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[发明专利]面向微纳粒度精密测量的光强自动调节系统及实现方法-CN202310908452.9在审
发明人：计子航;廉盟;汪歆若;张心怡;乔智发;邓孟超;曹暾 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供一种面向微纳粒度精密测量的光强自动调节系统及实现方法，属于纳米颗粒粒径检测技术领域。光强自动调节系统包括硬件和软件模块两部分：软件模块嵌入计算机中，包括顶层模块、时钟分频模块、求平均值模块、脉冲计数模块、激光器控制模块、串口通讯模块。硬件部分为光路系统，包括532.8nm激光器，TIME TAGGER流式时间数字转换器，由衰减片、光阑和反射镜系统组成的激光光路装置，光子计数探测器，开发板和RS232串口。本发明能有效的解决动态光散射系统中由于溶液粒径和浓度导致的散射光强变化问题，实现了光强自适应调节，使光子采样频率稳定，最终得到准确的粒径测量结果。
面向粒度精密测量自动调节系统实现方法

[发明专利]一种面向动态光散射测量的双分散系粒径精确反演算法-CN202211578474.5在审
发明人：廉盟;乔智发;曹暾;张心怡;邓孟超;苏莹;张静谧 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供一种面向动态光散射测量的双分散系粒径精确反演算法，属于纳米颗粒粒径检测技术领域。首先，通过对光电探测器采集到的散射光强数据进行自相关计算得到散射光强自相关函数；然后，对归一化光强自相关函数进行拟合处理，从而更加准确地获得衰减线宽系数；最后，通过Stokes‑Einstein公式得到双分散系颗粒粒径测量结果。本发明的双分散系粒度分Levenberg‑Marquardt动态光散射反演方法，克服累积法只能准确检测单分散系纳米颗粒粒度以及非负最小二乘法对于双分散系纳米颗粒粒径精度较低的问题。该方法引入了阻尼因子参数，提高了反演精度，同时在迭代初值的选取过程中更加接近衰减线宽系数的真实值，减少迭代次数，提高计算速度，从而得到稳定、高精度的反演结果。
一种面向动态散射测量分散粒径精确反演算法