“张梵彪”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果8个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种带有卷积效果的触摸屏激励信号矩阵构造方法-CN201911314010.1有效
发明人： 张梵彪 -专利权人：江苏触宇光电有限公司
申请日： 2019-12-19 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明公开了一种带有卷积效果的触摸屏激励信号矩阵构造方法，包括以下步骤：构建激励信号矩阵，对控制器进行设定，控制同一时刻同时提供激励的tx的数量为pr或者pr‑1个，利用伽罗瓦域GF(pr)上的二次剩余，当矩阵的i‑j=0时取值0，当i‑j满足二次剩余时取值1，不满足时取值‑1，构造出矩阵Q，满足Q*Q'=(pr)*I‑J。通过上述方式，本发明所述的带有卷积效果的触摸屏激励信号矩阵构造方法，给出了具有成熟数学理论支持的构造发射矩阵T的方法，能够约束矩阵每行和在‑1到1之间，可以使得测量信号严格约束在检测区间的中心位置，构造的矩阵T具有卷积效果，并且可以不可逆，有利于在不改变测量区间的情况下提高信噪比。
一种带有卷积效果触摸屏激励信号矩阵构造方法

[发明专利]一种消除衍射的触控膜-CN201710049237.2在审
发明人： 张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2017-01-23 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G06F3/044 文献下载
摘要：本发明公开了一种消除衍射的触控膜，所述的触控膜内设置有发射导线和接收导线，所述的发射导线和接收导线采用样条曲线的方式排列，所述的发射导线和接收导线的交叉点构成横平竖直的M*N阵列。通过上述方式，本发明提供的消除衍射的触控膜，对导线进行布局，消除了触控膜结合液晶使用时的衍射现象的同时，找到生产速度最快的曲线，并且可以保证横竖两条导线的交叉点在同一直线上，利于上层IC计算。
一种消除衍射触控膜

[实用新型]一种消除衍射的触控膜-CN201520547861.1有效
发明人： 张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2015-07-27 - 公布日： 2016-03-30 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本案为一种消除衍射的触控膜，包括：接收导线，其呈直线状；发射导线，其呈折线状，其与所述接收导线交叉，且与垂直于所述接收导线的方向呈一夹角，所述的夹角在10°到90°之间；其中，每一条发射导线与多条接收导线的多个交叉点位于一条直线上。本案将发射导线改曲线为折线状，与接收导线交叉，且与垂直于接收导线的方向呈一10°到90°之间的夹角，每一处夹角均是大于10°，不仅消除了触控膜结合液晶使用时的衍射现象，并且可以保证横竖两条线的交叉点在同一直线上，利于上层IC计算，简化了触控膜的生产工艺，提高了生产效率。
一种消除衍射触控膜

[实用新型]一种抗干扰的触控膜-CN201520249147.4有效
发明人：罗延廷;张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2015-04-23 - 公布日： 2015-10-21 - 主分类号： G06F3/044 文献下载
摘要：本案为一种抗干扰的触控膜，触控膜（屏）上的每一个交叉测量点由通过同一个焊盘的多根发射线、接收线共同构成，所述同一焊盘上焊接有多根导线，其中，所述多根为两根及两根以上。本案的增强触控膜（屏）抗干扰性能的布局方式为触控膜上的每一个交叉测量点由通过同一个焊盘的多根发射线、接收线共同构成，也就是通过在同一个焊盘上增加导线数量的布局方式，达到了不增加线宽的同时，增加了触控膜（屏）的感应信号的有益效果。
一种抗干扰触控膜

[发明专利]一种消除衍射的触控膜-CN201510444796.4在审
发明人： 张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2015-07-27 - 公布日： 2015-10-14 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本案为一种消除衍射的触控膜，包括：接收导线，其呈直线状；发射导线，其呈折线状，其与所述接收导线交叉，且与垂直于所述接收导线的方向呈一夹角，所述的夹角在10°到90°之间；其中，每一条发射导线与多条接收导线的多个交叉点位于一条直线上。本案将发射导线改曲线为折线状，与接收导线交叉，且与垂直于接收导线的方向呈一10°到90°之间的夹角，每一处夹角均是大于10°，不仅消除了触控膜结合液晶使用时的衍射现象，并且可以保证横竖两条线的交叉点在同一直线上，利于上层IC计算，简化了触控膜的生产工艺，提高了生产效率。
一种消除衍射触控膜

[发明专利]一种抗干扰的触控膜及其布局方法-CN201510195817.3在审
发明人：罗延廷;张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2015-04-23 - 公布日： 2015-07-15 - 主分类号： G06F3/044 文献下载
摘要：本案为一种抗干扰的触控膜及其布局方法，触控膜（屏）上的每一个交叉测量点由通过同一个焊盘的多根发射线、接收线共同构成，所述同一焊盘上焊接有多根导线，其中，所述多根为两根及两根以上。本案的增强触控膜（屏）抗干扰性能的布局方式为触控膜上的每一个交叉测量点由通过同一个焊盘的多根发射线、接收线共同构成，也就是通过在同一个焊盘上增加导线数量的布局方式，达到了不增加线宽的同时，增加了触控膜（屏）的感应信号的有益效果。
一种抗干扰触控膜及其布局方法

[发明专利]一种触控膜的FPC焊盘处和甩尾处的布局方式-CN201410535312.2在审
发明人： 张梵彪 -专利权人：苏州触动电子科技有限公司
申请日： 2014-10-13 - 公布日： 2015-02-18 - 主分类号： G06F3/044 文献下载
摘要：一种触控膜的FPC焊盘处和甩尾处的布局方式，包括：触控膜甩尾处，其上的发射线和接收线之间的距离大于10mm，以便忽略发射线和接收线之间的感应电容；且所述触控膜甩尾处上只需布局一组发射线或者一组接收线走直线，其余各组的发射线或者接收线与走直线的发射线或者接收线之间的距离大于10mm；FPC焊盘处，其上相邻的发射线和接收线之间的距离大于3mm间距。本发明所述触控膜的布局方式，改进了触控膜FPC焊盘处及甩尾处的布局走线，避免了触控膜在甩尾处和FPC焊接处产生的信号干扰，减少了生产中的出错率，提高了生产效率，更大程度上减少了发射线和接收线之间的感应电容。
一种触控膜 fpc 焊盘处甩尾处布局方式

[发明专利]用单幅图像分布参数样本反演高斯噪声方差的盲测定方法-CN201210099898.3有效
发明人：肖亮;李恒;唐松泽;张梵彪 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2012-04-09 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用单幅图像分布参数样本反演高斯噪声方差的盲测定方法，利用图像峰度和方差之间存在的内在蕴含关系以及峰度随图像频率衰减下的近似不变性；根据一组预先构造的正交滤波器对去均值图像进行分频处理，构造不同频率滤波图像；计算不同频率滤波图像的峰值和方差，并对峰度按照低频到高频进行衰减，构造分布参数样本；将噪声的方差看作未知量，建立噪声方差的优化反演模型，然后利用直接搜索法通过求解该反演模型的最小点，将求得的最小点作为噪声方差的估计。本发明能够实现图像中高斯噪声方差的自动高精度估计；不需要优选平坦区域和其他参考图像，不需要人工设定任何参数，完全自动，对噪声方差的统计估计精度高。
单幅图像分布参数样本反演噪声方差测定方法

1
共 8 条