及计算机,该芯片散热器包括至少两个托载支架、第一连接件、散热组件和压力式扣具,所述托载支架通过所述第一连接件与所述电路主板连接,至少两个所述托载支架和多个所述第一连接件组成具有容置空间的安装载台,所述散热组件通过所述压力式扣具安装于所述安装载台上,所述散热组件的散热底座置于所述容置空间内并抵邻接触所述芯片,其中,所述第一连接件,用于限定所述安装载台与所述电路主板的间距,以使所述压力式扣具按预设压力将所述散热组件安设在所述芯片上。通过本申请,解决了相关技术中芯片散热器与芯片接触不良,造成散热器对CPU或电子芯片进行散热的效果不佳的问题。
  • 芯片散热器计算机
  • [发明专利]一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法-CN202310235688.0在审
  • 陶永洪;林志东;彭志高 - 湖南三安半导体有限责任公司
  • 2020-07-01 - 2023-08-18 - H01L29/06
  • 本发明涉及一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法。所述的碳化硅功率二极管器件至少包括:SiC衬底、SiC外延层、肖特基金属层、第一电极层、第一欧姆接触金属层、第二电极层;有源区设置大致两种规格的P型区,表面面积较大、较宽裕的第一P型区表面覆盖欧姆接触金属,表面面积较小、较细狭的第二P型区表面不设欧姆接触金属。在小电流的条件下,电流从有源区的N型区通过;在大电流的条件下,二极管的正向电压升高,第一P型区表面覆盖欧姆接触形成的PiN二极管势垒开启,电流可以从该区域通过,从而提升二极管的浪涌电流能力。所述的制备方法用于制备所述的碳化硅功率二极管器件,提高工艺兼容性,简化工艺的复杂度。
  • 一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法
  • [发明专利]一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法-CN202010626798.6有效
  • 陶永洪;林志东;彭志高 - 湖南三安半导体有限责任公司
  • 2020-07-01 - 2023-05-05 - H01L29/06
  • 本发明涉及一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法。所述的碳化硅功率二极管器件至少包括:SiC衬底、SiC外延层、肖特基金属层、第一电极层、第一欧姆接触金属层、第二电极层;有源区设置大致两种规格的P型区,表面面积较大、较宽裕的第一P型区表面覆盖欧姆接触金属,表面面积较小、较细狭的第二P型区表面不设欧姆接触金属。在小电流的条件下,电流从有源区的N型区通过;在大电流的条件下,二极管的正向电压升高,第一P型区表面覆盖欧姆接触形成的PiN二极管势垒开启,电流可以从该区域通过,从而提升二极管的浪涌电流能力。所述的制备方法用于制备所述的碳化硅功率二极管器件,提高工艺兼容性,简化工艺的复杂度。
  • 一种碳化硅功率二极管器件及其制备方法
  • [发明专利]半导体结构和半导体结构的制备方法-CN202211408804.6有效
  • 彭志高;陶永洪 - 湖南三安半导体有限责任公司
  • 2022-11-11 - 2023-04-07 - H01L29/417
  • 本发明提供了一种半导体结构和半导体结构的制备方法,涉及半导体技术领域,该半导体结构包括衬底、半导体外延层、场氧化层、阳极层和钝化层,阳极层被配置为从有源区上延伸设置在部分场氧化层上,阳极层的侧壁与顶壁之间通过一弧形的连接面连接,钝化层覆盖在阳极层的侧壁上并延伸覆盖至连接面上。通过将阳极层的侧壁上部拐角处设置成圆弧状,能够使得阳极层的侧壁与顶壁之间能够平滑过渡,避免了倾斜角度的急剧变化,从而避免了钝化层在侧壁上拐角处产生应力集中现象。本发明提供的半导体结构,其能够减小由于金属层陡直造成的拐角应力集中造成的裂痕问题,提升器件的抗湿气能力,并优化钝化层的爬坡问题,提升钝化层的成型质量。
  • 半导体结构制备方法

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