专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]辐射测定装置以及辐射测定方法-CN201310370855.9有效
  • 高橋勲;山田直之;森久起;泉田龙男 - 日立民用电子株式会社
  • 2013-08-23 - 2014-03-26 - G01T1/29
  • 提供一种能够恰当地确定辐射源的位置的辐射测定装置以及辐射测定方法。具备:辐射检测器(101),设置在屏蔽体(101)的内部,检测经由上述入射孔(105h)入射的放射线;测距仪(300),根据从辐射检测器(101)输入的检测信号测定在被拍摄体中的辐射源的分布;光学照相机(200),拍摄在入射孔(105h)的视野内存在的被拍摄体;控制装置(401),对辐射源的分布和光学图像进行重叠而生成合成图像;转动单元(500),通过自动或者手动转动上述屏蔽体,改变成为放射线的测定对象的区域;控制装置(401),将上述合成图像与转动单元(500)的转动角度对应起来显示在显示装置(404)上。
  • 辐射测定装置以及方法
  • [发明专利]放射线检测装置-CN201180034124.6有效
  • 柳主鉉;山田直之;井上慎一;蛭田昭浩;大久保千寻 - 日立民用电子株式会社
  • 2011-07-15 - 2013-03-20 - G01T1/24
  • 本发明提供一种在稠密地配置放射线检测器的情况下也能够减小不灵敏区域的放射线检测装置。放射线检测装置将夹着基板(20)的半导体元件(10)之间的距离设为XG1、将从一个放射线检测器(1)的半导体元件(10)到与该半导体元件(10)相对置且与一个放射线检测器(1)相邻接的其它的放射线检测器(1)的半导体元件(10)为止的距离设为XG2,将排列在Y方向的半导体元件(10)之间的距离设为YG1,将半导体元件间距(110)的横间距设为a、纵间距设为b、半导体元件(10)的放射线入射的面的宽度设为c、长度设为d、位于半导体元件(10)的两端部的元件内像素区域(10a)的长度设为e、被位于多个半导体元件(10)的两端部的元件内像素区域(10a)夹住的多个元件内像素区域(10a)的长度设为f的情况下,满足如下关系:c=a-(XG1+XG2)/2、d=b-YG1=2e+(n-2)f、e=b/n-YG1/2、f=b/n。
  • 放射线检测装置
  • [发明专利]雷达装置-CN200980160290.3有效
  • 山田直之;渡边俊明;中井真琴 - 丰田自动车株式会社
  • 2009-08-25 - 2012-05-23 - G01S13/93
  • 本发明提供一种雷达装置(100),其具有:接收天线(2),此接收天线(2)具有在左右方向上排列配置、且至少一部分在上下方向上错位配置的多个(这里为三个)振子天线(21、22、23);位置检测ECU(5)。此外,位置检测ECU(5)具有:第1位置检测部(53),其根据由多个所述振子天线(21、22、23)所接收到的接收信号的相位差,来对物体(TG)的上下方向位置(P1)进行检测;第1位置补正部(54),其根据上下方向位置(P1)的记录,对该上下方向位置(P1)进行补正,从而求出作为补正后的上下方向位置的第1补正位置(P1A)。通过此种方式,从而准确地检测出物体(TG)的上下方向位置。
  • 雷达装置

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