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[发明专利]用于测试半导体集成电路芯片的液体冷却测试系统-CN202111306143.1在审
发明人：周家春;刘德先;Q·N·阮;梁齐海 -专利权人：史密斯互连美洲公司;安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-11-05 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用于IC芯片的测试座，其包含：保持器，被定位邻近于负载板，所述保持器界定对应于所述负载板上的接触垫的多个孔；多个触点，所述多个触点被布置在所述多个孔中，所述多个触点被配置成将所述IC芯片电气耦合到所述接触垫；壳体，所述壳体限定与入口、液体出口和蒸汽出口流体连通的腔室。所述壳体包括主体结构和引导结构，所述主体结构限定与所述多个孔相对应的多个空腔并且被配置成在其中接收所述多个触点，所述引导结构被配置成接收所述IC芯片并且当与多个触点接合时将所述IC芯片定位在腔室中。所述腔室经由所述入口接收两相流体冷却剂，以将所述多个触点至少部分地浸没在所述两相流体冷却剂中。
用于测试半导体集成电路芯片液体冷却系统

[发明专利]用于同轴测试插座和印刷电路板接口的系统和方法-CN202111135634.4在审
发明人： K·艾玛布蒂;R·严;周家春;刘德先;A·吴 -专利权人：史密斯互连美洲公司;安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： H01R13/652 文献下载
摘要：提供一种用于将集成电路(IC)芯片耦合到印刷电路板(PCB)的测试插座。该测试插座包括具有被配置为面向PCB的第一表面和被配置为面向IC芯片的第二表面的导电体。导电体限定从第一表面延伸到第二表面的信号腔和接地腔。该测试插座还包括设置在该信号腔中的信号探针。信号探针被配置成电连接到PCB的信号导体和IC芯片的信号焊盘。测试插座还包括设置在接地腔内的接地探针。接地探针被配置成电连接到PCB的接地导体和IC芯片的接地焊盘。接地探针进一步电连接至导电体。
用于同轴测试插座印刷电路板接口系统方法

[发明专利]用于半导体集成电路的具有阶梯环的测试插座和探针-CN202111135635.9在审
发明人：周家春;杨哲 -专利权人：史密斯互连美洲公司;安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种接触探针，包括壳体，所述壳体具有第一端和相对的第二端。所述壳体在其中限定有内部腔室和延伸穿过所述第一端和所述第二端的纵向轴线。所述接触探针还包括柱塞，所述柱塞部分地接收在所述内部腔室中并从所述第一端纵向向外延伸。所述柱塞包括用于将所述接触探针电连接至外部芯片的尖端。所述接触探针还包括联接到所述壳体的阶梯环。所述阶梯环包括第一阶梯和第二阶梯。所述第二阶梯围绕所述壳体延伸，所述第一阶梯在所述第二阶梯和所述尖端之间围绕所述柱塞纵向延伸。
用于半导体集成电路具有阶梯测试插座探针

[发明专利]具有擦拭触件的测试插座的系统和方法-CN202111137600.9在审
发明人：周家春;贾斯汀·巴哈;苏向晖;吉小飞 -专利权人：史密斯互连美洲公司;安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提供一种用于半导体集成电路(IC)的测试插座。测试插座包括配置为接合半导体IC和负载板的插座主体和弹性体保持器，弹性体保持器包括与插座主体相邻并配置为面对半导体IC的顶面和配置为面对负载板的底面。弹性体保持器限定有从顶面延伸到底面的槽。测试插座还包括位于槽中的旋转触件。旋转触件配置为在自由状态、预负载状态和负载状态之间移动。弹性体保持器配置成当从自由状态移动到预负载状态时在来自旋转触件的预负载力下压缩，并且当从预负载状态移动到负载状态时在来自旋转触件的负载力下压缩。
具有擦拭测试插座系统方法

[发明专利]用于测试半导体集成电路芯片的液冷测试插座-CN202111137602.8在审
发明人：周家春;刘德先;Q·N·阮;梁齐海 -专利权人：史密斯互连美洲公司;安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种IC芯片的测试插座，其包含定位於邻近负载板的保持器，该保持器限定复数个对应於负载板上的触点焊盘的孔；多个触点，所述多个触点设置在所述多个孔中，所述多个触点被配置成将所述IC芯片电耦合到所述触点焊盘；壳体，其至少部分地限定与入口和出口流体连通的腔室。壳体包括主体结构和引导结构，主体结构限定与多个孔相对应的多个腔并且被配置为在其中接收多个触点，引导结构被配置为接收IC芯片并且当与多个触点接合时将IC芯片定位在腔室中。该腔室被配置为经由入口接收流体冷却剂，以将多个触点至少部分地浸没在流体冷却剂中。
用于测试半导体集成电路芯片插座

