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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种检测专用集成电路的方法及装置-CN200710098743.7无效
发明人：陈卓;孙杰 -专利权人： 北京南山之桥信息技术有限公司
申请日： 2007-04-26 - 公布日： 2007-09-26 - 主分类号： G01R31/3177 文献下载
摘要：本发明提供一种检测集成电路ASIC的方法及装置，包括下列步骤：步骤A：在激励数据包进入ASIC芯片以执行其相应的操作之前，根据激励数据包要执行的操作，将预先设置的相应的输出信息封装在该激励数据包的载荷内容中，然后将该激励数据包送入至ASIC芯片执行相应处理；步骤B：在ASIC芯片的输出端监听激励数据包的输出，并将实际的输出结果与激励数据包中封装的预设的输出信息进行比较，如果两个结果相一致，则表示芯片正常，不存在BUG；否则表示芯片存在BUG。依照本发明的检测专有集成电路ASIC的方法及装置，能够不需要创建仿真模型，即可对ASIC芯片进行检测或验证，节约人力成本。
一种检测专用集成电路方法装置

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