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[发明专利]用于电路用户指定局部区域的瞬态灵敏度分析的方法及装置-CN202211606915.8在审
发明人：马玉涛;张振中 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本公开涉及瞬态灵敏度分析。一种计算机实现的方法包括：接收由于多个电路参数的变化而引起的电路的用户指定局部区域中的瞬态灵敏度的查询；确定电路节点的数量和待分析的时间步长的数量；构建表示电路节点的数量和待分析的时间步长的数量的局部区域向量；使用局部区域向量、多个电路参数的变化和通过第一遍瞬态仿真获得的第一数据库来执行电路的第二遍灵敏度仿真；根据电路的第二遍灵敏度仿真记录由于多个电路参数的变化而引起的第二组电路解；以及确定第一组电路解与第二组电路解之间的偏差。
用于电路用户指定局部区域瞬态灵敏度分析方法装置

[发明专利]用于并行设计和工艺优化的方法及系统-CN202211594588.9在审
发明人：刘志宏;马玉涛 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本申请公开了用于并行设计和工艺优化的方法和系统。所公开的方法使得能够实现高效的并行设计和工艺优化(PDTO)，并且允许设计者签署技术开发或利用设计分析工具找到最佳设计点。该方法包括：基于技术规范和制造过程数据，从制造技术过程生成基线SPICE模型；将基线SPICE模型扩展到电路设计过程中的技术规范窗口的相应描述，其中，技术规范窗口描述器件模型参数的扩展范围；使用技术规范窗口提取目标SPICE模型；通过与制造技术过程并行地操作的电路设计过程使用目标SPICE模型来验证集成电路满足设计规范。
用于并行设计工艺优化方法系统

[发明专利]用于瞬态行为分析的系统和方法-CN202211594575.1在审
发明人：张振中;李志超;吴崎;方君;马玉涛 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本公开涉及在电路仿真中分析多个器件的瞬态行为。一种用于在电路仿真中分析多个器件的瞬态行为的系统，包括：存储器，被配置为存储要在多个器件之间共享的全局瞬态映射和一个或多个局部瞬态映射；以及一个或多个处理器，被配置为：将全局瞬态映射分割成多个区域，其中，多个区域中的每个区域支持多个器件的一个或多个瞬态行为分析；将一个或多个瞬态行为分析分配到相应的一个或多个计算线程中，其中，每个计算线程包括一个或多个计算任务；处理一个或多个计算线程以确定多个器件的瞬态行为；以及使用多个器件的瞬态行为来更新全局瞬态映射。
用于瞬态行为分析系统方法

[外观设计]带半导体器件模型关键电学参数通过率的图形用户界面的显示屏幕面板-CN202230545733.9有效
发明人：阎凤玉;王可亮;姚一;孙忠 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-08-19 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： 13-03 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：带半导体器件模型关键电学参数通过率的图形用户界面的显示屏幕面板。2.本外观设计产品的用途：用于运行程序，显示信息，比如半导体器件参数提取过程中显示仿真目标通过率。该显示屏幕面板可用于手机、平板电脑、笔记本电脑、台式机。3.本外观设计产品的设计要点：在于界面变化状态图7。4.最能表明设计要点的图片或照片：界面变化状态图7。5.显示屏幕面板为惯常设计，省略后视图;显示屏幕面板为惯常设计，省略左视图;显示屏幕面板为惯常设计，省略右视图;显示屏幕面板为惯常设计，省略俯视图;显示屏幕面板为惯常设计，省略仰视图。6.图形用户界面的用途：为提取半导体器件模型过程中显示仿真目标通过率。7.图形用户界面的人机交互方式：打开软件出现主视图，点击主视图左上角按键Load Parameter弹出加载模型文件窗口，如界面变化状态图1；选择模型文件，点击打开，进行加载，进入界面变化状态图2；在界面变化状态图2点击左上角按键Load Data弹出加载数据文件窗口，进入界面变化状态图3；选择数据文件，点击打开，进行加载，进入界面变化状态图4；点击界面变化状态图4左上角A部按钮打开spec window窗口，进入界面变化状态图5；点击界面变化状态图5spec window窗口右上角“柱状图”按钮，进入界面变化状态图6；双击界面变化状态图6中spec window窗口上方边框,该窗口会单独弹出，得到界面变化状态图7，点击窗口右上角“X”，会回到界面变化状态图6；在界面变化状态图6spec window窗口将鼠标放在对应框，点击即可显示相应的数据信息，点击界面变化状态图6右侧spec window 中“Rout@Vbb”页面跳转到界面变化状态图8；点击界面变化状态图6右侧spec window 中“Rout@Vb0”页面跳转到界面变化状态图9。
半导体器件模型关键电学参数通过图形用户界面显示屏幕面板

