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[发明专利]树脂组合物的固化物、层积体以及树脂组合物-CN201980022263.3有效
发明人： 中村浩一郎;平沼裕司 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： C08G65/18 文献下载
摘要：本发明的树脂组合物的固化物至少含有倍半硅氧烷。在将30℃～200℃下的该固化物的平均热膨胀系数表示为α1[K‑1]时，相对于350×10‑6[K‑1]以下的参照值α2，满足α1/α2≥10和(α1－α2)2×108≥0.4中的至少1个条件。在固化物中，将通过使用傅利叶变换红外分光光度计的全反射测定法确定的来自硅氧烷键的吸光度、来自烃基的吸光度、来自羟基的吸光度分别表示为Ia、Ib和Ic。此时，满足0.09≤Ia/Ib≤3.0和0.04≤Ic/Ib≤1.0的条件。
树脂组合固化层积以及

[发明专利]低折射率膜、层积体、光学元件、防风材料和显示装置-CN202180014243.9在审
发明人：日下哲;中村浩一郎;今井寿雄;田中裕之 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G02B1/111 文献下载
摘要：低折射率膜(10)至少具备第一层(11)和第二层(12)。第一层(11)与基材(20)相邻。低折射率膜(10)具有1.01以上1.30以下的折射率。第一层(11)和第二层(12)分别含有中空颗粒(13)和粘合剂(14)。第一层(11)例如满足下述(I)和(II)的条件中的至少一者。(I)第一层(11)的截面中，具有1000nm2以上的截面积的孔隙(15)的数密度ρv1为5/μm2以上100/μm2以下。(II)截面中的孔隙(15)的截面积相对于第一层(11)的截面的总面积之比为5％以上70％以下。
折射率层积光学元件防风材料显示装置

[发明专利]防反射膜、红外线截止滤波器以及透镜-CN202110217172.4有效
发明人： 中村浩一郎;日下哲 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G02B1/111 文献下载
摘要：本发明涉及防反射膜、红外线截止滤波器以及透镜。本发明的膜(1)具备中空粒子(10)和粘结剂(20)。中空粒子由具有1.15～2.70的折射率的材料形成。粘结剂(20)至少由聚倍半硅氧烷形成，并将中空粒子(10)粘结。膜(1)满足Ib/Ia≥0.7和Ib/Ic≥0.3的至少1个条件。Ia是由使用傅里叶变换红外分光光度计的全反射测定法决定的、来自未与硅原子直接键合的烃基的吸光度。Ib是来自硅原子与非反应性官能团的键的吸光度。Ic是来自硅原子与羟基的键的吸光度。
反射红外线截止滤波器以及透镜

[发明专利]两片罐的制造方法、罐体以及金属板-CN201980100276.8在审
发明人：福永稔;中村浩一郎;平野茂;谷贤明 -专利权人：大和制罐株式会社;日本制铁株式会社
申请日： 2019-09-13 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： B65D1/00 文献下载
摘要：两片罐(1)的罐体(11)是将圆形状的金属板(100)成形为覆盖层(140)为内表面的圆筒状而成，该金属板(100)具有设于钢的母材(101)上的100mg/m2以上1500mg/m2以下的Sn镀层(120)、设于Sn镀层(120)上的6mg/m2以上100mg/m2以下的Cr镀层(130)以及层压在Cr镀层(130)上且由热塑性树脂构成的覆盖层(140)，在母材(101)以及Sn镀层(120)之间具有Ni镀层(110)并且未进行热处理，或者在母材(101)上不具有Ni镀层(110)而进行了热处理。在将罐体(11)的圆筒状的壁部(22)的最薄部位的板厚设为Tw、将罐体(11)的底(21)的板厚设为Tb时，35％≤((Tb－Tw)/Tb)×100(％)≤60％。
两片罐制造方法以及金属板

[发明专利]劣化推定系统-CN202110354786.7在审
发明人：佐藤理江;长嶋玲;中村浩一郎;草柳贵志;王欣 -专利权人：大和制罐株式会社
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明的劣化推定系统具有高可靠性地推定在金属容器封入有内容物的产品的劣化。具有：预测模型，其是将通过对产品进行储藏试验而得到的数据作为教师数据进行了机器学习而成的；输入部，其输入用于劣化的推定的数据；以及输出部，其将根据输入至输入部的数据并利用预测模型求出的产品的劣化程度输出，教师数据包括：关于实际的金属容器的容器数据、关于封入实际的金属容器的内容物的内容物数据、关于储藏实际的产品的环境的环境数据、关于实际的产品所产生的劣化程度的劣化数据，向输入部输入的数据包括：关于推定劣化的对象产品的容器的容器数据、关于对象产品的内容物的内容物数据、关于预定有储藏对象产品的环境的环境数据。
推定系统

