专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]读参考电压校准模型构建方法及装置、校准方法及装置-CN202310736512.3在审
  • 魏德宝;冯骅;曾彦龙;屈敬媛;乔立岩 - 哈尔滨工业大学
  • 2023-06-21 - 2023-09-19 - G11C7/14
  • 读参考电压校准模型构建方法及装置、校准方法及装置,涉及固态存储技术领域。为解决现有技术总存在的,在校准读参考电压时,往往需要多次读取数据,以预测当前读参考电压,导致闪存读取延迟过大的问题,本发明提供的技术方案在于:读参考电压校准模型构建方法,所述方法包括:采集闪存样本数据的步骤;获取所述样本数据的读参考电压数据、对应的电压偏移系数和对应的位跳变数据的读取步骤;重复所述读取步骤至预设次数,构建所述位跳变数据与所述电压偏移系数的转化模型的步骤;基于3‑D闪存读参考电压的层和状态差异,将前述转化模型的优化范围从单个闪存页扩展至全闪存块的步骤。本发明提供的读参考电压校准模型构建方法,通用性强,适用于当前所有类型的3‑D NAND Flash。
  • 参考电压校准模型构建方法装置

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