专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种可同时测量滚转角和直线度的双频激光干涉仪-CN201910728477.4有效
  • 蒋弘;吴健 - 北京市普锐科创科技有限责任公司
  • 2019-08-08 - 2021-05-18 - G01B11/26
  • 本发明公开一种可同时测量滚转角和直线度的双频激光干涉仪,包括双频激光头和中性分光镜,在中性分光镜透射或反射形成的第一测量光路上依次设置第一偏光分束镜、第二偏光分束镜和基准反射镜,在中性分光镜反射或透射形成的第二测量光路上依次设置平面反射镜以及第一偏光分束镜、第二偏光分束镜和基准反射镜,第二偏光分束镜、第一偏光分束镜和第一偏振光电接收器/第二偏振光电接收器还依次位于第一测量光路/第二测量光路从基准反射镜反射后返回光的光路上。本发明能同时完成滚转角和直线度的的测量,不仅光学零件数目减少,而且调整过程的工作量减半,而且可以消除由于第一测量光和第二测量光不平行所引起的滚转角误差,使测量精度大大提升。
  • 一种同时测量转角直线双频激光干涉仪
  • [发明专利]一种激光直线度和位移的测量装置-CN201310231631.X有效
  • 蒋弘;吴健 - 北京市普锐科创科技有限责任公司
  • 2013-06-09 - 2013-09-18 - G01B11/26
  • 本发明公开一种激光直线度和位移的测量装置,包括双频激光器光源和普通分光镜,在普通分光镜的测量光路上设置有第一光路折回反射镜,在第一光路折回反射镜的第一反射光路上依次设置有第一渥拉斯顿棱镜、第二渥拉斯顿棱镜和基准反射镜,第二渥拉斯顿棱镜、第一渥拉斯顿棱镜和第一光路折回反射镜还依次位于从基准反射镜反射后返回光的光路上,在第一光路折回反射镜的第二反射光路上设置有偏振分光镜,偏振分光镜还位于普通分光镜的参考光路上,偏振分光镜的两个出光方向上分别依次设置检偏器和光电接收器,两个光电接收器连接信号处理单元。本发明能同时完成直线度和位移的测量,降低了设备成本,简化了调节过程,提高了测试效率,保证了测量精度。
  • 一种激光直线位移测量装置
  • [发明专利]激光直线度/同轴度测量装置-CN201010218507.6有效
  • 蒋弘;吴健 - 北京市普锐科创科技有限责任公司
  • 2010-06-25 - 2010-12-15 - G01B11/26
  • 本发明公开一种激光直线度/同轴度测量装置,包括在测量光路上依次设置的第一渥拉斯顿棱镜、第二渥拉斯顿棱镜和平移反射镜,第二渥拉斯顿棱镜和第一渥拉斯顿棱镜依次位于从平移反射镜反射后返回光的光路上;平移反射镜为在相互垂直的两个方向上均具有光路漂移自适应功能的平面镜结构,当入射光沿平移反射镜的特征方向入射时,平移反射镜反射后返回光与入射光方向相反、相互平行且返回光与入射光之间距离恒定。本发明使得水平方向和垂直方向直线度测量时的基准不变,这样就大大简化了调节过程,缩减了调节时间,提高了调节效率。
  • 激光直线同轴测量装置
  • [发明专利]二维横向塞曼双频激光直线度/同轴度测量装置-CN200610169681.X无效
  • 蒋弘;吴健;陈强华;柳忠尧;李睿颖 - 北京市普锐科创科技有限责任公司
  • 2006-12-27 - 2008-07-02 - G01B11/26
  • 本发明公开一种二维横向塞曼双频激光直线度/同轴度测量装置,包括:双频激光器光源、依次设置在该激光器发射端的光路轴线上的望远镜、分光镜,平行分光镜、第一个及第二个二维渥拉斯顿棱镜和二维直角棱镜,设置在分光镜与第一个二维渥拉斯顿棱镜之间接收返回光的第二检偏器和第二光电接收器、第三检偏器和第三光电接收器,设置在分光镜反射光路上的第一检偏器和第一光电接收器,以及与三个光电接收器相连的双路信号处理单元和显示单元。本发明采用二维光学元件代替一维光学元件,使得水平方向和垂直方向的直线度装置的安装调试和测量一次完成,缩短了测量时间,提高了安装精度,可以更精确地评价被测物体的直线度/同轴度误差状况。
  • 二维横向双频激光直线同轴测量装置

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