[发明专利]半导体测试插座-CN202110013375.1在审
发明人：张龙;卓春丽;陈金荣 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及半导体封装测试领域，公开了一种半导体测试插座，其中，半导体测试插座包括测试插座主体(10)、导向框(20)和高度调节机构(30)，导向框安装于测试插座主体上方并具有中心插口(21)，高度调节机构嵌设在中心插口的边缘处，高度调节机构包括能够被操作的操作部(31)和能够通过操作操作部而在定位于中心插口之外的第一位置和定位于中心插口之内的第二位置之间移动的移动部(32)，移动部包括用于在第二位置时支撑待测试件的支撑面(321)。根据不同类型的封装的待测试件，可以使其选择性地支撑在处于第二位置时的支撑面上或测试插座主体的顶面上，无需更换测试插座，提高了效率。
半导体测试插座

[发明专利]电连接器和测试组件-CN202011290751.3在审
发明人：潘彪 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2020-11-17 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： H01R13/639 文献下载
摘要：本发明涉及电器设备领域，公开了一种电连接器和测试组件，电连接器包括：座体，所述座体的顶面具有用于接收载体的插口；插槽件，插槽件可移动地安装于座体内，插槽件具有能够与插口对准连通的插槽，插槽内设置有第一触点；导线，导线穿入座体设置并与第一触点连接；锁止件，锁止件可转动地穿设于座体并始终抵接插槽件，锁止件的抵接插槽件的外周具有与锁止件的转动轴线距离不同的位置，锁止件的暴露在座体外的暴露部分能够被操作而使锁止件相对于座体转动，以使插槽件从解锁状态切换到锁止状态，其中，在锁止状态，插槽件与座体能够保持相对固定。通过转动操作锁止件来完成插槽件的锁止和解锁，避免了在安装和拆卸时对载体上的电器元件的损坏。
连接器测试组件

[实用新型]用于测试的PCB板连接器及装置-CN202121578866.2有效
发明人：颜二国;王伟君;翟王敏;刘德先 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-07-12 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： H01R13/64 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供一种用于测试的PCB板连接器及装置，所述PCB板连接器包括：安装板；多个安装接口，所述安装接口于所述安装板上呈对称设置，用于插接被测装置以固定所述安装板；防呆结构，设置于所述安装板上，用于安装接口在插接被测装置时的防呆。本实用新型方案结合以往测试的经验，通过提供一种用于测试的PCB板连接器，通过安装板、多个安装接口以及防呆结构，所述安装接口于所述安装板上呈对称设置，用于插接被测装置以固定所述安装板；防呆结构可以实现连接时候的防呆，根据在以往实践中为了测试需要非标设计连接器，耽误研发周期，借助本申请所提供的方案可以直接设计通用的连接器，从而增加规范性，更加方便规范测试，增加工作效率。
用于测试 pcb 连接器装置

[实用新型]半导体测试插座-CN202120027527.9有效
发明人：张龙;卓春丽;陈金荣 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型涉及半导体封装测试领域，公开了一种半导体测试插座，其中，半导体测试插座包括测试插座主体(10)、导向框(20)和高度调节机构(30)，导向框安装于测试插座主体上方并具有中心插口(21)，高度调节机构嵌设在中心插口的边缘处，高度调节机构包括能够被操作的操作部(31)和能够通过操作操作部而在定位于中心插口之外的第一位置和定位于中心插口之内的第二位置之间移动的移动部(32)，移动部包括用于在第二位置时支撑待测试件的支撑面(321)。根据不同类型的封装的待测试件，可以使其选择性地支撑在处于第二位置时的支撑面上或测试插座主体的顶面上，无需更换测试插座，提高了效率。
半导体测试插座

[发明专利]一种探针冲压设备-CN201510988759.X有效
发明人：薛松;缪超;陈振 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： B21D22/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种探针冲压设备，其使得探针打点结构的强度好，确保探针打点结构在探针表面的打点位置稳定。其包括机台，所述机台上设置有探针底部定位装置，其特征在于：所述探针底部定位装置内设置有导向套筒，探针的底部支承于所述导向套筒的上端，对应于所述探针的打点位置的高度环面环布有若干组探针打点结构，每组探针打点结构包括刀片、刀片安装座、滑轨、导向气缸，每组探针打点结构的所述滑轨垂直于对应位置的所述探针外环面所对应的点水平布置，所述刀片的刀尖朝向所述探针的外环面布置，所述刀片的尾部紧固连接所述刀片安装座，所述刀片安装座的底部嵌装于对应的滑轨，每个导向气缸的活塞杆连接对应的所述刀片安装座的尾端。
探针打点结构刀片安装座刀片滑轨底部定位装置冲压设备打点位置导向气缸导向套筒外环面刀尖机台活塞杆连接紧固连接水平布置探针表面上端环布环面嵌装尾端支承垂直

