专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]芯片老化检测工装-CN202321327238.6有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-05-29 - 2023-10-10 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了芯片老化检测工装,包括背部居中固定安装有防护组件的老化测试箱,所述防护组件包括一侧固定安装于老化测试箱的电路板,所述电路板远离老化测试箱的一侧可活动设置有防护板,且电路板朝向防护板的一面四角均固定安装有缓冲盒,所述缓冲盒内固定安装有承压弹簧,所述承压弹簧的一端固定连接有活动安装于缓冲盒内的承压板,所述防护板朝向电路板的一面四角均固定安装有承压杆,所述承压杆远离防护板的一端延伸入缓冲盒并与承压板固定连接,所述防护板内等距开设有安装孔,所述安装孔内可旋转安装有散热风扇,该芯片老化检测工装,结构合理,有利于保障芯片老化检测工作的正常进行,实用性强。
  • 芯片老化检测工装
  • [实用新型]芯片老化检测辅助装置-CN202320800523.9有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-09-19 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了芯片老化检测辅助装置,包括U型架和限位架,所述U型架的内侧开设有滑槽,所述滑槽内滑动连接有滑动块,所述滑动块的一侧通过螺栓固定连接有用于夹持芯片的限位架,所述限位架的一侧开设有放置槽,所述滑槽内位于滑动块的一侧通过弹簧座安装有压簧。本实用新型芯片老化检测辅助装置,结构简单紧凑,成本低廉易操作,使用更加快捷方便,适合被广泛推广和使用。
  • 芯片老化检测辅助装置
  • [实用新型]芯片老化检测装置用散热结构-CN202320664508.6有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-03-30 - 2023-09-19 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及芯片附属装置的技术领域,特别是涉及一种芯片老化检测装置用散热结构,可以起到良好散热效果,包括箱体和检测装置,箱体内设置有腔室,检测装置的底端与箱体腔室的底端连接;其特征在于,还包括水冷块、水箱、水泵、安装架一、安装架二、安装架三、热交换装置、循环液、管道一、管道二和水道,箱体的左端与安装架一的右端连接,水箱的底端与安装架一的顶端连接,箱体的左端底部设置有安装架三,水泵的底端与安装架三的顶端连接,水泵的输入端通过连接机构与水箱的底端连通,水冷块的右端与检测机构的运行发热端连接。
  • 芯片老化检测装置散热结构
  • [实用新型]芯片老化检测装置用冷却结构-CN202320117499.9有效
  • 王文学 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-02-06 - 2023-08-29 - F25D17/02
  • 本实用新型涉及芯片检测的技术领域,特别是涉及一种芯片老化检测装置用冷却结构,其在检测工位即可活动进行芯片水冷,提高冷却效率,提高实用性;包括芯片老化检测台、下侧连接架、合页、上侧连接架、铰接架、铰接块、铰接轴、伸缩杆、液压缸、水冷片、循环液箱、进液管、出液管和液泵,芯片老化检测台左中侧与下侧连接架顶端相连接,下侧连接架左上侧经合页与上侧连接架底端左中侧活动连接,下侧连接架输出端与伸缩杆底端滑动连接,液压缸底端与伸缩杆顶端分别与一组铰接块内端相连接,上侧连接架底端中部与水冷片顶端相连接,水冷片和循环液箱分别经进液管和出液管相连通,出液管上安装有液泵。
  • 芯片老化检测装置冷却结构
  • [实用新型]芯片组件老化功率检测装置-CN202320119993.9有效
  • 司建波 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-02-06 - 2023-08-29 - G01R15/00
  • 本实用新型涉及芯片老化功率检测的技术领域,特别是涉及芯片组件老化功率检测装置,其能够有效避免芯片组件碎片四处飞溅,消除安全隐患,避免对工作人员造成伤害,提高使用安全性;包括工作台、电机、传动丝杆、两组移动板、两组导向杆、左防护罩、右防护罩和四组连接条板,工作台顶端连接设有检测台,检测台上设有夹持机构,工作台上左右对称的设有两组固定板,电机固定安装在一组固定板上,两组移动板上均设有两组滑孔,工作台顶端对称的设有四组限位槽,四组立板顶端均固定设有下铰接座,四组连接板底端均固定设有上铰接座,四组连接条板顶端分别与四组上铰接座铰接,四组连接条板底端分别与四组下铰接座铰接。
  • 芯片组件老化功率检测装置
  • [实用新型]封装芯片老化测试用插座-CN202320371882.7有效
