专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于MCU芯片检验的自动测试系统-CN202211440426.X在审
  • 单国鑫;汪标;何代明 - 天津兆讯电子技术有限公司
  • 2022-11-17 - 2023-03-03 - G05B19/042
  • 本发明公开了一种用于MCU芯片检验的自动测试系统,包括系统逻辑控制单元、可调电压输出单元、电压/电流采集单元、第一高精度低压差线性稳压器、第二高精度低压差线性稳压器、直流电源单元和人机接口单元。其中,人机接口单元与系统逻辑控制单元连接;系统逻辑控制单元通过SPI通信方式分别与可调电压输出单元和电压/电流采集单元连接,通过串口通信方式与被测的MCU芯片连接;可调电压输出单元的输出端通过调压电路与高精度低压差线性稳压器的反馈端连接;电压/电流采集单元的输入端通过采集电路与高精度低压差线性稳压器的输出端连接。利用本发明,可以提高测试工作的效率,同时有效节约测试成本。
  • 一种用于mcu芯片检验自动测试系统

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