[发明专利]嵌入式芯片测试插座及其加工方法-CN201410431753.8有效
发明人：张龙;刘德先 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2014-08-28 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种嵌入式芯片测试插座，包括探针保持板和金属外框，金属外框上阵列设置有多个安装孔，安装孔内安装有嵌入式芯片定位板，嵌入式芯片定位板的四周边上设置有台阶，安装孔在靠近上表面一侧设置有抵触所述台阶的凸台，嵌入式芯片定位板上设置有阵列分布的定位孔，探针保持板上设置有与定位孔对应的保持孔，定位孔和保持孔配合固定有测试探针，嵌入式芯片定位板采用复合材料，金属外框达到增强测试插座强度的目的，同时又保证了插座的电气性能；还能在一定程度上杜绝测试过程中晶粒间的电磁干扰；金属外框的变形量要小于传统测试插座，当测试探针数量大于1500根时，测试插座表面变形量仍然能满足不大于0.05MM的要求。
嵌入式芯片测试插座及其加工方法

[发明专利]新型可调节测试插座盖-CN201510007682.3有效
发明人：周惠春;拉美西斯 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2015-01-07 - 公布日： 2017-09-26 - 主分类号： G01R1/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型可调节测试插座盖，包括中空的底座，底座上侧设置有上壳体，底座的一侧与上壳体的一侧可旋转的连接，上壳体上设置有可旋转的锁定件，锁定件可锁扣在底座的卡扣上，上壳体的下侧还弹性固定有压板，上壳体中间设置有圆柱形的中空部，压圈上设置有与中空部的内螺纹配合的外螺纹，压圈上固定连接有旋钮部，压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，刻度盘上设置有多个定位孔，上壳体上设置有与定位孔对应的定位件，刻度盘上在压圈一侧还设置有限位件，限位件限制压圈旋转的角度，通过调整定位件卡固在刻度盘的不同定位孔中，可使限位件限制压圈旋转不同的角度，使压板下降不同的高度，实现一套测试插座盖应用于多个不同厚度的芯片测试。
新型调节测试插座

[实用新型]一种用于扁平引脚芯片的测试装置-CN201620216221.7有效
发明人：俞璟峰;殷德骏;张龙 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2016-03-21 - 公布日： 2016-08-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于扁平引脚芯片的测试装置，包括测试座、绝缘弹性棒以及多排并列的若干弹性导电接触片；同排并列的所述弹性导电接触片穿套于绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内；所述弹性导电接触片的底部形成与测试线路板线/面接触的下触面，顶部形成与被测芯片引脚线接触的上触面；所述上、下触面分别伸出测试座的上、下表面。本实用新型通过巧妙地设置弹性导电接触片穿套绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内,并以线/面接触的方式对扁平引脚芯片进行测试，克服了现有技术中采用弹簧探针以点接触方式进行测试所产生的性能不可靠、易磨损、对测试环境影响大以及兼容性差等问题。
一种用于扁平引脚芯片测试装置

[实用新型]一种探针冲压设备-CN201521096286.4有效
发明人：薛松;缪超;陈振 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-06-29 - 主分类号： B21D22/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种探针冲压设备，其使得探针打点结构的强度好，确保探针打点结构在探针表面的打点位置稳定。其包括机台，所述机台上设置有探针底部定位装置，其特征在于：所述探针底部定位装置内设置有导向套筒，探针的底部支承于所述导向套筒的上端，对应于所述探针的打点位置的高度环面环布有若干组探针打点结构，每组探针打点结构包括刀片、刀片安装座、滑轨、导向气缸，每组探针打点结构的所述滑轨垂直于对应位置的所述探针外环面所对应的点水平布置，所述刀片的刀尖朝向所述探针的外环面布置，所述刀片的尾部紧固连接所述刀片安装座，所述刀片安装座的底部嵌装于对应的滑轨，每个导向气缸的活塞杆连接对应的所述刀片安装座的尾端。
一种探针冲压设备

[发明专利]一种用于扁平引脚芯片的测试装置-CN201610160646.5在审
发明人：俞璟峰;殷德骏;张龙 -专利权人： 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
申请日： 2016-03-21 - 公布日： 2016-06-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于扁平引脚芯片的测试装置，包括测试座、绝缘弹性棒以及多排并列的若干弹性导电接触片；同排并列的所述弹性导电接触片穿套于绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内；所述弹性导电接触片的底部形成与测试线路板线/面接触的下触面，顶部形成与被测芯片引脚线接触的上触面；所述上、下触面分别伸出测试座的上、下表面。本发明通过巧妙地设置弹性导电接触片穿套绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内,并以线/面接触的方式对扁平引脚芯片进行测试，克服了现有技术中采用弹簧探针以点接触方式进行测试所产生的性能不可靠、易磨损、对测试环境影响大以及兼容性差等问题。
一种用于扁平引脚芯片测试装置

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