[发明专利]瞬态仿真波形存储方法、系统、设备及可读介质-CN202211417495.9有效
发明人：王祥凯;李义辉;方君 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-11-14 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G06F16/23 文献下载
摘要：本发明提供了一种瞬态仿真波形存储方法、系统、设备及可读介质。其中，该种瞬态仿真波形存储方法具体包括：通过选取适当的第一波形数据值作为基础参考点，获取基准斜率并沿着时间序列插入若干个基准数据生成基准数据集合，通过基准数据的数值与第一波形数据数值的比较，获取满足预设存储条件第二波形数据，对第二波形数据进行特征化处理，并编码压缩实现瞬态仿真波形的存储。通过本申请的技术方案在不影响波形存储精度的前提下，减小了仿真波形数据点的数量个数，减少仿真波形数据量，提高数据压缩率，进而提升集成电路中仿真波形数据的仿真速度。
瞬态仿真波形存储方法系统设备可读介质

[发明专利]晶体管级电路仿真的方法和系统-CN202111247569.4在审
发明人：方君;陈静;吴崎 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2021-10-26 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G06F30/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种用于对晶体管级电路仿真的方法和系统。所述方法包括：获取所述电路的描述文件，所述描述文件包括所述电路中器件和节点的信息；基于所述器件和所述节点的信息将所述电路划分为模拟分区和数字分区；为所述模拟分区建立第一仿真引擎，并且为所述数字分区建立与所述第一仿真引擎不同的第二仿真引擎；以及使用所述第一仿真引擎和所述第二仿真引擎分别对所述模拟分区和所述数字分区进行仿真。
晶体管电路仿真方法系统

[发明专利]基准电压扩展方法、系统、设备和计算机可读存储介质-CN202211157899.9在审
发明人：赵建颖;许伍福;李淼 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G05F1/46 文献下载
摘要：本发明提供了一种基准电压扩展方法、系统、设备和计算机可读存储介质，具体包括通过低温漂放大器和电阻网络实现电源轨下目标电压的输出。通过本申请提出的技术方案，通过构建三级电压调整电路，逐级对输出电压进行调整以满足目标电压需求；在进行调整电路构建的过程中，通过同相比例放大电路，转化电阻绝对值的温漂为电阻比例温漂，从而实现使用非低温漂器件即可实现精准的目标电压调压输出，实现成本低、输出精度高，具有可推广价值。
基准电压扩展方法系统设备计算机可读存储介质

[发明专利]集成电路器件模型参数提取的方法、设备及存储介质-CN202211156345.7在审
发明人：石凯 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/31 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路器件模型参数提取的方法、设备及存储介质，包括：提供针对集成电路器件的测试数据集及仿真数据集；提供设置界面包括数据检查目录和数据提取目录；用户对设置界面的数据检查目录进行设置；基于用户输入设置至少生成一个数据检查任务，并根据预存储的数据检查包对测试数据集及仿真数据集进行规则检查，自动标记，并生成一个新的目标数据集；用户对设置界面的数据提取目录进行设置，提取一个或多个新生成的目标数据集的参数；根据数据提取目录提取的参数进行建模。实现自动化的数据划分，能更精确的对数据进行划分，且提高数据质量，对于后续电路设计时的器件仿真数据的质量打下基础，确保仿真模拟的准确性。
集成电路器件模型参数提取方法设备存储介质

[发明专利]参数计算辅助方法、系统、设备及存储介质-CN202211157918.8在审
发明人：王可亮 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/31 文献下载
摘要：本发明公开了一种参数计算辅助方法、系统、设备及存储介质，方法包括：S1，接收三维测试数据集；S2，对集成电路器件的器件模型进行拟合时，根据测试数据组在可视化界面中以数据点位的形式绘制出关于电压‑电流‑电容的拟合曲线；S3，响应于可视化界面中配置有用户选择规则编辑框，用于输入可视化界面中对拟合曲线进行参数选择所需的选择操作算法；基于用户选择规则编辑框中配置有选择操作算法，在进行可视化界面中拟合曲线的选择操作时，选择区域内选中适配于选择操作规则的数据点位，用于计算器件模型的参数。本发明将复杂的人工选择或图形界面设置转换成简易的文本设置，方便使用且提高设置效率，提高对特殊功能支持的可拓展性。
参数计算辅助方法系统设备存储介质

[发明专利]信号路径自动提取方法、系统、设备和存储介质-CN202211158495.1在审
发明人：斯蒂芬·巴德尔;潘著;何召锋 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明提供了一种信号路径自动提取方法、系统、设备和存储介质，具体包括选取集成电路仿真过程中的若干目标节点，对目标节点执行仿真操作以得到对应的真值表，最后通过分析真值表以根据分析结果提取对应的信号路径。通过本申请提供的技术方案，能够为任何标准单元自动提取对应的信号路径，对于标准单元的功能无需任何预先获取步骤或是用户的预先设定，可应用范围广泛；在标准单元对应的信号路径的提取过程中，直接通过对真值表进行分析以获取，无需任何用户的输入，操作具有自主性和便利性，具有可推广价值。
信号路径自动提取方法系统设备存储介质

