专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡-CN202221397136.7有效
  • 刘露平 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-06-07 - 2023-02-14 - G01R31/317
  • 本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域,具体涉及一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡,其包括主控器、PMU测量单元、数字通道和DPS供电模块;所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO;所述DPS供电模块向待测IC提供需要的工作电压和电流;所述PMU测量单元、所述数字通道和所述DPS供电模块均与所述主控器信号连接;所述主控器通过USART接口与PC端进行交互。本实用新型的有益效果为:模拟ATE测试流程,以最低的成本实现了对通用MCU的功能测试。该设备不仅能实现ATE测试设备的主要功能,而且相对于ATE设备而言,其成本更是大大降低。且该设备针对不同的MCU芯片可以进行与之对应的改动以实现更多的MCU芯片测试功能。
  • 一种基于ate系统通用mcu测试板卡
  • [实用新型]一种MCU待机功耗测试装置-CN202221442806.2有效
  • 孔江文 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-06-10 - 2022-12-23 - G05B23/02
  • 本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域,具体涉及一种MCU待机功耗测试装置,包括MCU和电源组合电路、外围电路、跳线、PCB板和外壳,每个所述外围电路均通过一组跳线连接至所述MCU和电源组合电路;所述电源组合电路包括连接在一起的MCU电路和电源电路;所述外壳包括底壳和上盖。本实用新型的有益效果为:通过反复插拔跳线,即可将外围电路与MCU和电源组合电路切断,从而可仅对MCU和电源组合电路的待机功耗进行准确、快速测量;只需向上拔下跳线开关,跳线的两个接线端子即断开,从而使得外围电路断开,可方便、快速地实现跳线的插拔,同时,也避免跳线插拔过程中破坏电路连接以影响其可靠性。
  • 一种mcu待机功耗测试装置
  • [实用新型]一种基于开尔文连接的PMU测量单元-CN202221397426.1有效
  • 刘露平;曾彬 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-06-07 - 2022-11-18 - G01R19/25
  • 本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域,具体涉及一种基于开尔文连接的PMU测量单元,V_DAC的负极接地、正极连接至运算放大器的同向输入引脚,运算放大器的输出引脚与功率放大器的输信号输入端连接,功率放大器的‑引脚接地;功率放大器的+引脚、Rm和LOAD依次串联;第一差分放大器的第一+引脚、第一差分放大器的第一‑引脚与Rm并联;ADC连接至第一单刀双掷开关的动端,第一单刀双掷开关的第一个不动端连接至运算放大器的反向输入引脚,第一单刀双掷开关的第一个不动端连接至第二差分放大器的第一+引脚,第二差分放大器的第一‑引脚接地。本实用新型的有益效果为:可根据实际需要,在模式FVMI和FIMV之间做出选择,切换快速、简便。
  • 一种基于开尔文连接pmu测量单元
  • [实用新型]一种条件可变的MCU功耗测试系统-CN202221460046.8有效
  • 刘露平;曾彬 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-06-13 - 2022-11-01 - G05B23/02
  • 本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域,具体涉及一种条件可变的MCU功耗测试系统,其包括上位机、主控MCU、DPS模块和温控箱,所述上位机通过USART与所述主控MCU连接;所述主控MCU自带的DAC输出给所述DPS模块设置输出电压VDD,所述主控MCU的ADC采集所述DPS模块测量到的电流;所述DPS模块输出电压VDD范围为0~5V,为待测MCU供电;所述主控MCU与待测MCU通过SWD接口连接,待测MCU位于所述温控箱内。本实用新型的有益效果为:实现了对通用MCU在不同条件和不同模式下的功耗测试。该设备能将MCU复杂的工作条件整合,通过上位机选择不同的工作条件和模式来测量对应的芯片功耗。该方案保证了测试的完整性,缩减了测试的复杂度和操作难度。
  • 一种条件可变mcu功耗测试系统
  • [发明专利]鱼塘增氧机远程控制方法-CN202210644896.1在审
  • 孔江文 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-06-09 - 2022-09-20 - A01K63/04
  • 本发明涉及鱼塘增氧技术领域,尤其涉及鱼塘增氧机远程控制方法,解决了现有技术中人工手动控制鱼塘增氧机作业,不及时不准确,影响鱼塘管理的问题。鱼塘增氧机远程控制方法,包括:水体含氧量传感器,所述水体含氧量传感器设置在鱼塘水体内;增氧机,所述增氧机连接有互联网通讯模块,增氧机含有增氧用的马达。本发明通过手机终端设定远程指令发送给后台服务器,后台服务器通过通讯模块将指令转发给增氧机的中央处理器,以远程及时的控制增氧机马达启动,增氧机开始增氧作业,相较于现有的人为监测的方式相比,使得鱼塘管理更加智能化,使得鱼塘缺氧信号更加及时反馈给用户,鱼塘增氧作业更加及时,提高鱼塘管理的便捷性。
  • 鱼塘增氧机远程控制方法
  • [发明专利]一种小封装芯片的ADC数据采集方法-CN202210502375.2在审
  • 刘露平;王宁 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-05-10 - 2022-08-12 - H03M1/12
