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- [发明专利]电性测试设备-CN202210910695.1在审
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段雄斌;张利利;何选民
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深圳市标谱半导体股份有限公司
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2022-07-29
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2022-11-04
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G01R31/01
- 本申请属于电性测试技术领域，尤其涉及一种电性测试设备，该电性测试设备，包括机架、输送装置、上料装置、测试装置和下料装置，输送装置包括驱动组件和转盘，驱动组件安装于机架上，驱动组件与转盘驱动连接，并能够驱动转盘转动；转盘上开设有多个用于容纳电子元器件的容纳孔；上料装置内形成有多个上料通道，各上料通道的出料口分别与各容纳孔一一对应连通；测试装置包括多个测试件，各测试件分别与各容纳孔一一对应设置，并能够与对应的容纳孔内的电子元器件的引脚接触；下料装置用于将测试完成后的电子元器件从容纳孔内排出。在大批量测试时，可减少电性测试设备数量，从而减少设备占地和人员配置，进而减少测试成本。
- 测试设备
- [发明专利]一种触摸功能产品检测装置及检测方法-CN202010153767.3有效
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付嘉欣
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东莞市和康轩电子科技有限公司
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2020-03-07
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2022-11-04
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G01R31/01
- 本发明公开了一种触摸功能产品检测装置，包括：信号处理器、产品模具、以及用于触接产品的信号输出端的探测针；探测针与信号处理器连接；对应产品模具设有将产品定位在产品模具中的上盖板，于上盖板上对应产品的触摸传感位设有导电的模拟触摸组件。本发明还公开了一种触摸功能产品的检测方法。本发明机构设计合理巧妙，结构简单、模块化设计、检测方法简易，通过模拟触摸组件代替人手作业可消除人体电容量的差异对产品产生的信号影响，确保被测试产品信号稳定和灵敏度一致性良好，节省成本。同时只需检测一个参数就可以实现对产品良品与否的判断，大大简化了算法，提高了测试效率，适用于大规模量产产品的检验检测，提升生产效率。
- 一种触摸功能产品检测装置方法
- [发明专利]一种变频器测试系统及变频器测试方法-CN202210680674.5在审
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林石磊;曹杏云
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石家庄开宇工控设备有限公司
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2022-06-16
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2022-11-01
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G01R31/01
- 本发明公开了一种变频器测试系统，包括变频器测试模块、数据获取模块、处理器、控制器、压力调节模块、通信模块、报警模块、后台管理模块、数据储存模块、分析报告生成模块，所述变频器测试模块与数据获取模块连接，所述数据获取模块与处理器连接，所述处理器与控制器连接，所述控制器与压力调节模块连接，所述压力调节模块与变频器测试模块连接，所述控制器分别与报警模块、通信模块、分析报告生成模块连接，所述通信模块与后台管理模块连接，所述报警模块和分析报告生成模块分别通过通信模块与后台管理模块连接，所述数据储存模块分别与数据获取模块和分析报告生成模块连接。本发明能够便于对变频器进行测试。
- 一种变频器测试系统方法
- [发明专利]一种电气自动化的检测装置-CN201911413248.X有效
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汪继锋
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昆山准格精密机械有限公司
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2019-12-31
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2022-10-28
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G01R31/01
- 本发明提供了一种电气自动化的检测装置，涉及电气自动化技术领域，包括装置主体、导流板和支撑架，装置主体的顶端中部设置有第一传送带，装置主体的右侧固定连接有导流板。本发明中，通过安装有导流卡板，当对不同大小的电子配件进行检测时，电子配件容易分别滑落至第一传送带不同位置导致夹板对电子配件固定检测时容易脱落以及损坏，而电子配件在通过导流板滑落至第一传送带时，工作人员可以松动卡栓使导流卡板沿着卡槽滑动进行调节两根导流卡板之间的间距，达到可以根据不同大小的电子配件有效的导流至第一传送带上表面中部，且因导流卡板能够使电子配件相对水平滑轮至第一传送带，便于夹板对电子配件固定检测。
- 一种电气自动化检测装置
- [发明专利]一种ID检测装置-CN202210955524.0在审
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冯健;黄传兵;殷国辉
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中山市美格电子科技有限公司
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2022-08-10
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2022-10-21
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G01R31/01
- 本发明公开了一种ID检测装置，所述ID检测装置包括管芯、检测仪和检测设备，所述检测设备包括工作台、下夹具单元和检测头，所述检测仪与检测头电性连接，所述管芯包括位于中部的阳极部和位于两端的阴极部和能量输出部，所述阴极部的前端设有引线，下夹具单元固定在工作台上，所述管芯卧式放置在下夹具单元上，所述检测头通过升降方式与引线的环体相接触和脱离。本发明通过设置双工位电流测量仪检测管芯灯丝的电性性能，同时，将管芯卧式放置在下夹具单元上，从而使探针与引线有更大的接触面积，从而提高检测的有效性和准确性。
- 一种id检测装置
- [发明专利]可靠性检测方法及装置-CN202211049774.4在审
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蒋昊
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上海华力微电子有限公司
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2022-08-30
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2022-10-18
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G01R31/01
- 本发明提供的一种可靠性检测方法及装置中，由于同时给所有待检测半导体结构同时施加持续增大的第一电压，总电流发生突变时，说明至少一个待检测半导体结构被击穿；之后对每个待检测半导体结构施加固定的第二电压并检测流经每个待检测半导体结构的子电流，并根据该子电流的大小挑出击穿的待检测半导体结构，并对剩下的待检测半导体结构重复进行上述检测直至所有所述待检测半导体结构均被击穿完成所有检测。如此，可只采用一个所述供电设备和一个电流检测设备进行检测，节省了成本且减小了检测设备的体积。
- 可靠性检测方法装置
- [实用新型]一种样品芯片的电流测试系统-CN202220982762.6有效
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陈尚立
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深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
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2022-04-25
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2022-10-18
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G01R31/01
- 本实用新型实施例公开了一种样品芯片的电流测试系统，该系统包括：主控制终端、与主控制终端通信连接的级联单元以及与级联单元通信连接的若干个测试单元；其中，主控制终端用于下发采样指令和对采样电流进行数据处理；级联单元包括若干个子控制器；若干个子控制器级联连接以扩展测试通道的数量；每个测试单元具有多条相互独立的测试通道，用于获取位于测试通道的样品芯片的采样电流；其中，主控制终端下发的采样指令经由所述级联单元传递至对应的测试单元；采样电流经由级联单元传递至主控制终端进行数据处理。通过上述方式，本实用新型能够在烧录阶段批量测试样品芯片的功耗，避免了电流超标的不良样品芯片进入下一生产阶段，降低了返工成本。
- 一种样品芯片电流测试系统
- [实用新型]一种电位器检查装置-CN202221108975.2有效
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周正军
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成都国盛科技有限公司
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2022-05-10
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2022-10-14
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G01R31/01
- 本实用新型提出了一种电位器检查装置，包括基座以及设置在基座上的进料机构，所述基座上设有用于电位器滑动的导向通道；所述基座上设有用于推动电位器移动到所述导向通道的第一推动机构，以及用于推动电位器在所述导向通道内移动的第二推动机构；所述基座上设有用于对所述导向通道上的电位器进行通电检测的检测机构；当电位器检测合格，则所述第二推动机构推动电位器移动到包装入库装置；当电位器检测不合格，则所述第二推动机构推动电位器移动到所述导向通道上的出料位置；所述基座上设有位于出料位置处并用于吹出电位器的吹风机构；改善了现有技术中采用人工方式进行电位器检测，存在检测效率低的情况。
- 一种电位器检查装置
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