专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于复杂度引导相位恢复的散斑成像重建方法-CN202110746763.0在审
  • 崔光茫;何镔韬;曹超伟;赵巨峰 - 杭州电子科技大学
  • 2021-07-01 - 2021-12-10 - G06T11/00
  • 本发明涉及一种基于复杂度引导相位恢复的散斑成像重建方法,所示方法步骤包括:S1、建立散斑图像空间模型,获取复杂度信息;S2、根据每次迭代的结果配置稀疏性准则,设定预估解;S3、进行迭代,设定约束条件,对迭代得到的解进行反馈更新,得到迭代结果;S4、使用稀疏性准则对迭代结果进行梯度更新,计算对应的复杂参数,保存符合误差要求的解;S5、重复S3至S4,每次迭代完成后,将迭代结果替换,直到达到预设迭代次数,根据最终结果重建散斑得到复原图。该算法中复杂度参数可以明确地作为控制解稀疏性的指导,从而获得更好的成像结果;能有效的减少实验方案所需的相位恢复迭代次数,还可以解决迭代过程中的停滞问题。
  • 一种基于复杂度引导相位恢复成像重建方法
  • [发明专利]一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法-CN202110315440.6在审
  • 崔光茫;曹超伟;赵巨峰;何镔韬 - 杭州电子科技大学
  • 2021-03-24 - 2021-08-06 - G01N21/47
  • 本发明公开了一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法,包括同一直线上依次设置的光源、各种光路辅助器件、不透光薄板、散射介质辅助采集光路,所述不透光薄板中心设有透射型成像目标。方法包括:S1通过改变散射介质相对于中心位置的距离连续采集n次成像面的散斑;S2将采集到的散斑进行自相关表示;S3通过混合估计恢复算法对得到的自相关图案进行复原;S4利用混合估计恢复算法来对目标图像进行限制;S5获取散射介质的点扩展函数。上述技术方案在面对厚散射介质时,使用平移光学记忆效应替换传统光学记忆效应,克服了角度记忆效应的薄散射介质局限和自由衍射局限,能够突破传统记忆效应的限制,简化具体实验装置。
  • 一种侵入散射介质扩展函数获取装置方法

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