[发明专利]具有电磁波透射特性的光亮性颜料和包含该颜料的组合物以及涂装体-CN201780090046.9有效
发明人： 中村浩一郎 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： C09C1/30 文献下载
摘要：本发明提供一种能够兼顾电磁波透射性、和反射率高且色调为非彩色的外观的光亮性颜料。基于本发明的光亮性颜料具备片状玻璃(1)、以及在片状玻璃(1)上依次形成的氧化钛层(2)和银层(3)，用nm单位表示光学厚度时，片状玻璃(1)的光学厚度与氧化钛层(2)的光学厚度的乘积为61000以上且66000以下，银层(3)的物理厚度为35nm以上且55nm以下。
具有电磁波透射特性光亮颜料包含组合以及涂装体

[发明专利]膜、液态组合物、光学元件、以及摄像装置-CN201811590858.2有效
发明人： 中村浩一郎;日下哲 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G02B1/111 文献下载
摘要：本发明的发明名称为膜、液态组合物、光学元件、以及摄像装置。本发明的膜(1)具备中空粒子(10)和粘结剂(20)。中空粒子由具有1.15～2.70的折射率的材料形成。粘结剂(20)至少由聚倍半硅氧烷形成，并将中空粒子(10)粘结。膜(1)满足Ib/Ia≥0.7和Ib/Ic≥0.3的至少1个条件。Ia是由使用傅里叶变换红外分光光度计的全反射测定法决定的、来自未与硅原子直接键合的烃基的吸光度。Ib是来自硅原子与非反应性官能团的键的吸光度。Ic是来自硅原子与羟基的键的吸光度。
液态组合光学元件以及摄像装置

[发明专利]有害化合物的无害化方法及有机半导体元素化合物的制造方法-CN200980144265.6有效
发明人： 中村浩一郎 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2009-11-02 - 公布日： 2011-09-28 - 主分类号： C07F9/72 文献下载
摘要：本发明提供一种利用有机钴络合物使有害的砷、锑和硒化合物无害化的方法，该方法能够对成本方面进行改善。本发明涉及一种有害化合物的无害化方法，该方法包括：对含有钴作为中心金属并含有咕啉环作为配体的有机钴络合物、甲基供体、二氧化钛光催化剂和有害化合物进行光照射，从而使有害化合物甲基化，该有害化合物含有砷原子、锑原子或硒原子。本发明中，优选使有害化合物三甲基化。
有害化合物无害化方法有机半导体元素制造

[发明专利]有害化合物的无害化方法-CN200880118953.0无效
发明人： 中村浩一郎 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2008-10-29 - 公布日： 2010-11-10 - 主分类号： A62D3/30 文献下载
摘要：本发明的一个目的是提供一种使含砷等有害化合物有效无害化的有害化合物无害化的有益方法。本发明的有害化合物无害化的方法，其特征在于，甲基自由基及/或羧甲基自由基与含选自由砷、锑及硒组成的组中的至少一种元素的有害化合物接触而使上述有害化合物无害化。另外，本发明的有害化合物无害化的方法的优选实施方案，其特征在于，通过曝光产生自由基。另外，本发明的有害化合物无害化的方法的优选实施方案，其特征在于，自由基供给源是选自由醋酸、甲醇、乙醇、醋酐、丙酸、丁酸或甲酸组成的组中的至少一种。
有害化合物无害化方法

[发明专利]用于烷基化的组合物和通过使用该组合物将有害化合物解毒的方法-CN200780031728.9有效
发明人： 中村浩一郎;菱沼晶光;神谷晋司 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2007-07-26 - 公布日： 2009-11-18 - 主分类号： C07C391/00 文献下载
摘要：本发明的目的是提供一种有益的组合物以有效并且系统地将含有砷等的有害化合物解毒，和一种通过使用该组合物将有害化合物解毒的方法。根据本发明的用于烷基化的组合物特征在于该组合物包含钴络合物。根据本发明的将有害化合物解毒的方法特征在于在根据本发明的组合物的存在下通过有害化合物的烷基化将包含选自砷、锑和硒的至少一种元素的有害化合物解毒。
用于烷基化组合通过使用有害化合物解毒方法

