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[发明专利]浓度测量方法和荧光X射线分析装置-CN201010535977.5有效
发明人： 大泽澄人 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2010-11-03 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种浓度测量方法和荧光X射线分析装置。在本发明中，对含有硫等对象成分的液体燃料等试样进行荧光X射线分析。从通过荧光X射线分析获得的光谱求出的对象成分的荧光X射线强度，减去与散射X射线及系统峰有关的背景噪声。对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行与试样的组成对应的修正。预先确定表示对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行修正后的值与对象成分浓度的关系的标准曲线。根据标准曲线计算试样中的对象成分浓度。
浓度测量方法荧光射线分析装置

[发明专利]荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具-CN201010502167.X无效
发明人：岸田真由子;驹谷慎太郎;大泽澄人;黑住拓司;后藤智;金马崇;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2010-09-28 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具。试样室收容有液体燃料等试样，并且用X射线透射片密封，在内部压力上升的情况下，在作为窗口部的X射线透射片膨胀之前，试样杯端面变形，使得试样室内的容积增大。通过把膜状材料折叠形成试样杯端面，在试样室内的压力上升的情况下，试样杯端面向试样室外侧扩展，试样室内的容积增大。因容积增大可以缓解压力的上升，从而可以防止X射线透射片的膨胀。
荧光射线分析试样组装用具

[发明专利]X射线聚焦元件及X射线照射装置-CN200780006165.8有效
发明人：中泽弘基;吉川英树;米哈伊·沃莱库·奥莱勒;大堀谦一;驹谷慎太郎;大泽澄人 -专利权人：株式会社堀场制作所;独立行政法人物质·材料研究机构
申请日： 2007-02-08 - 公布日： 2009-03-18 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：一种X射线聚焦元件及具有该X射线聚焦元件的X射线照射装置，能延长从射出侧开口端至被检查体的作动距离，而且，不论被检查体的大小如何都能对被检查体进行分析即荧光X射线分析和X射线衍射分析。X射线屏蔽构件(23)从与射入侧开口端的口径(毛细管(20)外径)大致相同口径的环形构件(232)向环形构件(23)中心设置支承X射线屏蔽构件的三根支承构件(233)，将环形构件(232)固定于毛细管(20)。环形构件(232)、支承构件(233)、X射线屏蔽构件(23)用钽、钨、钼等对X射线进行屏蔽的金属通过一体成形而形成。X射线屏蔽构件(23)的轴向尺寸(厚度)设定成足以屏蔽X射线的尺寸。
射线聚焦元件照射装置