  • 本发明揭示了一种小封装芯片的ADC数据采集模块和方法,包括与模拟输入端相连的采样单元和经过数字化转换输出的数据存储单元,待采集芯片的MCU的ADC通道与外部芯片模组相连,通过所述外部芯片模组采集数据并经过计算获得目标电压。本发明的技术方案具有以下方面的优点:使没有外部VREF输入引脚的芯片的ADC也能采集到比较精确的电压,并且所采集到的电压受到外部温度变化和电源波动的影响较小,获得较为稳定的数据,克服了小封装芯片的ADC采集数据不精确的缺点。
  • 一种封装芯片adc数据采集方法
  • [发明专利]一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法-CN202210502514.1在审
  • 刘露平;朱建兴 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2022-05-10 - 2022-08-12 - G06F1/12
  • 本发明揭示了一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法,待测的MCU连接载入ATE,包括步骤:S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01,并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中;S2、启动MCU运行,通过ATE的频率测量单元检测MCU内部时钟源的实际频率Ft;S3、由ATE根据预设的标准频率Fs计得差值,并修改对应位置的参数,得到新的激励信号pattern02;S4、将激励信号pattern02写入MCU的内部校准寄存器。应用本发明该方法,根据芯片设计之初的预设表格,通过查表并修正激励信号、加密烧录至MCU的校准寄存器,可以让MCU的频率误差校准到标准值的±1%范围内,避免了用户在使用时需要通过示波器来手动校准内部RC频率参数,也有效防止了因误操作而导致的校准值发生改变。
  • 一种基于ate校准mcu内部时钟方法
  • [实用新型]一种芯片不良检测定位设备-CN202122712492.5有效
  • 张学昕 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2021-11-08 - 2022-04-22 - G01R31/28
  • 本实用新型揭示了一种芯片不良检测定位设备,与微控制单元芯片相适配、用于实现微控制单元芯片的全脚位检测,设备由相匹配的夹具板及检测板构成;夹具板与微控制单元芯片相对应,夹具板上设置有脚位连接端口以及与脚位连接端口逐一匹配对应的排针;检测板上设置有排母,通过排针与排母间的配合、夹具板与检测板之间实现电性连接,检测板上还设置有用于显示脚位状态的LED显示灯珠矩阵,灯珠矩阵内每颗LED灯珠均与排母上的一个脚位匹配对应。本实用新型实现了对于微控制单元芯片的全脚位检测,检测过程对于人工的依赖程度较低,检测效率高,可有效帮助芯片厂商实现降本增效。
  • 一种芯片不良检测定位设备
  • [实用新型]一种实时时钟的中断测试电路-CN202023259329.X有效
  • 陆网锁;徐建华 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-12-28 - G01R31/28
  • 本实用新型揭示了一种实时时钟的中断测试电路,通过处理器连接实时时钟芯片控制启闭中断信号,并由处理器通过GPIO输出中断脉冲,其特征在于:该GPIO的输出端与输入电压VDD之间接设有LED与电阻R1串联的支路;且在所述处理器与输入电压VDD之间接设有计时器,计时结果信号与LED点亮的计数信号一并信号反馈处理器。应用本实用新型该测试电路,省却了判断脉冲频率对示波器的依赖,节省了测试成本的同时,通过设置计时时段并反馈LED亮灭的响应计数,能够低成本地实现自动判断脉冲脉冲频率的正确性,提高了测试效率。
  • 一种实时时钟中断测试电路
  • [实用新型]基于同颗芯片的ADC测试电路-CN202023305325.0有效
  • 李宁;徐建华 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2020-12-31 - 2021-08-31 - G01R31/28
  • 本实用新型揭示了一种基于同颗芯片的ADC测试电路,其特征在于:基于芯片内ADC模块、DAC模块及模块间的逻辑操控回路相接构成,其中逻辑操控回路为包含电阻R1~电阻Rn的串联电路,其中n的取值对应大于ADC模块的通道数量,DAC模块的两条通道接入逻辑操控回路,任意两相邻电阻间的节点分路接入ADC模块的全部通道引脚。该DAC模块根据ADC模块采样频率周期性切换对应逻辑操控回路的电压输入。应用实用新型该测试电路,通过使用较少的DAC通道来给ADC模块所有通道提供不断变化的电压输入,易于跟随ADC模块的采样频率而受控灵活、规律性变化,满足了ADC测试对输入信号的要求,从而也一定程度上降低了测试成本。
  • 基于芯片adc测试电路
  • [实用新型]一种规模化芯片自动测试装置-CN202023268486.7有效
  • 孔江文;朱建兴 - 宜宾芯汇信息科技有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-08-31 - G01R31/28
  • 本实用新型揭示了一种规模化芯片自动测试装置,具有营造芯片运行环境的控温箱及穿接于控温箱内外、连接电源与测试板的供电线路,其特征在于:该装置设有在控温箱内与所有待测芯片相连的总线,且总线通过线缆连至控温箱外的上位机,形成上位机与各待测芯片的通信,所有待测芯片的状态实时记录于上位机的测试日志中。应用本实用新型该装置,实现了节省人工,把芯片失效时间精确记录到秒级,而且通过供电线路的开关控制和测试板级联,分别提高了测试作业的安全性和规模扩展性。
  • 一种规模化芯片自动测试装置

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