  • 司建波 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-02-28 - 2023-08-29 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及封装芯片附属装置的技术领域,特别是涉及一种封装芯片老化测试用插座,可以在对芯片进行插接的同时对芯片进行按压固定,提高芯片插接的稳定性和测试的准确性,包括底座、芯片座、四组压杆和四组卡爪,底座的顶端设置有方槽,芯片座与方槽滑动连接,方槽的前端、左端、后端和右端均设置有摆动槽,四组压杆的中部分别与四组摆动槽的中部铰接,四组卡爪分别安装在四组压杆的顶端外侧。
  • 封装芯片老化测试插座
  • [实用新型]芯片老化检测用芯片固定结构-CN202320576439.3有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-08-29 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及芯片老化检测固定技术领域,具体为芯片老化检测用芯片固定结构,包括矩形板;所述矩形板的内部开设有通槽,所述矩形板的上端面一侧安装有T字板,所述T字板朝向通槽的一侧旋转连接有圆柱,所述圆柱上安装有朝向通槽的夹持设备,T字板正对圆柱的一侧安装有与圆柱固定连接的方柱,通过设有的矩形板、T字板、圆柱、方柱、夹持设备和固定设备,通过矩形板上安装的两个夹持设备对芯片进行夹持,由圆柱与夹持设备固定连接,由圆柱与T字板旋转连接,通过方柱与圆柱固定连接,通过滑动安装在方柱上的固定设备带动夹持设备进行旋转,便于在芯片的一侧进行完老化检测后,快捷将芯片的另一侧翻转,提高了芯片的检测效率。
  • 芯片老化检测固定结构
  • [实用新型]芯片老化检测试验台-CN202320579842.1有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-08-29 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及芯片检测附属装置的技术领域,特别是涉及一种芯片老化检测试验台,可以非常便捷的同时对多组芯片进行插接、老化检测和下料,提高芯片老化检测的效率,包括试验台和多组检测插座,多组检测插座均匀安装在试验台上;还包括自动上下料组件,自动上下料组件包括支架、滑轨、滑块、平移气缸、升降气缸、升降板和多组芯片吸盘,支架的底端分别与试验台顶端的左右两侧连接,滑轨安装在支架顶部的底端中部,滑块与滑轨滑动连接,平移气缸安装在滑轨的底端后侧,平移气缸的输出端与滑块的后端连接,升降气缸的顶端与滑块的底端连接,升降板的顶端中部与升降气缸的输出端连接,多组芯片吸盘均匀安装在升降板的底端。
  • 芯片老化检测试验台
  • [实用新型]大功率芯片老化测试装置用芯片取放结构-CN202320800542.1有效
  • 宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-08-29 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了大功率芯片老化测试装置用芯片取放结构,包括底部开口的盒体和气泵,所述盒体内侧表面开设有定位槽,所述定位槽内设置有环形气囊,所述环形气囊一端热熔连通的排气管。本实用新型大功率芯片老化测试装置用芯片取放结构,盒体可以卡合在凸台上待取用芯片的外围,从而使得芯片位于盒体内部,而环形气囊在气泵充气的作用下可以膨胀鼓起,减小盒体底部的开口面积,进而使得芯片无法通过此开口脱离盒体,以实现芯片的夹取作业,当当盒体移动至检测平台上时,环形气囊内的气体可以通过排气管排出,从而使得环形气囊不再减小盒体底部的开口面积,进而使得盒体内部的芯片可以通过此开口脱离盒体,适合被广泛推广和使用。
  • 大功率芯片老化测试装置结构
  • [实用新型]可独立控制温度的芯片高温老化测试设备-CN202223291595.X有效
  • 王文学 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2022-12-08 - 2023-06-30 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了可独立控制温度的芯片高温老化测试设备,包括测试盒和分别安装于测试盒内腔顶壁和底壁的电加热棒,测试盒内腔的开口处设有快拆板,测试盒内腔的中心处固定有固定座,其中固定座上开设有贯穿其顶壁和底壁的通热槽,测试盒的侧壁固定安装有伺服电机,伺服电机的输出轴同轴连接有螺杆,螺杆水平设置于测试盒内腔的一侧,测试盒内腔的另一侧焊接有限位杆,测试盒内腔中还对称设有两个定位板,两个定位板的一端分别螺纹套设于螺杆的两端,且螺杆两端的螺纹旋向相反,两个定位板的另一端均滑动套设于限位杆上。该可独立控制温度的芯片高温老化测试设备,使芯片高温老化的测试结果更为准确。
  • 独立控制温度芯片高温老化测试设备
