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[发明专利]一种废旧电路板制样系统及方法-CN202210983783.4在审
发明人：朱明伟;姜求韬;刘秋波;史博洋;姜莉莉;刘玮;任晨阳;刘宇 -专利权人：北矿检测技术有限公司
申请日： 2022-08-17 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种废旧电路板制样系统及方法，其中，该系统包括：破碎机、粉碎机、多个混匀装置、缩分装置、烘箱和研磨机；破碎机，用于对原始废旧电路板进行一级破碎，得到第一电路板碎片；粉碎机，用于对第一电路板碎片进行二级破碎，得到第二电路板碎片；混匀装置，用于对第二电路板碎片进行混匀；缩分装置，用于对第二电路板碎片进行样品缩分，得到多个第一电路板样品；烘箱，用于对第一电路板样品中的目标电路板样品进行干燥，得到第二电路板样品；研磨机，用于对第二电路板样品进行研磨，得到目标电路板试样；目标电路板试样用于进行铜含量检测。通过该实施例，有利于使得制取出的试样中的铜含量更能准确的代表原始废旧电路板中的铜含量。
一种废旧电路板系统方法

[发明专利]同时测定低冰镍中金、银、铂和钯含量的方法及应用-CN202111024003.5有效
发明人： 史博洋;王皓莹;汤淑芳;刘秋波 -专利权人：北矿检测技术有限公司
申请日： 2021-09-02 - 公布日： 2021-12-10 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明提供一种同时测定低冰镍中金、银、铂和钯含量的方法及应用，尤其是涉及贵金属测定技术领域。一种同时测定低冰镍中金、银、铂和钯含量的方法，包括步骤A：在低冰镍中依次加入硝酸和硫酸溶解得到第一溶液；步骤B：在第一溶液中加入可溶性氯盐后过滤，得到第一沉淀物，对第一沉淀物灰化得到第一灰化物；步骤C：将第一灰化物与氧化铅、熔剂和还原剂混合均匀得到待熔融物，将待熔融物熔融，熔融后冷却分离得到铅扣和熔渣；步骤D：将铅扣进行灰吹得到合粒，将合粒溶解得到待测溶液；步骤E：将待测溶液在电感耦合等离子体发射光谱仪上测定金、银、铂和钯的含量。该方法检测方便，灵敏度高、检出限低、稳定性好。
同时测定低冰镍中金含量方法应用

[发明专利]冰铜中钯量的测定方法-CN202110934045.6在审
发明人：刘秋波;汤淑芳;王皓莹;史博洋;阮桂色 -专利权人：北矿检测技术有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2021-09-10 - 主分类号： G01N21/73 文献下载
摘要：本发明提供了一种冰铜中钯量的测定方法，涉及冶金的技术领域，包括：冰铜经火试金富集形成含钯的铅扣：冰铜样品与酸性熔剂、碱性熔剂、氧化铅、还原剂和纯银高温反应，熔融物冷却后形成富含贵金属的铅扣；其中，冰铜中含铜量10%~60%，每5~8g冰铜样品，氧化铅的加入量为150~250g；铅扣经灰吹得到含钯的贵金属合粒；用硝酸溶解含钯的贵金属合粒，加热得到含钯的分散液；利用电感耦合等离子体发射光谱法测定分散液中的钯量。本发明提供的冰铜中钯量的测定方法具有操作简单、准确度高、精密度好以及实用性较强的特点。
冰铜中钯量测定方法

[发明专利]粗杂铜中金含量的检测方法和应用-CN202110389652.9在审
发明人：王皓莹;汤淑芳;李华昌;方迪;刘秋波;史博洋 -专利权人：北矿检测技术有限公司
申请日： 2021-04-12 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G01N5/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种粗杂铜中金含量的检测方法和应用，涉及元素分析检测技术领域。该检测方法先将粗杂铜、熔剂和纯银进行熔融处理后制得第n次铅扣，然后将第n次铅扣于特定温度下进行多次灰吹处理和分金处理以除去影响金测定的干扰元素；该检测方法利用干扰元素在灰吹和分金过程中存在损失而金不损失的性质，采用加银熔融，高温灰吹，并采用了加银多次高温灰吹，多次分金，使得干扰元素在灰吹和分金过程中与金分离，消除干扰元素对金含量检测的干扰，提高了金检测方法的精密度和准确性。本发明还提供了上述粗杂铜中金含量的检测方法在粗杂铜回收利用领域中的应用。
粗杂铜中金含量检测方法应用