“复拓科学仪器(苏州)有限公司”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果4个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种大量程高分辨率的气液折射率检测方法及装置-CN201710937410.2有效
发明人：陈凡;曹庄琪 -专利权人： 复拓科学仪器(苏州)有限公司
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种大量程高分辨率的气液折射率检测方法，包括S1、将待检测样品输入至样品室；S2、激光器发射的平行光入射棱镜耦合空芯金属包覆波导，激发表面等离子共振；S3、根据图像传感器接收的表面等离子共振衰减全反射吸收峰计算得到样品折射率范围；S4、根据折射率范围确定超高阶导模的角位置范围；S5、在超高阶导模的角位置范围内使激光器发射的平行光入射棱镜耦合空芯金属包覆波导并激发超高阶导模；S6、根据图像传感器接收的超高阶导模的衰减全反射吸收峰得到超高阶导模匹配角确定样品的折射率。该方法避免利用SPR技术分辨率不高的缺点，又能克服因亚毫米量级空芯金属包覆波导中模式数太多而造成的误算，实现了大量程高分辨的折射率测量。
一种量程高分辨率折射率检测方法装置

[实用新型]白光干涉实验仪-CN201920981440.8有效
发明人：陈凡;张俊飞;陈小林;王旭成;刘念陶;杨丽佳 -专利权人： 复拓科学仪器(苏州)有限公司
申请日： 2019-06-27 - 公布日： 2020-01-07 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种白光干涉实验仪，包括白光光源、半导体激光器、第一分光镜、第二分光镜、被测平面、参考镜和成像机构，所述白光光源、半导体激光器分别设置在所述第一分光镜的相邻两侧方，所述白光光源和半导体激光器发出的光经所述第一分光镜后具有相同的光路，所述光路为光线经过所述第二分光镜分成两束分别经过所述被测平面、参考镜反射后再次经过所述第二分光镜后发生干涉并进入所述成像机构由所述成像机构显示。本实用新型利用半导体激光器进行各元件位置调整，解决直接依靠白光调整难度大，难以获得干涉条纹的问题，降低实验难度，提高成功概率。
分光镜半导体激光器白光光源成像机构本实用新型参考镜光路白光干涉成功概率干涉条纹实验难度元件位置实验仪白光反射干涉

[实用新型]一体化光刻工艺实验仪-CN201822249460.4有效
发明人：陈凡;张俊飞;陈小林;王旭成 -专利权人： 复拓科学仪器(苏州)有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G09B25/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种一体化光刻工艺实验仪，包括实验仪壳体和依次并列设置于实验仪壳体内的第一工作腔、第二工作腔和第三工作腔，所述第一工作腔、第二工作腔和第三工作腔的顶部开口均设有内翻盖，所述实验仪壳体设有外翻盖，所述外翻盖翻开时露出第一工作腔、第二工作腔和第三工作腔的顶部，所述第一工作腔内设有旋胶模块，第二工作腔内设有烘烤模块，所述第三工作腔设有光刻模块，所述实验仪壳体设有控制器，所述控制器控制旋胶模块、烘烤模块和光刻模块工作。本实用新型采用一体化设计，集成了旋转匀胶、热盘烘烤、LED紫外光刻，让学生便于了解半导体光刻工艺的基本流程。
工作腔实验仪壳体翻盖烘烤本实用新型实验仪光刻半导体光刻工艺控制器控制一体化设计并列设置顶部开口光刻工艺基本流程紫外光刻控制器热盘匀胶体内一体化翻开学生

[实用新型]用于气体、液体、固体折射率测量的多功能测量装置-CN201822249466.1有效
发明人：陈凡;张俊飞;陈小林;王旭成 -专利权人： 复拓科学仪器(苏州)有限公司
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01N21/43 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于气体、液体、固体折射率测量的多功能测量装置，包括激光器、孔径光阑、起偏器、样品夹具、转台和光探测器，样品夹具设置于转台上，样品夹具包括棱镜和样品腔体，所述棱镜固定设置于转台，样品腔体的前端开设凹槽构成样品腔，样品腔体滑动设置于转台，样品腔体向前端移动时样品腔体的前端与棱镜的底面紧密接触，棱镜封闭样品腔，激光器、孔径光阑和起偏器设置于棱镜的一个侧向，光探测器设置于棱镜的另一个侧向，激光器的光依次经过孔径光阑、起偏器和棱镜由样品腔内样品反射后经过棱镜进入光探测器。本实用新型可利用衰减全反射角度位置计算样品折射率，一套夹具适用于气体、液体以及固定的测量。
棱镜样品腔光探测器孔径光阑样品夹具激光器起偏器转台侧向本实用新型多功能测量装置夹具衰减全反射样品折射率折射率测量固定设置滑动设置角度位置样品反射固定的底面测量封闭移动