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[发明专利]具有可变接受角的平行板X射线准直器和X射线分析装置-CN202310257300.7在审
发明人： V·科根;亚历山大·哈尔陈科;D·贝克尔斯 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2023-03-16 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：本申请涉及具有可变接受角的平行板X射线准直器和X射线分析装置。本发明的实施例提供了：X射线准直器，其用于通过限制入射X射线束的发散来准直入射X射线束，该X射线准直器具有可变接受角；X射线分析装置，其包括具有可变接受角的X射线准直器；以及使用X射线分析装置的方法。X射线分析装置包括位置敏感X射线检测器，并且X射线准直器布置在样品和位置敏感X射线检测器之间，以限制来自样品的X射线的轴向发散。
具有可变接受平行射线准直器分析装置

[发明专利]适应性强的X射线分析装置-CN202211053916.4在审
发明人： D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明涉及适应性强的X射线分析装置。X射线分析装置使用户能够执行多个X射线分析应用，以分析样品。该装置包括用于用X射线照射样品的X射线源，X射线源包括固体阳极和用于发射电子束的阴极。该装置还包括控制器和用于将电子束聚焦到阳极上的聚焦装置。控制器被配置为接收X射线分析应用信息，并基于X射线分析应用信息来控制X射线分析装置选择性地在第一X射线分析模式或第二X射线分析模式下操作。在第一X射线分析模式下，X射线源以第一操作功率操作，并且具有小于100μm的有效焦斑大小。在第二X射线分析模式下，X射线源以高于第一操作功率的第二操作功率操作，并且有效焦斑的面积大于在第一X射线分析模式下的有效焦斑的面积。
适应性射线分析装置

[发明专利]高分辨率X射线衍射方法和装置-CN201810190461.8有效
发明人： D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基;尤金·鲁维坎普 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2018-03-08 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了高分辨率X射线衍射方法和装置。用于高分辨率测量的X射线衍射装置将具有小于50的原子序数Z的靶的X射线源的使用与具有像素阵列的能量分辨X射线探测器以及用于从X射线源选择K‑β放射线并且用于将K‑β放射线反射到样品上(在此K‑β放射线被衍射到能量分辨X射线探测器上)的β放射线多层反射镜结合起来。样品可以具体地处于透射状态。样品可以是毛细管中的粉末样品。
高分辨率射线衍射方法装置

[发明专利]X射线射束整形装置和方法-CN202080027081.8在审
发明人：米伦·加特什基;亚历山大·哈尔陈科;D·贝克尔斯;尼古拉斯·诺伯格 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01N23/20008 文献下载
摘要：一种用在X射线分析设备(40)中的射束整形装置(10)。该射束整形装置处理来自X射线射束源(20)的输入射束(32)，并产生具有输出射束形状的输出射束(34)，用于辐照样本(112)，该样本由X射线分析设备的样本保持器(22)保持。根据样本(112)的倾斜角(χ)的改变来控制输出射束形状的移动，倾斜角由样本保持器(22)的倾斜位置来限定。
射线整形装置方法

[发明专利]定量X射线分析-基体厚度校正-CN201610119027.1有效
发明人：查拉兰波斯·扎尔卡达斯;亚历山大·哈尔陈科;彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼;米伦·加特什基;瓦尔瑟如斯·凡丹霍根霍夫;迪克·林凯珀 -专利权人：马尔文帕纳科公司
申请日： 2016-03-03 - 公布日： 2018-12-28 - 主分类号： G01B15/02 文献下载
摘要：本申请涉及定量X射线分析‑基体厚度校正。通过进行确定样本的元素成分的X射线荧光测量和通过测量处于能量E的X射线在没有偏转的情况下直接穿过样本透射的透射强度进行校正测量来实现定量X射线分析。通过以与样本的表面的入射角ψ₁的条件下将处于能量E的X射线从X射线源引导到样本并在相应于预先确定的组分的X射线衍射峰值的出射角ψ₂处使用X射线检测器测量在能量E处的衍射X射线的所测量的强度I_d(θ_fl)来在透射中进行X射线衍射测量。使用在X射线衍射测量中的所测量的X射线强度、校正测量和根据元素成分计算的样本的质量衰减系数及元素的质量衰减系数来得到基体校正的X射线强度。
定量射线分析基体厚度校正