“冯雨周”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果19个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]快速圈定脉状金矿床矿体及获得其指示标志指标的方法-CN202211197206.9有效
发明人：肖兵;陈华勇;吴超;张俊岭;冯雨周;初高彬 -专利权人：中国科学院广州地球化学研究所
申请日： 2022-09-29 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：本发明公开了一种快速圈定脉状金矿床矿体及获得其指示标志指标的方法。其中，获得所述指示标志指标的方法包括：以金矿体为中心进行地表和钻孔采样，测试所得不同区域的采样岩石样品的金含量，并根据金含量进行矿化区或非矿化区的划分；将矿化区和非矿化区的每个采样岩石样品进行多次短波红外光谱测试，将得到的多个短波红外光谱进行数据优化，根据优化得到的短波红外光谱图确定采样岩石样品中的白云母族矿物，并根据其与矿化区域或非矿化区域的对应情况，确定所述指示标志指标。本发明可通过使用简单有效且经济的指示标志指标进行矿体分布位置的精确圈定，达到精确评估、高效利用金矿资源的目的。
快速圈定金矿矿体获得指示标志指标方法

[发明专利]一种基于稀土元素特征评估花岗岩成矿潜力的方法及应用-CN202211548619.7在审
发明人：初高彬;陈华勇;肖兵;冯雨周;杨毓波 -专利权人：中国科学院广州地球化学研究所
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于稀土元素特征评估花岗岩成矿潜力的方法及应用，涉及矿床勘探技术领域。该基于稀土元素特征评估花岗岩成矿潜力的方法可以充分利用花岗岩的全岩地球化学特征评估花岗岩成矿潜力，本申请从华南离子吸附型稀土矿的成矿母岩出发，根据矿体与成矿花岗岩的稀土氧化物的富集倍数，以最低工业品位为评估标准，通过分析全岩稀土氧化物含量的阈值和轻重稀土氧化物含量的比值，建立全岩稀土元素特征评估标准，用以判断花岗岩的成矿潜力，可以筛除出具有成矿潜力的花岗岩，便于对其进一步勘探，有利于缩小勘探范围，缩短勘查周期，降低物力和人力成本；快速高效的筛选具有潜力的花岗岩；大幅提高了成矿预测的准确性。
一种基于稀土元素特征评估花岗岩成矿潜力方法应用

[发明专利]利用绿泥石微量元素含量快速圈定斑岩矿床矿体的方法-CN202211364276.9在审
发明人：肖兵;陈华勇;吴超;冯雨周;张俊岭;初高彬;黄健瀚 -专利权人：中国科学院广州地球化学研究所
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明公开了利用绿泥石微量元素含量快速圈定斑岩矿床矿体的方法，涉及矿床勘查技术领域。该方法包括从已知的斑岩矿床矿区进行多次三维空间采样获得多个样品；将多个样品打磨成薄片，筛选含有绿泥石的薄片；进行扫描电镜分析，筛选出待测样本；进行电子探针分析以获得主量元素含量；进行LA‑ICP‑MS分析以获得微量元素含量；筛选目标数据；根据目标数据中微量元素与其对应的样品的空间信息之间的关系，构建斑岩矿床绿泥石勘查标志方程式，本申请极大地提高了元素异常的幅度和范围，提高了斑岩矿床找矿效率及准确性，有效地对矿床深边部找矿提出前瞻性预测，减少勘探成本和时间，高效合理的利用矿产资源。
利用绿泥石微量元素含量快速圈定斑岩矿床矿体方法

[实用新型]集成式分选测试设备-CN202220406154.0有效
发明人：张新;冯雨周;包荣剑;邱成;张磊;罗铭君;韩笑;胡宁波 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种集成式分选测试设备，其能够解决测试时间长，有助于提高测试效率。该集成式分选测试设备包括：供料装置，用于供应待测物料；收料装置，用于接收已测物料；多层式检测装置，其中该多层式检测装置包括机架和多个检测平台层，并且多个该检测平台层被间隔地叠置于该机架；以及电梯料梭，其中该供料装置和该收料装置被并排布置，并且该电梯料梭被对应地设置于该多层式检测装置与该供料装置和该收料装置之间，以通过该电梯料梭将多个该检测平台层可流转物料地连接于该供料装置和该收料装置。
集成分选测试设备

[发明专利]用于电子元器件AiP测试的测压装置-CN202110107196.4在审
发明人： 冯雨周;胡冲;张磊 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本申请涉及测压装置技术领域，特别是涉及一种用于电子元器件AiP测试的测压装置。该测压装置包括底板组件、暗箱组件、驱动组件、存放组件以及压头组件；暗箱组件及驱动组件安装于底板组件上，暗箱组件靠近底板组件的侧面上开设有检测孔，存放组件安装于底板组件上，且存放组件的至少一部分位于检测孔内，以存放待检测芯片，压头组件位于暗箱组件内，且压头组件的部分从检测孔伸出，并与驱动组件连接，且压头组件在驱动组件带动下，能够靠近存放组件运动，以对待检测芯片进行施压测试。本申请的优点在于：能够进行快速自动化测试、具有暗室环境、结构简单且效率高。
用于电子元器件 aip 测试装置

