专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果64个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种平衡探测器阵列-CN202210298166.0在审
  • 高红彪;孙夺;顾溢 - 华为技术有限公司;中国科学院上海技术物理研究所
  • 2022-03-25 - 2023-10-03 - G01S17/10
  • 本申请实施例提供一种平衡探测器阵列。该平衡探测器阵列包括第一探测器阵列和第二探测器阵列,采用镜像方式设置于同一衬底。第一探测器阵列和第二探测器阵列均包括M个探测器像元且一一对应,第一探测器阵列和第二探测器阵列的M个探测器像元构成M个平衡像元对,每个平衡像元对用于输出一个差分信号,M为大于1的整数。每个平衡像元对包括第一探测器像元和第二探测器像元,第一探测器像元和第二探测器像元的光敏区域的几何中心分别位于第一直线和第二直线,第二直线与第一直线平行,第一探测器像元和第二探测器像元的光敏区域的几何中心的连线与第一直线垂直。该平衡探测器阵列能够提升光电探测器的光敏区域的占空比,以及激光雷达的出点率。
  • 一种平衡探测器阵列
  • [实用新型]一种高铟组分InGaAs材料少子寿命的测试结构-CN202221254088.6有效
  • 顾溢;李雪;李淘;孙夺;刘大福 - 无锡中科德芯感知科技有限公司
  • 2022-05-23 - 2023-05-30 - H01L21/66
  • 本实用新型公开了一种高铟组分InGaAs材料少子寿命的测试结构。该测试结构包括衬底、底面层、待测试层和表面层;待测试层位于底面层和表面层中间;其中,衬底为半绝缘InP衬底;底面层为不掺杂高铟组分InXAs底面层;待测试层为待测试高铟组分InGaAs层;表面层为不掺杂高铟组分InYAs表面层;表面层的厚度为10~100nm;底面层中InXAs与待测试层中InGaAs的晶格匹配;表面层中InYAs的禁带宽度大于待测试层中InGaAs的禁带宽度。本实用新型提供的测试结构可以消除在待测试高铟组分InGaAs材料表面和底面的载流子复合对于微波光电导衰减法测试少子寿命准确度的影响,从而对高铟组分InGaAs材料的少子寿命进行准确、有效的测试。
  • 一种组分ingaas材料少子寿命测试结构
  • [实用新型]灰尘吹扫装置-CN202221482214.3有效
  • 刘桂源;顾溢;刘大福;孙夺;李雪 - 无锡中科德芯感知科技有限公司
  • 2022-06-13 - 2023-01-03 - B08B5/02
  • 本实用新型公开了一种灰尘吹扫装置,该装置包括:等离子气体生成装置以及吹扫装置;吹扫装置设置有第一进气口、第一排出口、第二进气口、第二排出口、部件装夹结构以及吹扫腔室;第一进气口、第一排出口、第二进气口以及第二排出口均与吹扫腔室连通,部件装夹结构用于放置被吹扫部件且设置有吹扫开口,吹扫开口与吹扫腔室连通;第一进气口面对吹扫开口,第一进气口连接于等离子气体生成装置并接收等离子气体装置生成的等离子气体。该灰尘吹扫装置通过等离子气体吹扫被吹扫部件表面的灰尘,实现被吹扫部件的除尘。
  • 灰尘装置
  • [实用新型]短波红外探测器-CN202221520327.8有效
  • 孙夺;李雪;顾溢;李淘;刘大福 - 无锡中科德芯感知科技有限公司
  • 2022-06-16 - 2022-11-08 - G01J5/20
  • 本实用新型提供一种短波红外探测器,所述短波红外探测器包括光敏芯片、读出电路和微透镜阵列模组;所述光敏芯片包括M组光敏像元,且至少存在两组列方向尺寸相同、行方向尺寸不同的光敏像元,每组所述光敏像元均与所述读出电路电连接,其中,M≥2且取正整数;所述微透镜阵列模组包括若干个分别与所述光敏像元逐一对应设置的微透镜阵列;所述读出电路固设于所述光敏芯片的下方,用于获取所述光敏像元对探测目标的光电转换信号,通过提出一种新型结构的短波红外探测器,能够显著提高现有的短波红外探测器的光信号探测能力。
  • 短波红外探测器
  • [实用新型]焦平面探测器检测装置-CN202221482243.X有效
  • 杨睿杰;张镇峰;孙夺;李淘;刘大福;李雪 - 无锡中科德芯感知科技有限公司
  • 2022-06-13 - 2022-10-28 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种焦平面探测器检测装置,焦平面探测器检测装置包括壳体、放置单元、第一遮挡单元、辐射源、接收单元,壳体具有第一侧壁,第一侧壁上开设有通孔;放置单元用于放置焦平面探测器,并驱动焦平面探测器进入壳体并能够运动至第一位置;第一遮挡单元安装于壳体上并用于打开或覆盖通孔;辐射源,置于壳体外部,焦平面探测器运动至第一位置时,辐射源能够通过通孔辐照于焦平面探测器的感光面;接收单元,与焦平面探测器电连接,接收单元用于采集数据。通过放置单元引导以控制焦平面探测器的移动,便于操作,无需手动更换焦平面探测器并调整其位置,避免焦平面探测器受辐照位置发生偏移,提高测试结果准确度。
  • 平面探测器检测装置
  • [实用新型]探测器缺陷像元的检测系统-CN202221574003.2有效
  • 张镇峰;杨睿杰;孙夺;李淘;刘大福;李雪 - 无锡中科德芯感知科技有限公司
  • 2022-06-22 - 2022-10-28 - G01J5/90
  • 本实用新型公开了一种探测器缺陷像元的检测系统,其中检测探测器缺陷像元的系统,包括辐照源、衰减片架与衰减片;辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置;衰减片架位于辐照源与探测器之间;辐照源用于辐射光子供探测器探测,辐照源的辐照端为辐照源向外辐射光子的一端,探测器的探测端为探测器接收光子的一端;衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。本实用新型通过衰减片架,可以实现不改变辐照源本身的情形下,改变辐照源辐射向探测器的能量,使得变量的控制更为精准,从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度。
  • 探测器缺陷检测系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top