专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种中子响应的确定方法-CN202211234676.8在审
  • 李立华;徐新宇;李世垚;李玮;刘蕴韬 - 中国原子能科学研究院
  • 2022-10-10 - 2023-03-07 - G01T1/29
  • 本申请实施例公开了一种中子响应的确定方法,该方法包括:获取待确定中子响应的中子,基于中子确定中子的平均径迹长度,获取平均径迹长度对应中子的目标能量范围;获取中子和同位素对应的目标截面数据;确定目标能量范围中的最大能量值和最小能量值;基于最大能量值、最小能量值、平均径迹长度和目标截面数据,确定中子响应。通过确定中子的平均径迹长度,获取中子和与中子发生核反应的同位素的目标截面数据,并结合最大能量值和最小能量值,可以确定出中子响应,进一步地,根据中子响应,获得准确的中子的率,从而基于中子的率确定中子测量设备对能量和响应的标定
  • 一种中子响应确定方法
  • [发明专利]一种Li-6原子核数目的确定方法及确定系统-CN202110895874.8在审
  • 李立华;李玮;刘蕴韬 - 中国原子能科学研究院
  • 2021-08-05 - 2021-12-17 - G01T1/185
  • 本发明提供一种Li‑6原子核数目的确定方法及确定系统,所述方法包括利用U靶U同位素原子核已精确测量的U‑235裂变电离室,在相同中子标准场(如14.8MeV单中子场)、相同位置获得U‑235裂变电离室的裂变碎片脉冲幅度和Li‑6电离室核反应产物脉冲幅度,推算出Li‑6电离室的响应,根据靶物质中Li‑6原子核数量和响应的一一对应关系,计算不同Li‑6原子核数量的电离室的响应,获得响应和Li‑6原子核数量的曲线,确定Li‑6电离室靶物质中Li‑6原子核数量,定量好的Li‑6电离室可用于1eV~100keV区的中子(率)的测量。
  • 一种li原子核目的确定方法系统
  • [发明专利]一种1MeV以上单中子率的测量方法-CN202111368175.4在审
  • 李立华;李玮;段君仪;夏莉;刘蕴韬 - 中国原子能科学研究院
  • 2021-11-18 - 2022-03-15 - G01T3/00
  • 本申请实施例公开了一种1MeV以上单中子率的测量方法,涉及中子测量领域,使测量结果更加准确同时减少了测量中子率的时间。该1MeV以上单中子率的测量方法包括如下步骤,预设中子源和裂变电离室的距离,计算裂变电离室对单中子源的响应参数;实验获得裂变碎片脉冲幅度,根据阈上裂变碎片计数率、阈下裂变碎片计数修正因子、U靶自吸收修正因子、裂变电离室对单中子源的响应参数获得单中子源强;根据获得的单中子源强及相应的中子角分布获得待校准中子测量设备预放置位置处中子率约定真值。本申请的1MeV以上单中子率的测量方法用于测量中子率。
  • 一种mev以上中子注量率测量方法
  • [发明专利]一种用于X光机能测量的限束调节装置-CN202211434469.7在审
  • 赵瑞;吴金杰;文玉琴;吕雅竹 - 中国计量科学研究院
  • 2022-11-16 - 2023-03-14 - G01T7/00
  • 本发明涉及X光机技术领域,具体地说是一种用于X光机能测量的限束调节装置,包括光阑与三维调节平台,三维调节平台包括底座、探测器固定装置、光阑固定装置和光阑旋转装置,将探测器和限束光阑作为一个整体,通过高精度三维调节装置实现光路、探测器和限束光阑的准直,通过改变限束光阑孔径大小调节X射线进入到探测器晶体的强度,降低死时间,提高探测效率和准确测量X射线,解决了目前对于高通量X射线光机的准确测量问题,为测量得到的脉冲高度提供基础
  • 一种用于机能测量调节装置

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