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[发明专利]一种适用于低电压的带隙基准修调电路-CN202110884009.3有效
发明人：吴霖;樊杨;章羚洪 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于低电压的带隙基准修调电路。该电路包括带隙基准修调电路、振荡器电路、电压侦测电路、电荷泵电路和逻辑电路。本发明在采用MOS开关管来控制修调带隙基准电压的基础之上，通过引入振荡器电路、电荷泵电路和电源切换电路等，在输入电源VDD偏低的情况下，提高MOS开关管的控制电压，确保MOS开关管能够充分导通，减小导通电阻对带隙基准修调电路中的电阻影响，有效的解决带隙基准电路在输入供电电源低电压状态下基准电压升高的问题，提高带隙基准电路在全电压输入下的基准电压的一致性。
一种适用于电压基准电路

[实用新型]一种电压钳位及ESD保护电路-CN201821694987.1有效
发明人：吴霖;樊杨 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： H02H9/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种电压钳位及ESD保护电路，包括VCC电压侦测电路、VCC电压侦测传递电路、ESD侦测电路、ESD侦测传递电路和电压吸收单元；VCC电压侦测电路与供电电源端口和VCC电压侦测传递电路相连，VCC电压侦测传递电路与电压吸收单元相连，ESD侦测电路与ESD侦测传递电路相连，ESD侦测传递电路与电压吸收单元相连，电压吸收单元与PWM开关控制集成电路芯片相连。本实用新型通过共用了一个电压吸收单元来吸收过高的电压及ESD事件中过多的电荷，确保内部的PWM控制电路不受损坏，节省版图面积。并且ESD侦测电路可以保证ESD事件对RC电路触发开启保护作用，又可以防止芯片正常工作电压上叠加的尖峰电压对钳位电路引起误触发。
传递电路电压吸收电压侦测侦测电路侦测电压侦测电路本实用新型电压钳位芯片控制集成电路正常工作电压供电电源尖峰电压钳位电路电荷误触发触发叠加吸收保证

[发明专利]一种电压钳位及ESD保护电路-CN201811218642.3在审
发明人：吴霖;樊杨 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2018-10-19 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： H02H9/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种电压钳位及ESD保护电路，包括VCC电压侦测电路、VCC电压侦测传递电路、ESD侦测电路、ESD侦测传递电路和电压吸收单元；VCC电压侦测电路与供电电源端口和VCC电压侦测传递电路相连，VCC电压侦测传递电路与电压吸收单元相连，ESD侦测电路与ESD侦测传递电路相连，ESD侦测传递电路与电压吸收单元相连，电压吸收单元与PWM开关控制集成电路芯片相连。本发明通过共用了一个电压吸收单元来吸收过高的电压及ESD事件中过多的电荷，确保内部的PWM控制电路不受损坏，节省版图面积。并且ESD侦测电路可以保证ESD事件对RC电路触发开启保护作用，又可以防止芯片正常工作电压上叠加的尖峰电压对钳位电路引起误触发。
传递电路电压吸收电压侦测侦测电路侦测电压侦测电路电压钳位芯片控制集成电路正常工作电压供电电源尖峰电压钳位电路电荷误触发触发叠加吸收保证

[发明专利]一种大面积平行堆栈式封装结构和封装方法-CN201510982782.8有效
发明人：颜莉华 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： H01L21/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种大面积平行堆栈式封装结构和封装方法，包括基板、划线槽、外封盖、多个待封芯片和/或元器件，其中：所述基板，用以承载待封芯片和/或元器件；所述多个待封芯片和/或元器件，以平行方式依次堆栈在所述基板上，并与所述基板电性连接；所述划线槽，形成于基板的划槽区域上；所述外封盖，通过所述划线槽套设在所述基板上。本发明可以有效提高产品封装的良率，总体降低产品的成本，且制备方法工艺简单，效果显著，且兼容于一般的半导体工艺，适用于工业生产。
基板划线槽元器件封装结构平行堆栈芯片外封盖封装制备方法工艺半导体工艺产品封装基板电性平行方式堆栈划槽良率兼容承载

[发明专利]一种光电传感器测试设备及其测试方法-CN201610202099.2有效
发明人：颜莉华 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2016-04-01 - 公布日： 2018-02-06 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电传感器测试设备及其测试方法，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，所述机构底座具有斜坡；所述测试轨道沿斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；所述测试暗室位于测试轨道上，测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源所述支撑装置将测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；所述反射板设置于第一暗室和第二暗室的顶部；所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。本发明具有节能、误差小、测试时间短、效率高等诸多优点。
一种光电传感器测试设备及其方法

[实用新型]一种光电传感器测试设备-CN201620270446.0有效
发明人：颜莉华 -专利权人： 南京慧感电子科技有限公司
申请日： 2016-04-01 - 公布日： 2016-08-17 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电传感器测试设备，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，所述机构底座具有斜坡；所述测试轨道沿斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；所述测试暗室位于测试轨道上，测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：所述支撑装置将测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；所述反射板设置于第一暗室和第二暗室的顶部；所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。本实用新型具有节能、误差小、测试时间短、效率高等诸多优点。
一种光电传感器测试设备