专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测量由样本在光信号中引起的相位偏移的方法和设备-CN200580025163.4有效
  • 索伦·阿斯马尔 - 帕瑞萨森思公司
  • 2005-07-27 - 2007-07-18 - G01N21/64
  • 用于测量在光信号中引起的相位偏移的设备具有:第一光源,用于沿着包括例如荧光样本的样本的测量光径发射光信号;以及第二光源,用于沿着伪测量光径发射光信号。提供了测量电子电路,用于接收这些光信号,并且提供在时间上分离的、表示相应光信号的相位的输出。在使用时,由荧光样本在测量光径的光中引起相位偏移。提供了参考电子电路,用于接收表示由第一和第二光源发射的光信号的相位的信号。提供了电路,用于在第一光源的操作期间比较从这两个电路输出的光的相应相位,以提供表示第一测量相位差的输出。然后,通过在第二光源的操作期间进行类似的相位差测量并且比较这两个相位差来对该测量施加校正。
  • 用于测量样本信号引起相位偏移方法设备
  • [发明专利]荧光计-CN200480038756.X有效
  • 索伦·阿斯马尔 - 帕瑞萨森思公司
  • 2004-12-20 - 2007-01-24 - G01N21/64
  • 在用于在样品表面处产生和检测荧光的设备中,该设备高于该样品表面的高度减小,并且由于反射损耗和光散射而导致的所发射的荧光的损耗被最小化。该设备包括三维弯曲的光反射表面(40),其横向于来自光源(32)的光的原始路径而引导该光,并且将该光聚焦到该样品表面处或该样品表面下的照明区(30)。该反射表面(40)还横向于所发射的荧光的原始路径并朝向检测器(46)收集、引导并至少部分地准直该荧光。
  • 荧光

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