[发明专利]甲基化合物的无害化方法-CN200780032829.8有效
发明人： 中村浩一郎;菱沼晶光;神谷晋司 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2007-11-28 - 公布日： 2009-09-23 - 主分类号： A62D3/30 文献下载
摘要：本发明的目的是提供有效和系统地将包含砷等的甲基化合物无害化的方法。根据本发明的将甲基化合物无害化的方法的特征在于，使有机卤化物与含有选自砷、锑和硒中的至少一种元素的甲基化合物反应，从而将该甲基化合物转变成较无害的物质。此外，在根据本发明的将甲基化合物无害化的方法的优选实施方案中，该方法的特征在于所述元素是砷。
甲基化合物无害化方法

[发明专利]甲基水合钴啉酸衍生物、烷基化组合物、以及通过使用该组合物对有害化合物解毒的方法-CN200780028217.1无效
发明人： 中村浩一郎;久枝良雄;潘玲 -专利权人：日本板硝子株式会社;国立大学法人九州大学
申请日： 2007-07-24 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： C07F15/06 文献下载
摘要：公开了用于对无机砷等解毒的烷基化组合物。还公开了使用所述组合物的安全和高效的解毒方法。具体地公开了其特征在于包含具有钴-碳键的有机金属络合物的烷基化组合物。另外具体地公开了其特征在于通过烷基化对包含选自砷、锑和硒的至少一种元素的有害化合物解毒的解毒方法。
甲基水合钴啉酸衍生物烷基化组合以及通过使用有害化合物解毒方法

[发明专利]蚀刻制品，生产它的模板结构及该模板结构的生产方法-CN200410011970.8无效
发明人： 中村浩一郎;山田健一;根本浩之 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2004-09-27 - 公布日： 2005-03-30 - 主分类号： C03C15/00 文献下载
摘要：本发明的模板结构按如下方法形成：在凹部具有预定剖面形状的凹部的成型模板中注入流动物质；固化流动物质；从成型模板分离该流动物质。成型模板表面的中心线平均粗糙度Ra不大于20nm，优选不大于8nm。与流动物质接触的成型模板部分的中心线平均粗糙度Ra也选择不大于20nm，优选不大于8nm。为生产这类成型模板，在玻璃表面通过化学蚀刻方法形成凹部时用于调整水溶液的水的比电阻率不小于13MΩ.cm。
蚀刻制品生产模板结构方法

[发明专利]光学元件的制造方法-CN02803812.6无效
发明人： 中村浩一郎;四方宽子;山本博章 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2002-10-21 - 公布日： 2004-03-31 - 主分类号： C09J183/02 文献下载
摘要：本发明提供使用粘接层不产生缝隙、调制也容易、有良好粘接强度的胶粘剂组合物粘接的光学元件。是将含有SiX₄¹(X¹代表水解性基)表示的硅烷化合物、或该硅烷化合物与烷氧基金属的组合物10～50摩尔％、PhSiX₃²(Ph代表苯基或置换苯基、X²代表水解性基)表示的硅烷化合物25～65摩尔％和(CH₃)₂SiX₂³(X³代表水解性基)表示的硅烷化合物25～65摩尔％的原溶液进行水解与脱水缩合制成的胶粘剂组合物，配置在光学零件与其他零件之间，然后加热粘接光学零件与其他零件制造光学元件的方法。
光学元件制造方法

[发明专利]光学粘结剂组合物及其光学装置-CN02801118.X无效
发明人： 中村浩一郎;石丸刚志 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2002-04-03 - 公布日： 2003-12-10 - 主分类号： C09J163/00 文献下载
摘要：一种光构件粘结用粘结剂，含有3～60％重量的环氧硅烷或者其水解缩聚物(A)、5～90％重量的粘度为2,000～5,000Pa·s的双酚型环氧树脂(B)、5～35％重量的酚醛树脂型环氧树脂(C)、3～30％重量由胺类形成的固化剂以及水和醇，该水和醇的量为所述环氧硅烷中能够水解的基团或者原子摩尔数的0～0.75倍。该组合物的耐湿性和耐热性优良，能减少固化时所产生的气泡，不会产生由气泡等造成的白色混浊等不足，适用于光构件的组装和粘结。
光学粘结组合及其装置

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