[发明专利]关键输出特性的定义方法、系统、设备和计算机可读存储介质-CN202211170617.9在审
发明人：徐俊义;李淼 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F30/32 文献下载
摘要：本发明提供了一种关键输出特性的定义方法、系统、设备和计算机可读存储介质，具体包括根据设定选择需要定义的关键输出特性，生成若干关联的中间变量，进而根据中间变量的赋值语句组成对关键输出特性的定义。通过本申请提出的技术方案，能够通过多个中间变量的赋值语句组合的形式实现对选定的关键输出特性的定义，在定义过程中，对于每个中间变量的赋值语句以及若干赋值语句间的组合支持复数运算、四则运算以及预定的功能函数，使得对于关键输出特性的定义更加灵活，能够兼容半导体器件模型提取的不同阶段，有效提升半导体器件的模型提取效率。
关键输出特性定义方法系统设备计算机可读存储介质

[发明专利]参数敏感性检查方法、系统、设备和计算机可读存储介质-CN202211158505.1在审
发明人：石凯;梁汉成;谷晓;李永胜 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：本发明提供了一种参数敏感性检查方法、系统、设备和计算机可读存储介质，具体包括根据用户指令的输入执行对应的仿真模拟操作以生成一组或若干组器件数据仿真结果，并基于器件数据仿真结果和用户指令生成对应的可视化检验图来执行所述参数敏感性检查。通过本申请提出的技术方案，将器件目标数据选取的多样化、示例数据以及模型参数的复杂性进行了提炼整合，简化了模型参数敏感性分析的复杂度，并通过可视化检验图的形式提升了参数敏感性分析的直观性。同时，本申请提供的技术方案支持多种不同的分析模式，实现了对于参数敏感性的多维度分析，能够通过对可视化检验图的分析反馈实现与电路器件模型参数提取的流程策略的有机结合，具有可推广价值。
参数敏感性检查方法系统设备计算机可读存储介质

[发明专利]应用于仿真电路的支路电流获取方法、系统、设备和计算机可读存储介质-CN202211157947.4在审
发明人：李义辉;方君 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06F30/31 文献下载
摘要：本发明提供了一种应用于仿真电路的支路电流获取方法、系统、设备和计算机可读存储介质，具体包括对仿真电路进行逐级递归分解，进而构建电流支路拓扑关系，并据此获取所需的支路电流。通过本申请提出的技术方案，通过构建电路端口导纳矩阵和电路支路拓扑关系的方式，利用矩阵向量乘积的方式实现对于支路电流的便捷化获取，一方面能够有效避免在各级电路支路电流获取过程中对于各个电子元器件的管脚电流进行重复计算，提高了对于支路电流进行获取的整体效率；另一方面使得在对仿真电路的支路电流进行计算获取的过程中，利用矩阵向量乘能够实现对于所有支路电流的计算，保证了对于计算机内存的访问是连续的，提高了内存访问效率，具有可推广价值。
应用于仿真电路支路电流获取方法系统设备计算机可读存储介质

[发明专利]标准单元库的特征提取的方法与系统-CN202110356996.X在审
发明人：潘著;何召锋;马玉涛 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2021-04-01 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本申请涉及一种用于标准单元库的特征提取的系统，该系统包括控制模块和由控制模块启动的多个仿真模块。其中，该控制模块被设置为接收并解析至少一个标准单元的特征提取任务，并基于该特征提取任务建立多个仿真子任务。多个仿真模块中的每一个均被设置为接收并执行由控制模块分配的仿真子任务，并将被分配的仿真子任务的执行结果发送至控制模块。此外，该控制模块被进一步设置为基于与仿真模块的通信信息判定仿真模块的运行状态。
标准单元特征提取方法系统

[发明专利]应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、系统、设备和计算机可读存储介质-CN202210485167.6在审
发明人：梁汉成;石凯;刘志宏 -专利权人： 上海概伦电子股份有限公司
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G06F30/367 文献下载
摘要：本发明提供了一种应用于集成电路器件的数据区域动态选取方法、系统、设备和计算机可读存储介质。通过本申请提出的技术方案，能够实现针对数据区域的动态化选取，去除了在数据区域选取过程中对于原始数据集的严格依赖，简化了针对不同集成电路器件进行数据区域选取的复杂度，提升了数据区域选取的通用性和复用性，适用范围广泛，具有可推广价值。
应用于集成电路器件数据区域动态选取方法系统设备计算机可读存储介质

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