[发明专利]芯片高温测压分选系统及高温测压分选方法-CN201910026688.3有效
发明人：张新;韩笑;陈启其;章华荣;冯雨周;陈文艺;汪昊;范中森;程高飞;田勇鹏 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2019-01-11 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片高温测压分选系统，包括：底座，两个前后并列设置于底座上端的料梭装置，若干个设于料梭装置前侧的高温测压装置，若干个设于料梭装置后侧的高温加热装置，与料梭装置左端相对的供收料装置，设有至少一个位于供收料装置和料梭装置一端上方的吸附组件的取放料装置，设有位于料梭装置、高温测压装置和高温加热装置上方的若干个吸附组件的测试转位装置。所述的芯片高温测压分选系统适用于芯片高温测压分选。
芯片高温分选系统方法

[发明专利]指纹模组站高测量机构及站高测量方法-CN201810653414.2有效
发明人：鲍军其;冯雨周;刘治震 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2018-06-22 - 公布日： 2020-03-03 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明的目的是提供一种指纹模组站高测量机构及站高测量方法。一种指纹模组站高测量机构，包括：设有横梁的支架，设于横梁上端的移动直线导轨，与移动直线导轨的滑块连接的移动座，移动驱动装置，两个与移动座两侧端一一对应的升降组件，设有位于升降组件下侧的安装座的站高测量装置，升降装置；升降组件包括：与移动座侧端连接的基板，通过竖向直线导轨与基板滑动连接的升降板；升降板下端与安装座之间设有浮动组件。该指纹模组站高测量机构的升降板下端与安装座之间设有浮动组件，浮动组件能进行XYZ三个方向、六个自由度的浮动，减小升降驱动冲击力且不会产生侧向力，指纹模组站高测试精度较高。
指纹模组测量机构测量方法

[实用新型]一种实验室样品切割用的固定装置-CN201920516781.8有效
发明人：翟素杉;李莎莎;冯雨周;曹云飞;陈千彪 -专利权人：广州市拓岩检测技术有限公司
申请日： 2019-04-16 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： B01L9/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种实验室样品切割用的固定装置，包括矩形防护框，矩形防护框内壁的中部固定设有工作台，工作台两侧的顶部分别穿插安装有两个矩形套管，两个矩形套管分别滑动套设在两个L型夹板一端的外部，且两个矩形套管内壁的另一端均通过弹簧分别与两个L型夹板的一端固定连接，矩形防护框内壁的底端固定设有两对螺杆，两对螺杆分别安装有两个压紧装置，本实用新型一种实验室样品切割用的固定装置，两个L型夹板在弹簧的作用下可以在一定范围内对不同尺寸的玉石或矿石样品进行夹紧，调节第二锁紧螺母的位置可以调节压板的位置可以根据玉石或矿石样品的高度进行调节压紧，使固定装置便于根据样品的大小进行调节固定。
固定装置矩形套管防护框内壁本实用新型实验室样品矿石样品工作台弹簧对螺玉石切割锁紧螺母压紧装置滑动套底端夹紧压板压紧穿插外部

[发明专利]指纹芯片按压模拟测试装置及测试方法-CN201710751661.1有效
发明人：刘治震;鲍军其;冯雨周 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2019-12-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及指纹芯片测试领域，目的是提供一种指纹芯片按压模拟测试装置及测试方法。一种指纹芯片按压模拟测试装置，包括：底座，设于底座上的若干个横向排列的测试座单元，设有横梁和纵向驱动装置且与底座通过至少一个纵向导轨滑动连接的纵向移动座，设有横向驱动装置且与横梁通过横向导轨滑动连接的横向移动座，设于横向移动座上且个数与测试座单元个数相同的假手指测试单元；假手指测试单元位于测试座单元上侧且与测试座单元一一对应。该指纹芯片按压模拟测试装置测试效率和测试精度较高。
指纹芯片按压模拟测试装置方法

[实用新型]一种用于实验样品的盛放装置-CN201920515109.7有效
发明人：李莎莎;张波;冯雨周;李美菊;曹云飞;陈千彪 -专利权人：广州市拓岩检测技术有限公司
申请日： 2019-04-16 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： B65D25/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于实验样品的盛放装置，包括盛放板本体，盛放板本体包括上卡板和下卡板，下卡板通过穿插进螺槽内部的紧固螺栓与上卡板螺纹连接，下卡板的正面一侧开设有若干个第一卡槽，下卡板的正面另一侧开设有若干个第二卡槽，下卡板的正面中部开设有若干个第三卡槽，本实用新型一种用于实验样品的盛放装置，通过设置有若干个不同尺寸的卡槽，可根据实验样品(矿石、玉石等)的尺寸大小进行分类，且每个卡槽内部均固定卡合连接有尺寸不同的弹簧，可将实验样品(矿石、玉石等)的棱角卡合在弹簧缝隙内，使实验样品(矿石、玉石等)放置得更加稳定且其棱角不易受损。
实验样品下卡板卡槽玉石矿石本实用新型盛放装置上卡板盛放板棱角弹簧缝隙紧固螺栓螺纹连接固定卡弹簧卡合螺槽穿插受损分类

