专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]冷却装置、半导体模块以及车辆-CN201980005949.1有效
  • 山田亨 - 富士电机株式会社
  • 2019-05-09 - 2023-09-22 - H01L23/473
  • 本发明提供包含半导体芯片的半导体模块用的冷却装置,所述冷却装置具备:顶板,其具有下表面;壳部,其包含配置在顶板的下表面侧而用于流通制冷剂的流通部、包围流通部的外缘部、以及设置在外缘部的内侧的侧壁,并且在俯视下具有两组对置的边,侧壁包含第一节流部,所述第一节流部使流通部的俯视下与一组对置的边平行的第一方向上的宽度沿与第一方向正交的第二方向变化,用于将顶板和壳部紧固在外部装置的紧固部设置在顶板和外缘部重叠地配置的部分,紧固部在第一方向上与第一节流部对置地配置。
  • 冷却装置半导体模块以及车辆
  • [发明专利]冷却器-CN201811130452.6有效
  • 山田亨 - 富士电机株式会社
  • 2018-09-27 - 2023-08-22 - H01L23/367
  • 本发明提供一种冷却器,用于冷却半导体芯片,包括:用于在上部配置半导体芯片的上板、配置在上板的下部且相互之间形成冷却水的流路的多个板状翅片、以及与多个板状翅片连结的连结杆,连结杆具有从连结杆的主体部分别向流路突出的多个梳齿部,在俯视冷却器时,在与多个板状翅片延伸的延伸方向正交的平面上,冷却器具有至少由多个梳齿部和多个板状翅片规划得到的多个开口,多个开口包括:设置在不通过半导体芯片的下部的第一流路中的第一开口、以及设置在通过半导体芯片下部的第二流路中且比第一开口要大的第二开口。
  • 冷却器
  • [发明专利]测量仪安装辅助装置和测量仪安装辅助方法-CN201880023064.X有效
  • 川口拓之;山田亨 - 国立研究开发法人产业技术综合研究所
  • 2018-04-02 - 2022-08-05 - A61B10/00
  • 本发明提供了进行辅助以使得将探针等的测量仪简便且准确地安装在被检测体上的指定位置的装置及方法。为了解决这个问题,提供测量仪安装辅助装置,包括:坐标检测部,从通过拍摄被检测体得到的图像中检测预先确定的特征点的坐标;转换参数计算部,计算投影转换参数,所述投影转换参数用于将模型图像中的上述特征点的坐标转换为通过上述检测得到的坐标;指定部,用于在模型图像中指定使测量仪安装在被检测体上的位置;坐标转换部,使用投影转换参数转换使用指定部指定的位置的坐标;以及显示部,在通过拍摄得到的图像上显示由坐标转换部进行转换而得到的坐标。
  • 测量仪安装辅助装置方法
  • [发明专利]脑功能测量装置和脑功能测量方法-CN201880024648.9有效
  • 山田亨 - 国立研究开发法人产业技术综合研究所
  • 2018-03-28 - 2022-05-13 - A61B10/00
  • 提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法,能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题,提供一种脑功能测量装置,具备:第一光照射探头(S1),向被检体的脑照射光;第一光检测探头(D1),与第一光照射探头(S1)相邻设置,对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测;第二光照射探头(S2),与第一光检测探头(D1)相邻设置,向被检体的脑照射光;第二光检测探头(D2),与第二光照射探头(S2)相邻设置,对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测;以及控制部(3),对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节,以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值,并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节,以对第二光照射探头(S2)与第二光检测探头(D2)之间的通道所测量到的光量达到上述观测值。
  • 功能测量装置测量方法
  • [发明专利]半导体模块-CN202080025053.2在审
  • 山田亨;山田教文 - 富士电机株式会社
  • 2020-09-24 - 2021-11-12 - H01L23/495
  • 确保焊料的厚度并且抑制芯片与引线框之间的应力集中。半导体模块(1)包括:半导体元件(3),其在上表面以沿规定方向延伸的方式形成有栅极通路(31);以及金属布线板(4),其配置于半导体元件的上表面。金属布线板具有经由第1接合材料接合于半导体元件的上表面的第1接合部(40)。第1接合部具有朝向半导体元件突出的至少一个第1突起部(45)。第1突起部设于俯视时不与栅极通路重叠的位置。栅极通路与第1突起部分开0.4mm以上。
  • 半导体模块
  • [发明专利]脑功能测量装置、脑功能测量方法以及探头-CN201980044774.5在审
  • 山田亨 - 国立研究开发法人产业技术综合研究所
  • 2019-12-20 - 2021-02-12 - A61B10/00
  • 本发明的技术问题在于,将通过功能性近红外分光法在不同的测量部位得到的多个数据简便地均衡化为具有最佳的SN比的数据。为了解决上述技术问题,本发明提供了一种装置(1),具备:测量部(6),具有照射或检测光的光衰减器(13)的探头(PR1)~(PR3)配置在构成正三角形的点上;控制部(2),对所有的光衰减器(13)的透射率进行设定,使探头的照射光量成为期望值,确定测量对象的三个通道中检测光量最大的第一通道,在位于其两端的第一探头及第二探头与第三探头之间的第二通道及第三通道中进行上述检测,将配置在被检测到更小的光量的通道的一端的第一探头或第二探头的光衰减器(13)的透射率调整为第二通道及第三通道的检测光量相等,将第三探头的光衰减器(13)的透射率调整为第二通道或第三通道的检测光量与第一通道的检测光量相等,并维持调整后的所有的透射率而进行测量。
  • 功能测量装置测量方法以及探头
  • [发明专利]近红外脑功能测量装置及测量方法-CN201680009588.4有效
  • 山田亨;梅山伸二 - 国立研究开发法人产业技术综合研究所
  • 2016-02-10 - 2020-02-28 - A61B10/00
  • 提供检测器噪音平均化简单的多通道近红外脑功能测量装置。预先将所有光衰减器的透过率设定为1,将所有光源强度设定为可安全地照射的最大光量,求出各光源探测器i的有效入射光量和其中最小的有效入射光量及最大的有效入射光量;通过将光源探测器侧的光衰减器i的透过率ai变更为[最小的有效入射光量/光源探测器i的有效入射光量]而使有效入射光量平均化,进而,将所有光源强度变更为W=[最大的有效入射光量/最小的有效入射效率]倍,求出检测器探测器j的有效检测效率和其中最小的有效检测效率;以通过将检测器探测器侧的光衰减器j的透过率aj变更为[最小的有效检测效率/检测器探测器j的有效检测效率]而事先使有效检测效率平均化的方式进行控制,使所有通道k间的检测器噪音平均化。
  • 红外功能测量装置测量方法
  • [发明专利]存储装置及使用它的传真装置-CN96123475.X无效
  • 山田亨 - 松下电送株式会社
  • 1996-12-26 - 1997-10-01 - H04N1/00
  • 一种存储装置及使用它的传真机,其特征在于,在仅以块单位可擦除的存储媒体的多个块中,一般取一个块为未存数据的空块(改写用块),其余为用于存储数据的写入块。一个写入块中可存储多个数据文件,其中任一文件不需要删除时,先将该块中需要文件移入改写用块中。再擦除该写入块中所有文件,并将该擦除的写入块取作新的改写用块。
  • 存储装置使用传真

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