专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]成像装置和成像系统-CN201911333059.1在审
  • 大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;佐藤翔 - 佳能株式会社
  • 2019-12-23 - 2020-07-10 - A61B6/00
  • 公开了成像装置和成像系统。成像装置包括:像素区域,该像素区域包括多个像素;以及偏置布线,该偏置布线被放置在像素的光入射侧以经由限定像素区域的第二边将来自电源的偏置供应到像素区域中的像素。偏置布线包括放置在像素周围的第一布线部分和第二布线部分。第一布线部分放置在远离第二边的Y方向上,并且第二布线部分放置在与Y方向正交的X方向上。第一布线部分包括不透光构件。每一像素的第一布线部分的电阻小于每一像素的第二布线部分的电阻。由于第二布线部分而引起的光损失小于由于第一布线部分而引起的光入射的光损失。
  • 成像装置系统
  • [发明专利]放射线成像装置和放射线成像系统-CN201680028597.8有效
  • 渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘;古本和哉 - 佳能株式会社
  • 2016-03-31 - 2020-07-03 - H04N5/32
  • 提供一种放射线成像装置。该装置包括被布置在图像感测区域中的像素、被配置为获得放射线照射信息的第一和第二检测元件、来自所述第一检测元件的信号要被输出到的第一信号线和来自所述第二检测元件的信号要被输出到的第二信号线、以及被配置为处理从所述第一和第二检测元件输出的信号的信号处理电路。所述第一和第二信号线被布置在所述图像感测区域中或被布置为与所述图像感测区域相邻,所述第一检测元件具有比所述第二检测元件大的、用于检测放射线的区域。所述信号处理电路基于来自所述第一和第二信号线的信号产生放射线照射信息。
  • 放射线成像装置系统
  • [发明专利]放射线摄像设备、系统和该设备的控制方法-CN201510906326.5有效
  • 川锅润;渡边实;横山启吾;大藤将人;藤吉健太郎;和山弘;古本和哉 - 佳能株式会社
  • 2015-12-09 - 2019-05-03 - H01L27/144
  • 一种放射线摄像设备、系统和该设备的控制方法。所述设备包括:检测像素,其包括转换元件和开关元件;包括不同转换元件和不同开关元件的不同像素;信号线,其共通连接至多个所述开关元件;驱动单元,其被配置成驱动所述不同开关元件和所述开关元件;以及控制单元,其被配置成控制所述驱动单元,其中,所述控制单元控制所述驱动单元,从而使得在向至少一个开关元件施加接通状态电压或者断开状态电压的情况下,向不同于所述至少一个开关元件的开关元件,施加相对所述接通状态电压或者所述断开状态电压极性相反的电压,或者向所述不同开关元件施加相对所述接通状态电压或者所述断开状态电压极性相反的电压。
  • 放射线摄像设备系统控制方法
  • [发明专利]放射线摄像设备和放射线检测系统-CN201510494663.8有效
  • 横山启吾;渡边实;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 - 佳能株式会社
  • 2015-08-12 - 2018-12-25 - A61B6/00
  • 本发明涉及一种放射线摄像设备和放射线检测系统。所述放射线摄像设备包括:传感器部,其包括:像素阵列,用于获取与放射线相对应的图像信号;以及多个检测元件,其配置在所述像素阵列内,并且用于检测所述放射线;以及读出电路,用于从所述传感器部读出所述图像信号,其中,所述读出电路包括信号处理电路,所述信号处理电路用于进行以下操作:在判断放射线照射的有无的情况下,对来自所述多个检测元件的信号进行合成和处理,以及在判断放射线剂量的情况下,针对各检测元件对信号进行处理、或者对来自所述多个检测元件中的数量比所述多个检测元件的数量少的检测元件的信号进行合成和处理。
  • 放射线摄像设备检测系统
  • [发明专利]辐射检测装置和辐射检测系统-CN201510068263.0有效
  • 大藤将人;渡边实;横山启吾;川锅润;藤吉健太郎;和山弘 - 佳能株式会社
  • 2015-02-10 - 2017-09-01 - H01L27/146
  • 本发明涉及辐射检测装置和辐射检测系统。辐射检测装置包括转换元件,包含针对各像素分割的第一电极、半导体层和第二电极;切换元件,与第一电极电连接;以及第一绝缘层,分离相邻像素的转换元件。半导体层位于第一电极与第二电极之间。半导体层的外周位于第一电极的外周和第二电极的外周的外面。半导体层包括第一杂质半导体层、第二杂质半导体层和位于第一杂质半导体层与第二杂质半导体层之间的本征半导体层。限定该装置的参数,以将接通切换元件之后10μs的残留电荷设定为不高于2%。
  • 辐射检测装置系统

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