本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法,属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合;然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集,通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合,将该集合作为输入,利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集,从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销,实现了测试模式集的规模的静态压缩,提高了测试效率,能加快电子产品上市时间。