专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种多模式原子力显微镜-CN200920175591.0无效
  • 胡志强;罗先照 - 苏州海兹思纳米科技有限公司
  • 2009-08-24 - 2010-05-26 - G01N13/16
  • 本实用新型涉及一种多模式原子力显微镜,包括AFM主机、电子控制系统和计算机系统,所述AFM主机通过电子控制系统连接计算机系统,所述AFM主机包括AFM探针头部和AFM基座,其中AFM探针头部一侧中下部靠近边缘处设有探针模块,AFM探针头部正下方设有AFM基座,AFM基座包括上基座和下基座,上基座与下基座通过三个圆柱形部件相连,所述上基座中部设有扫描器,扫描器下方对称设有精密二维调节装置,扫描器两侧对称设有粗调驱动装置,所述粗调驱动装置穿过所述上基座。本实用新型的有益效果为:操作容易,为目前研究纳米科技及材料分析的最重要工具之一;功能超过以往显微镜技术。
  • 一种模式原子显微镜
  • [发明专利]一种真空原子力显微镜及其使用方法-CN200910030522.5有效
  • 秦华;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科 - 苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  • 2009-04-14 - 2010-01-13 - G01N13/16
  • 本发明公开了一种真空原子力显微镜及其使用方法,属于微观形貌检测设备领域,其包括电子束发射装置、二次电子探测器、带悬臂梁的探针、压电陶瓷扫描器和反馈控制器。工作时,将电子束照射于探针悬臂梁上,由于探针与样品原子之间的作用力而引起悬臂梁的形变,将产生二次电子信号的变化,通过对该信号进行反馈可控制针尖和样品之间处于恒定作用力,针尖在样品表面逐点扫描,可对样品表面形貌成像。本发明无需引入目前常用的光杠杆系统,克服了常规原子力显微镜应用于真空环境下带来的设计困难,综合两种纳米材料表征手段即原子力显微镜和电子显微镜的优势,可实现对材料从毫米尺度到亚纳米尺度精度的连续测量。
  • 一种真空原子显微镜及其使用方法
  • [发明专利]大样品大范围高分辨原子力显微检测方法及装置-CN200910100818.X无效
  • 张冬仙;谢志刚;章海军 - 浙江大学
  • 2009-07-13 - 2009-12-16 - G01N13/16
  • 本发明公开了一种大样品大范围高分辨原子力显微检测方法及装置。采用压电陶瓷探头扫描和步进电机大范围移动相结合的方法,同时设计了开放式的样品台,实现大型超精密工件的微纳米检测。它具有激光器、光路跟踪透镜、压电陶瓷、微悬臂探针及光电探测元件组成的大范围高分辨扫描探头系统和对大尺寸样品进行大范围移动的X、Y向步进电控平移台以及光学平台、扫描成像及反馈控制系统。本发明的优点是克服了常规AFM仅适用于小样品的小范围检测的局限性,设计了简单实用的透镜系统解决探针大范围扫描时的光路跟踪问题,采用开放式的样品台和二维步进电机,可对大型超精密工件样品,在保持AFM的超高分辨率下实现任意区域大范围扫描检测。
  • 样品范围分辨原子显微检测方法装置
  • [发明专利]一种评估Ⅲ族氮化物单晶表面位错的检测方法-CN200910025456.2无效
  • 刘争晖;钟海舰;徐科;王明月 - 苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  • 2009-03-05 - 2009-12-09 - G01N13/16
  • 本发明公开了一种通过原子力显微镜精确定位测定III族氮化物单晶表面位错类型并统计不同类型位错密度的检测方法,属于半导体材料质检领域。其目的是通过标记检测区域,利用原子力显微镜对标记区域表面形貌进行测试,然后将样品进行多次腐蚀,并在每次腐蚀后用原子力显微镜对标记的同一检测区域进行重复测试,多次腐蚀和测试后统计得到每个腐蚀位错坑的腐蚀速率,判定对应的位错类型,进而统计各类型位错的密度。本发明突破传统透射电子显微镜的位错检测方法,制样方法简单,位错类型判定准确高效,不仅可用于工业上各类半导体材料的质量检测,促进III族氮化物基光电器件在光电产业的发展,也能应用于关于薄膜材料位错腐蚀动力学的科学研究。
  • 一种评估氮化物表面检测方法
  • [发明专利]大气和液相通用的原子力显微镜探针架-样品池装置-CN200910038051.2无效
  • 吴浚瀚 - 北京本原纳米仪器有限公司
  • 2009-03-20 - 2009-11-18 - G01N13/16
