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[发明专利]成像光测量装置-CN202080064315.6在审
发明人：罗兰·尚兹;米格尔·洛佩斯 -专利权人： 仪器系统光学测量技术有限责任公司
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种成像光测量装置，该成像光测量装置包括图像传感器(117)、光学光谱仪(120)和数据处理单元(118)，其中，图像传感器(117)和光谱仪(120)被配置成接收由测量对象(110)发出的光，数据处理单元(118)连接至图像传感器(117)和光谱仪(120)，并且处理由图像传感器(117)和光谱仪(120)输出的测量信号。本发明的目的是提供一种光测量装置，该光测量装置允许以简单且成本有效的方式对测量过程进行精确的时间控制。为此目的，本发明建议，图像传感器(117)和光谱仪(120)各自具有触发输入部(122，123)，其中，施加在该触发输入部(122，123)处的触发信号启动测量过程。
成像测量装置

[发明专利]用于监测光谱辐射计的方法和设备-CN201980060560.7在审
发明人： M·赫;R·黑林;F·舍韦;M·曼格斯特尔;T·科普 -专利权人： 仪器系统光学测量技术有限责任公司
申请日： 2019-08-09 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01J1/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于监测光谱辐射计(4)的方法，尤其用于测量发光测试对象(1)的方法，其中，借助光学系统检测测试对象(1)的光谱数据，其中，由所述光谱数据求取测试对象(1)的辐射度参量、光度参量和/或色度参量。本发明的任务是说明一种用于监测光谱辐射计(4)的方法，其中，首要的不是对光谱辐射计(4)持续地进行再校准，而是监测何时需要校准。本发明通过如下方式解决该问题：通过测量集成到该光学系统中的、具有所定义的光谱的参考光源(5)，根据该参考光谱来探测光谱辐射计(4)在波长刻度方面、在光吞吐量方面和/或在光谱灵敏度方面的改变。可选地，至少一个集成到该光学系统中的探测器可以附加地监测该参考光源(5)的稳定性。此外，本发明涉及一种用于执行该方法的设备。
用于监测光谱辐射计方法设备

[发明专利]用于校准光谱辐射仪的方法-CN201580075061.7有效
发明人： F·弗兰克;R·扬;J·雷比格;R·黑林 -专利权人： 仪器系统光学测量技术有限责任公司
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2020-02-28 - 主分类号： G01J3/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于校准光谱辐射仪(1)的方法，所述方法具有以下方法步骤：通过借助待校准的光谱辐射仪(1)测量至少一个标准光源(4)的辐射来接收光测量数据；通过将所接收的光测量数据与所述标准光源(4)的已知数据进行比较，由所述光测量数据推导校准数据；并且根据所述校准数据校准所述光谱辐射仪(1)。本发明的任务是，提供一种用于校准所述光谱辐射仪(1)的可靠并且可行的方法。尤其应该以简单并且可靠的方式制造位于不同位置(9，10，11)上的光谱辐射仪(1)的同步性。为此，本发明提出，通过如下方式检验标准光源对于校准的有效性、即可用性：将所述标准光源(4)的光测量数据与一个或多个其他相同类型的标准光源(4)的光测量数据进行比较，其中，如果所述标准光源(4)的光测量数据彼此的偏差低于预给定的边界值，则确定所述标准光源(4)的有效性，和/或借助两个相同或不同类型的两个或更多个标准光谱辐射仪(1′)测量所述标准光源(4)，其中，如果借助所述不同的标准光谱辐射仪(1′)所接收的光测量数据彼此的偏差低于预给定的边界值，则确定所述标准光源(4)的有效性。
用于校准光谱辐射方法

[发明专利]用于显示测试的比色系统-CN201610126993.6有效
发明人： T·佐佐田;J·诺伊迈尔;R·黑林 -专利权人： 仪器系统光学测量技术有限责任公司
申请日： 2016-02-14 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01J3/50 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于对从样品上的多个位置发出的光的三色值进行二维空间分辨测量的方法。本发明的目的是在用于显示测试的标准色彩空间中提供一种改进的用于空间分辨的色度和亮度测量的方法和系统。本发明的方法包括下列步骤：‑将光的第一部分引导到产生RGB色彩值的二维映射的RGB相机；‑将RGB色彩值转换成第一三色值以产生三色值的映射；‑将光的第二部分引导到产生第二三色值的色度计；‑通过将第二三色值与第一三色值的至少一子集进行比较以获得三色修正值；以及‑将该三色修正值应用于第一三色值以产生三色值的修正映射。此外，本发明涉及一种能够对样品上的多个位置发出的光的三色值进行二维空间分辨测量的成像色度计系统。
用于显示测试比色系统

[发明专利]具有可控制的光谱的光源-CN201680043528.4在审
发明人： F·弗兰克;M·埃斯特曼;C·卡佩尔;F·舍韦;R·黑林;A·温克勒;C·M·R·格里夫斯 -专利权人： 仪器系统光学测量技术有限责任公司
申请日： 2016-07-21 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于发光的设备，其包括多个光源(1)；控制装置(2)，其驱动光源(1)；叠加光学单元，其将光源(1)发射的光叠加在出口(3)中。本发明的目的在于提供一种与现有技术相比有所改进的设备。为此，本发明提出所述叠加光学单元包括第一凹面镜(4)，光源(1)布置在所述第一凹面镜的焦平面中；光栅(5)，第一凹面镜(4)将由光源(1)发射的光(6)反射到所述光栅上，以及第二凹面镜(7)，其将在光栅(5)处衍射的光(8)反射到位于第二凹面镜(7)的焦点处的出口(3)上。
具有控制光谱光源

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