  • [实用新型]芯片老化测试分选设备-CN202223291637.X有效
  • 司建波 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2022-12-08 - 2023-04-04 - B07C5/34
  • 本实用新型涉及芯片老化测试技术领域,具体为芯片老化测试分选设备,包括矩形箱;所述矩形箱的背面安装有换气装置,所述换气装置包括连通矩形箱内部的横管,所述横管的中部设置有矩形框,通过设有的横管、矩形框、L型管、风扇、第一矩形块、加热丝、第二矩形块和加湿器,通过选择由第一矩形块或者第二矩形块插接在矩形框内,通过L型管内的风扇抽取矩形箱内的空气,然后经由第一矩形块内的加热丝加热,或者第二矩形块内的加湿器加湿,然后在输送到矩形箱内,完成矩形箱内空间的高温或者高湿条件,通过矩形箱内部的空气不断的进行循环加热,可以使矩形箱内部的温度整体较为均衡,便于对芯片进行老化测试。
  • 芯片老化测试分选设备
  • [实用新型]半导体芯片收容托盘-CN201922477903.X有效
  • 王文学;宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-10-27 - B65D25/02
  • 本实用新型涉及半导体芯片托盘技术领域,且公开了半导体芯片收容托盘,包括箱体,所述箱体的正面开设有内槽,所述内槽的侧面固定连接有滑轨,所述滑轨的外表面活动套接有本体,所述本体的顶部固定安装有收容框,所述本体的底面开设有安装槽,所述安装槽的顶面固定安装有风机,所述本体的内部开设有风孔。该半导体芯片收容托盘,通过在本体的底面开设安装槽,安装槽内部设置风机,并在本体内部与安装槽贯通风孔,当多个收容托盘本体叠放时,风机运转并自上而下将收容框中电子芯片上的灰尘吹向装置底部,使得电子芯片运输过程中完成灰尘清理,便于电子芯片回收的后续操作,使用效果好。
  • 半导体芯片收容托盘
  • [实用新型]一种半导体芯片分离装置-CN201922492483.2有效
  • 王文学;宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-10-27 - H01L21/683
  • 本实用新型涉及半导体芯片分离设备技术领域,且公开了一种半导体芯片分离装置,包括分离台,所述分离台的内腔固定安装有下液压电机,所述下液压电机的顶端固定套接有顶升杆,所述顶升杆的顶端固定安装有软性顶升板。本实用新型通过在分离台的内部设置一个负压发生器,使得可以利用负压发生器进行抽负压,然后在粘胶层的两侧开设负压口,并将密封口安装在其下,使得可以通过密封口底部的抽气管与负压发生器相连进行抽负压,从而辅助粘胶层进行吸附,提高附着力,使得装置在长期使用下,仍然有较强的吸附力,提高装置的使用寿命,并且不会出现由于吸附力过小导致分离失败的情况出现,提高了装置的实用性。
  • 一种半导体芯片分离装置
  • [实用新型]半导体芯片捡取装置-CN201922477901.0有效
  • 王文学;宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-08-25 - H01L21/67
  • 本实用新型涉及芯片回收技术领域,且公开了半导体芯片捡取装置,包括固定座,所述固定座的正面开设有滑槽,所述滑槽内腔靠近左右两侧的位置上活动安装有滑块,所述滑块的正面固定安装有安装块,所述安装块的内部活动套接有螺纹杆,所述螺纹杆的右端固定安装有转盘。该半导体芯片捡取装置,通过设置有固定座,并在固定座的正面开设有滑槽,滑槽内部活动安装有两组滑块,当需要对不同大小的芯片进行捡取时,可通过转动转盘带动螺纹杆进行转动,由于螺纹杆左右两端的螺纹方向不同,所以带动螺纹杆外侧面的两组安装块相对靠近或远离,调节两组安装块之间的距离,实现了可对不同大小的芯片进行捡取的优点。
  • 半导体芯片装置
  • [实用新型]一种半导体芯片堆叠装置-CN201922492461.6有效
  • 王文学;宋杰 - 叁技科技(天津)有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-07-28 - H01L21/67
  • 本实用新型涉及堆叠装置技术领域,且公开了一种半导体芯片堆叠装置,包括底座,底座正面的右侧开设有控制板,底座顶面的右侧固定连接有固定槽,底座内腔的中部固定连接有限位板,且限位板的左侧活动套接有螺杆,螺杆上活动套接有滑块,且滑块的顶面固定连接有传动杆,传动杆的一端延伸至底座的顶面且固定连接有移动槽。本实用新型通过对需要堆叠的芯片进行固定的方式,利用螺杆与滑块之间的相互作用,带动滑块移动,通过移动的滑块带动移动槽移动与固定槽对芯片进行夹持,避免了装置未对芯片进行固定,造成芯片在堆叠的过程中随意移动,导致堆叠的效率低,时间浪费的问题,提高了堆叠效率的同时节约了时间。
  • 一种半导体芯片堆叠装置

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