专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种雪崩光电探测器的制备方法-CN202111159341.X有效
  • 杨志茂;王斌 - 北京英孚瑞半导体科技有限公司
  • 2021-09-30 - 2023-09-12 - H01L31/18
  • 本发明公开了一种雪崩光电探测器的制备方法,在n型InP衬底上依次生长n型InP缓冲层、In0.53Ga0.47As吸收层、InxGa1‑xAsyP1‑y带宽渐变层、n型InP电荷控制层、本征InP倍增层和p型InP盖层;然后腐蚀盖层和部分倍增层,腐蚀后剩余的盖层区域形成中央集电区和环绕中央集电区的电场保护环,然后在被腐蚀区域二次外延生成InP阻隔层;然后淀积SiO2层,并刻蚀掉部分区域的SiO2使得在InP隔离层之上形成一圈环形的SiO2隔离层;之后淀积光学减反膜并在中央集电区上方的光学减反膜上开出一个金属接触窗口;然后构建上电极,上电极通过金属接触窗口与中央集电区接触;最后在InP衬底背面制备背电极。
  • 一种雪崩光电探测器制备方法
  • [发明专利]一种InGaAs焦平面红外探测器的制备方法-CN202211022239.X在审
  • 弭伟;杨志茂;王斌;陈新荣 - 北京英孚瑞半导体科技有限公司
  • 2022-08-25 - 2022-11-29 - H01L31/18
  • 本发明公开了一种InGaAs焦平面红外探测器的制备方法,其光吸收层为In0.53Ga0.47As吸收层,空穴在光吸收层中为多数载流子,光生空穴的产生速度为其介质弛豫速度,在飞秒量级,可以忽略。光生电子在In0.53Ga0.47As吸收层中通过扩散和漂移运动至N型InP漂移层;同时在本发明的探测器,只有电子一种载流子控制实际的输运速度,相比于传统的PIN型InP焦平面探测器,本发明的探测器不受制于速度较慢的空穴,因此,其响应速度大幅度提高。在In0.53Ga0.47As吸收层的Zn扩散掺杂浓度从上往下逐步降低,因此其能带从上往下逐步降低,这将辅助电子的扩散,提高扩散速度。
  • 一种ingaas平面红外探测器制备方法
  • [实用新型]一种雪崩光电探测器-CN202122405062.9有效
  • 杨志茂;王斌 - 北京英孚瑞半导体科技有限公司
  • 2021-09-30 - 2022-05-10 - H01L31/107
  • 本实用新型公开了一种雪崩光电探测器,其包括自下而上依次设置的背电极、n型InP衬底、n型InP缓冲层、In0.53Ga0.47As吸收层、InxGa1‑xAsyP1‑y带宽渐变层、n型InP电荷控制层和本征InP倍增层,在本征InP倍增层之上设置有p型InP中央集电区、p型InP电场保护环以及InP隔离层,电场保护环环绕在中央集电区外围,InP隔离层填充在电场保护环和中央集电区之间的间隔区域以及电场保护环外围的区域;在中央集电区、电场保护环以及InP隔离层之上设置有带金属接触窗口的光学减反膜,在光学减反膜之上设置有带光学入射窗口的上电极,上电极透过光学减反膜上的金属接触窗口与中央集电区接触。本实用新型可以提高了探测器的响应速度、降低探测器边缘被击穿的概率、减小边缘的隧穿暗电流。
  • 一种雪崩光电探测器
  • [实用新型]一种InAlAs雪崩光电探测器结构-CN202122496454.0有效
  • 杨志茂;王斌 - 北京英孚瑞半导体科技有限公司
  • 2021-10-15 - 2022-05-10 - H01L31/107
  • 本实用新型公开了一种InAlAs雪崩光电探测器结构,其包括自下而上依次设置的背电极、p型InP衬底、p型InP缓冲层、吸收层、带宽渐变层、p型电荷控制层、倍增层和腐蚀截止层;腐蚀截止层的上层设置有n型InP中央集电区、n型InP电场保护环、以及InP阻隔层,在n型InP中央集电区、n型InP电场保护环以及InP阻隔层上表面镀有带金属接触窗口的光学减反膜,所述金属接触窗口为环形,位于n型InP中央集电区的上表面;在光学减反膜之上设置有带光学入射窗口的上电极,上电极透过光学减反膜上的金属接触窗口与所述n型InP中央集电区接触;上电极上的光学入射窗口位于n型InP中央集电区上表面的光学减反膜的上方。
  • 一种inalas雪崩光电探测器结构
  • [发明专利]一种雪崩光电探测器的制备方法-CN202111207165.2在审
  • 杨志茂;王斌 - 北京英孚瑞半导体科技有限公司
  • 2021-10-15 - 2022-03-01 - H01L31/18
  • 本发明公开了一种雪崩光电探测器的制备方法,首先在p型InP衬底上依次生长p型InP缓冲层、In0.53Ga0.47As吸收层、In1‑x‑yAlxGayAs带宽渐变层、p型In0.52Al0.48As电荷控制层、In0.52Al0.48As倍增层、InxGa1‑xAsyP1‑y腐蚀截止层和p型InP盖层;之后腐蚀p型InP盖层,被腐蚀的区域包括一中央区域和环绕该中央区域的一个或多个环形区域;之后在被腐蚀区域二次外延n型InP,形成n型InP中央集电区以及n型InP电场保护环;然后淀积SiO2层,并刻蚀掉部分区域的SiO2形成一圈环形的SiO2隔离层;之后淀积光学减反膜并在中央集电区上方的光学减反膜上开出一个金属接触窗口;然后构建上电极,上电极通过金属接触窗口与中央集电区接触;最后在InP衬底背面制备背电极。
  • 一种雪崩光电探测器制备方法

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