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[发明专利]一种平面式的电容层析成像系统及检测方法-CN201910843434.0在审
发明人：萧鹏;史倩竹;丁雨谢;殷丽娟 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01N27/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种平面式的电容层析成像系统及检测方法，所述电容层析成像系统包括上位机、单片机、电容测量电路、开关电路、阵列式电容传感器，其中：单片机分别与上位机、电容测量电路和开关电路连接；开关电路分别与阵列式电容传感器和电容测量电路连接；单片机控制开关电路对阵列式电容传感器进行电极切换，实现不同电极间的电容连接，以便能用电容测量电路进行测量，电容测量电路的数据单向传递到单片机，利用单片机对数据进行采集后与上位机的数据采集通信系统通信将数据传入电脑，然后图像重建系统对数据进行处理与重建。该电容层析成像系统结构简单，成本低，能够实现大面积的快速检测，从而能实现对缺陷的快速检测与定位。
电容测量电路开关电路单片机电容层析成像系统上位机阵列式电容传感器快速检测图像重建系统单片机控制电容传感器测量电路单向传递电极切换电容连接数据采集平面式电极通信系统测量采集检测重建通信电脑

[发明专利]一种1-3μm准直光源辐射照度测量仪-CN201510305829.7在审
发明人：萧鹏;史倩竹;戴景民 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2015-06-05 - 公布日： 2015-08-12 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种1-3μm准直光源辐射照度测量仪，属于红外光源辐射照度测量技术领域。它为了解决红外辐射照度的测量不确定度高，测量量程窄的问题。入射光依次经过主物镜组、光学机械调制器、一号中继透镜组、滤光片/衰减片组和二号中继透镜组后入射至红外探测器，红外探测器的探测信号依次经前置放大器和量程转换器后进入锁相放大器，光耦及整形电路测量光学机械调制器的调制频率信号，并将该信号作为参考信号发送至锁相放大器，数据采集器对锁相放大器发来的信号进行处理，并控制光学机械调制器的调制频率。本发明的辐射照度测量范围为10^-11W/cm²～10^-4W/cm²，不确定度为2％。适用于对1-3μm准直光源的辐射照度的测量。
一种光源辐射照度测量仪