  • 本发明提供一种适用于不同环境下使用的原子力显微镜探针架-样品池装置,包括样品池、探针架及探针,探针架包括盖板及由透明平板一、透明平板二所组成的窗口,探针悬挂设置于盖板的下方并由弹片顶装于盖板的锲口处,透明平板一、透明平板二分别垂直于打到探针的入射激光光束和探针的反射激光光束,样品池两侧边分别设有可与导液管相接的进液口和排液口,本发明设计合理,实用性强,可在不更换探针架和探针的情况下,方便地改变样品的环境,对样品进行实时原位的检测,在电化学、生命科学和界面相关领域具有重要的应用前景。而且,代替了原来需要分别实现大气和液相两套装置,有效降低仪器成本,大大提高了经济效益。
  • 大气相通原子显微镜探针样品装置
  • [发明专利]在计量型原子力显微镜上增加力曲线功能模块的方法-CN200910068885.8有效
  • 栗大超;邱晗;徐临燕;傅星;胡小唐 - 天津大学
  • 2009-05-15 - 2009-10-28 - G01N13/16
  • 一种在计量型原子力显微镜上增加力曲线功能模块的方法,操作计量型原子力显微镜进入正常扫描模式,设置扫描范围为零并关闭PI反馈;检测出控制压电陶瓷Z向位移的控制线,将该控制线连接到双选开关上;利用第2步骤的双选开关切断原子力显微镜内部对压电陶瓷Z向位置的控制,使压电陶瓷Z向控制线与外部信号发生器相连接;调节信号发生器输出波形与电压,将输出信号连接在压电陶瓷放大器上,使该信号所控制的压电陶瓷Z向位置在可用范围内;在控制压电陶瓷Z向位移控制线与双选开关连接的切换端口处连接缓冲电路;存储压电陶瓷位置数据及对应的压电陶瓷端部的微探针针尖偏转数据,绘制力曲线图。本发明降低了制样要求,增加了力曲线图形的可靠性和准确性。
  • 计量原子显微镜增加曲线功能模块方法
  • [实用新型]针尖扫描式原子力显微镜的光束跟踪装置-CN200820155744.0无效
  • 储敏;徐文东 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2008-11-21 - 2009-10-07 - G01N13/16
  • 一种针尖扫描式原子力显微镜的光束跟踪装置,由分立的激光光源模块、扫描模块和探测模块组成,所述的激光光源模块包括激光器和准直透镜,所述扫描模块包括z扫描器、xy扫描器、小孔光阑、物镜和微悬臂探针,所述的z扫描器和xy扫描器构成扫描器,所述小孔光阑位于所述的z扫描器的顶端中心,所述物镜固定在所述的z扫描器的底端中央,所述微悬臂探针通过连接件固定在所述的z扫描器的底端,而且所述的微悬臂探针的针尖之背的一固定点位于所述物镜的焦点;所述探测模块包括成像透镜、光电探测器及其三维位置调整件构成,所述成像透镜位于所述的微悬臂探针的针尖之背的反射光路上,所述的光电探测器置于所述成像透镜的像方焦平面上。
  • 针尖扫描原子显微镜光束跟踪装置
  • [发明专利]一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法-CN200810246534.7无效
  • 钱建强;刘文良;李渊;李英姿 - 北京航空航天大学
  • 2008-12-29 - 2009-05-27 - G01N13/16
  • 本发明公开了一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像后,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进进行二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法可以使原子力显微镜实现连续自动成像。
  • 一种适用于原子显微镜连续成像自动选区方法
  • [发明专利]基于原子力显微镜的自动化DNA分子操纵方法-CN200810204393.2有效
  • 龙飞;吕鸣;张福春;孙洁林;胡钧 - 上海交通大学
  • 2008-12-11 - 2009-05-20 - G01N13/16
  • 本发明涉及的是一种DNA分子技术领域的基于原子力显微镜技术的自动化DNA分子操纵方法,采用动态/静态混合模式操纵DNA分子。成像时采用动态模式,操纵时通过控制扫描管下降一定距离,使针尖振幅减小为零,从而获得足够的操纵力,操纵之前计算当前操纵范围的表面倾斜,并在操纵过程中,让针尖的移动始终平行于样品表面。然后基于热漂移变化缓慢的性质,采用图像配准的方法,通过计算连续两幅扫描图像之间的差异,获取当前操纵环境下热漂移大小,并对针尖位移进行补偿,提高操纵精度。最后通过设计针尖移动路径,实现自动化的DNA分子切割分离和拾取操纵。本发明显著提高了DNA分子纳米操纵的效率,提高了定位操纵的精度。
  • 基于原子显微镜自动化dna分子操纵方法

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