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[发明专利]一种芯片测试方法及系统-CN202211090910.4有效
发明人： 充志阳;王少虎 -专利权人：南京芯驰半导体科技有限公司
申请日： 2022-09-07 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种芯片测试方法，其包括：通过JTAG接口对连接测试端和系统级芯片的测试接口进行使能，其中，测试接口包括：通过JTAG管脚与系统级芯片连接的JTAG接口和通过通用输入输出管脚与系统级芯片连接的通用输入输出接口；经由通用输入输出接口同时向系统级芯片发送多组测试向量数据，以对系统级芯片的多个片内资源同时进行测试；响应多个片内资源的执行结果，并同时经由通用输入输出接口向测试端输出多组测试结果数据，多组测试数据对应于多组测试向量数据。本申请还提供一种芯片测试系统，可以提高测试速度。
一种芯片测试方法系统

[发明专利]系统芯片的自动化测试方法、装置、芯片、设备及系统-CN202211420992.4有效
发明人：朱华;充志阳 -专利权人：南京芯驰半导体科技有限公司
申请日： 2022-11-15 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G06F30/333 文献下载
摘要：本申请公开了一种系统芯片的自动化测试方法、装置、芯片、设备及系统，属于芯片技术领域。所述方法包括：在系统芯片中配置测试单元；接收自动测试机台发送的测试内容；根据测试内容调用系统芯片中配置的测试单元，根据测试单元对系统芯片进行测试；根据测试后得到的测试结果生成指纹，将指纹发送给自动测试机台，自动测试机台用于将指纹与标准指纹进行比较，并根据比较结果确定系统芯片的测试结果。本申请能够根据测试内容调用自身配置的测试单元来完成测试，减少了测试过程中的数据传输，提高了测试速度，还能够反馈测试结果的指纹，以减少数据传输和提高系统芯片的安全性。
系统芯片自动化测试方法装置设备