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[发明专利]一种测试探针用钯合金底柱头加工装置-CN202111546376.9在审
发明人：钟兴彬;巫彩秀 -专利权人：深圳市新富城电子有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： B23B41/00 文献下载
摘要：本发明涉及加工装置技术领域，尤其是一种测试探针用钯合金底柱头加工装置，现提出如下方案，其包括底座，底座的顶面固定连接有第一气缸和支撑板，第一气缸的顶端设有第二钻孔装置，支撑板的一侧固定连接有支撑杆，支撑杆的下方设有第二气缸，第二气缸的底端固定连接有第一钻孔装置，底座上设有位于第一钻孔装置与第二钻孔装置之间的夹持装置，第一气缸远离支撑板的一侧设有与底座固定连接的固定板，固定板靠近第一气缸的一侧固定连接有第二齿条，第二齿条的一侧滑动连接有滑块，滑块的底部设有可转动的电磁线圈和封口机构，电磁线圈和封口机构均位于夹持装置和第一钻孔装置之间。本发明达到了对底柱本体进行钻孔加工的目的。
一种测试探针合金柱头加工装置

[发明专利]一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置-CN202210072057.7在审
发明人：钟兴彬;巫彩秀 -专利权人：深圳市新富城电子有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子元器件的检测探针强度衰减测试装置，属于探针测试领域。一种电子元器件的检测探针测试装置，包括：安装台、测试板、底座与上料台；所述底座上设有驱动机构，所述测试板与所述安装台均布置在所述底座的上方；所述安装台的靠近所述测试板的侧壁上开设有第一通孔，所述安装台的宽度方向的侧壁上开设有；所述安装台的宽度方向的两侧开设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔相平行且垂直于所述测试板；所述测试板上开设有测试孔，所述测试孔与所述第一通孔对齐；所述测试板上垂直固定安装有导杆，所述导杆穿过所述第二通孔，所述导杆与所述第二通孔滑动连接；所述导杆上固定安装有齿条，所述安装台的侧壁上转动连接有第一轴。
一种电子元器件检测探针强度衰减测试装置