[实用新型]一种芯片测压装置-CN201822152036.8有效
发明人： 冯雨周;鲍军其;胡冲 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片测压装置，包括：基板，两个至八个测压装置；测压装置包括：与基板下端连接的测压座，设于测压座上端且与测压座两端贯通的容置槽，设于容置槽底面且与测压座下端贯通的导向通孔，穿设于导向通孔中且与导向通孔适配的压头，设于容置槽中且与压头上端连接的升降块，至少一个调节螺钉，设于升降块上端的个数与调节螺钉个数相同且一一对应的螺孔，基板设有的个数与调节螺钉个数相同且一一对应的吊丝通孔，设于升降块上端和基板下端之间的压簧组；调节螺钉的螺杆下端穿过吊丝通孔且与螺孔螺接。所述的芯片测压装置，测压稳定性较好，测压效率较高且成本较低。
测压测压装置螺钉基板下端导向通孔上端升降芯片容置槽吊丝通孔贯通本实用新型容置槽底面螺孔螺压簧组穿设螺杆螺孔适配压头穿过

[实用新型]一种高温测压压头装置-CN201822142138.1有效
发明人： 冯雨周;鲍军其;胡冲 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N3/18 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种高温测压压头装置，包括：基板，两个至六个测压装置；测压装置包括：与基板下端连接的测压座，设于测压座上端且与测压座两端贯通的容置槽，设于容置槽底面且与测压座下端贯通的通孔，穿设于通孔中且与通孔适配的压头，设于容置槽中且与压头上端连接的升降块，设于升降块中的加热器和温度传感器，设于升降块上端和基板下端之间的压簧组。所述的高温测压压头装置测压稳定性较好适用于集成电路高温测压，测压效率较高且成本较低。
测压头装置基板通孔下端升降测压装置容置槽上端贯通本实用新型容置槽底面温度传感器加热器压簧组穿设适配压头集成电路

[实用新型]芯片高温测压分选系统-CN201920050685.9有效
发明人：张新;韩笑;陈启其;章华荣;冯雨周;陈文艺;汪昊;范中森;程高飞;田勇鹏 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2019-01-11 - 公布日： 2019-09-13 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片高温测压分选系统，包括：底座，两个前后并列设置于底座上端的料梭装置，若干个设于料梭装置前侧的高温测压装置，若干个设于料梭装置后侧的高温加热装置，与料梭装置左端相对的供收料装置，设有至少一个位于供收料装置和料梭装置一端上方的吸附组件的取放料装置，设有位于料梭装置、高温测压装置和高温加热装置上方的若干个吸附组件的测试转位装置。所述的芯片高温测压分选系统适用于芯片高温测压分选。
芯片高温高温加热装置供收料装置测压装置吸附组件底座本实用新型取放料装置并列设置转位装置上端和料左端测试

[发明专利]集成电路随动对位测压装置及随动对位方法-CN201610893914.4有效
发明人：鲍军其;赵轶;姜传力;刘治震;韩笑;冯雨周;杨杰 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2016-10-13 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试领域，目的是提供一种集成电路随动对位测压装置及随动对位方法。一种集成电路随动对位测压装置，包括：至少一个上端设有气缸头的薄膜气缸；所述的集成电路随动对位测压装置还包括：与气缸头上端连接的转接板，个数与薄膜气缸个数相同且一一对应的随动机构；随动机构包括：与薄膜气缸下端连接的连接板，与连接板下端连接的水平随动机构，设有加热器且与水平随动机构下端连接的耐高温测压组件。该集成电路随动对位测压装置与集成电路座对位方便测试效率较高，且测试时集成电路受压均衡提高测试精度；薄膜气缸使集成电路随动对位测压装置与集成电路测压座入位时挤压缓冲作用。
集成电路对位装置方法

[发明专利]高温测压压头装置-CN201811558402.8在审
发明人： 冯雨周;鲍军其;胡冲 -专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01N3/18 文献下载
摘要：本发明涉及一种高温测压压头装置，包括：基板，若干个测压装置；测压装置包括：与基板下端连接的测压座，设于测压座上端且与测压座两端贯通的容置槽，设于容置槽底面且与测压座下端贯通的通孔，穿设于通孔中且与通孔适配的压头，设于容置槽中且与压头上端连接的升降块，设于升降块中的加热器和温度传感器，设于升降块上端和基板下端之间的压簧组；升降块的宽度与容置槽的宽度适配。所述的高温测压压头装置测压稳定性较好适用于集成电路高温测压，测压效率较高且成本较低。
测压升降容置槽头装置基板通孔下端测压装置上端适配贯通容置槽底面温度传感器加热器压簧组穿设压头集成电路

1
2
下一页»
尾页
共 19 条